[發(fā)明專利]一種可高精度測量小熱導率材料的界面接觸熱阻的裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210293230.6 | 申請日: | 2022-03-23 |
| 公開(公告)號: | CN115032228A | 公開(公告)日: | 2022-09-09 |
| 發(fā)明(設計)人: | 孟兆明;曹安;嚴睿豪;黃宇森;李文哲;姜和睿;孫中寧;丁銘 | 申請(專利權)人: | 哈爾濱工程大學 |
| 主分類號: | G01N25/20 | 分類號: | G01N25/20;G01N35/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 150001 黑龍江省哈爾濱市南崗區(qū)*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 高精度 測量 小熱導率 材料 界面 接觸 裝置 | ||
1.一種可高精度測量小熱導率材料的界面接觸熱阻的裝置,其特征在于:包括隔離罩(1)、保溫箱體(2)、通氣口(101)、臺面板(607)、試件部分、加熱系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)和加壓系統(tǒng);
所述隔離罩(1)內(nèi)放置測試裝置主體,隔離罩(1)的上、下對角位置各設1個通氣口(101),通過通氣口(101)對隔離罩(1)抽真空或置換實驗氣體環(huán)境,進行不同氣體環(huán)境下的實驗;
所述臺面板(607)安裝在隔離罩(1)內(nèi)靠近底部;
所述保溫箱體(2)位于臺面板(607)上方,包括保溫底座(201)、保溫底座蓋(202)和保溫耳室(203);所述保溫底座(201)與保溫底座蓋(202)構成矩形密閉承壓金屬盒,金屬盒內(nèi)設有支撐保溫底座蓋(202)受載荷的承壓柱,金屬盒內(nèi)其余空間填滿氣凝膠隔熱氈,試件部分位于保溫底座蓋(202)上,保溫耳室(203)為兩個半圓形金屬絲架,位于溫底座蓋(202)上;
所述試件部分包括熱端試件(301)和冷端試件(302);所述熱端試件(301)為圓心所在軸線鏤空出一個小半圓柱體卡槽后的半圓柱實體;冷端試件(302)為半圓柱殼體,冷端試件(302)與熱端試件(301)的長度相等,冷端試件(302)內(nèi)徑與熱端試件(301)的外徑相等,冷端試件(302)包裹在熱端試件(301)上,兩個保溫耳室(203)位于試件部分兩端的半圓端面處;
所述加熱系統(tǒng)包括硅碳棒(401);所述硅碳棒(401)安裝在保溫底座蓋(202)上;
所述冷卻系統(tǒng)包括矩形冷卻通道(505);冷卻系統(tǒng)部分安裝在隔離罩(1)外部,位于隔離罩(1)內(nèi)的部分為矩形冷卻通道(505),并位于保溫箱體(2)和臺面板(607)之間;
所述加壓系統(tǒng)包括控制部分和多根絕熱加壓桿(601)組成的加壓部分,加壓部分位于隔離罩(1)內(nèi),與冷端試件(302)的外曲面連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種可高精度測量小熱導率材料的界面接觸熱阻的裝置,其特征在于:所述保溫底座蓋(202)上設有內(nèi)置硅碳棒(401)的貫通卡槽(204)和試件定位卡槽(205);保溫底座蓋(202)將絕熱加壓桿(601)加載到試件部分上的載荷傳遞給矩形冷卻通道(501)和臺面板(607),對硅碳棒(401)起到保護作用,使硅碳棒(401)在任何實驗載荷工況下都無受壓破損的風險;貫通卡槽(204)的軸線與保溫底座蓋(202)上表面持平,卡槽的內(nèi)徑等于加熱所用硅碳棒(401)的直徑;定位卡槽(205)可使試件放到保溫底座蓋(202)上時試件的軸線與貫通卡槽(204)的軸線重合;
所述保溫耳室(203)內(nèi)徑與冷端試件(302)外徑相等,保溫耳室(203)與試件部分的端面之間填充多層氣凝膠隔熱氈,兩個保溫耳室(203)之間由多根金屬絲連接,緊固連接金屬絲使隔熱氈緊貼試件部分半圓端面。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種可高精度測量小熱導率材料的界面接觸熱阻的裝置,其特征在于:所述試件部分還包括熱電偶(303)和溫度采集系統(tǒng)(304);冷端試件(302)的內(nèi)曲面與熱端試件(301)的外曲面的結合面為所需測試接觸熱阻的接觸界面;熱端試件(301)的材料熱導率和冷端試件(302)的材料熱導率可相同,也可互不相同;熱端試件(301)的外曲面表面粗糙度和冷端試件(302)的內(nèi)曲面表面粗糙度可相同,也可互不相同;熱電偶(303)一端連接在冷端試件(302)和熱端試件(301)上,另一端與溫度采集系統(tǒng)(304)連接;熱電偶(303)測點合理布置在接觸界面附近試件的不同軸向深度、不同徑向深度處上;根據(jù)試件同一徑向深度不同軸向深度處測得的溫度,可選定熱流沿試件的徑向方向呈一維傳遞的測溫區(qū)域,該區(qū)域內(nèi)各測點的最大溫差不超過1℃;選定的測溫區(qū)域所對應的試件接合面面積即為測量接觸熱阻所需的接觸界面面積;根據(jù)在選定的測溫區(qū)域測得試件的不同徑向深度處的溫度,由一維導熱法可求得熱端試件(301)和冷端試件(302)間的接觸熱阻。
4.根據(jù)權利要求1所述的一種可高精度測量小熱導率材料的界面接觸熱阻的裝置,其特征在于:所述加熱系統(tǒng)還包括溫控箱(402);硅碳棒(401)安裝在保溫底座蓋(202)上的貫通卡槽(204)內(nèi);硅碳棒(401)和溫控箱(402)連接,通過溫控箱(402)調(diào)節(jié)硅碳棒(401)的加熱功率,可做不同溫度工況下的實驗。
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