[發明專利]一種厚層灰巖覆蓋區隱伏花崗巖體示蹤的方法

在審

• 申請號: 202210284134.5
• 申請日: 2022-03-22
• 公開（公告）號: CN114705830A
• 公開（公告）日: 2022-07-05
• 發明（設計）人: 劉飚;戴前偉;宗琦
• 申請（專利權）人: 中南大學
• 主分類號: G01N33/24
• 分類號: G01N33/24;G01N27/626;G01N23/2252;G01B7/26
• 代理公司: 長沙軒榮專利代理有限公司 43235
• 代理人: 汪金連

本發明提供了一種厚層灰巖覆蓋區隱伏花崗巖體示蹤的方法，包括如下步驟：S1:首先在厚層灰巖覆蓋區采集不同類型的方解石礦物；S2:對方解石開展顯微鑒定與LA?ICP?MS含礦元素和稀土元素分析；S3:將方解石磨成粉末，開展C?O同位素組成分析；S4:根據方解石的含礦元素含量、稀土配分型式、δ¹³C_PDB與δ¹⁸O_SMOW值判別深部是否存在巖漿活動；S5:通過方解石U?Pb定年，精確厘定深部巖漿活動的時代；S6:采用廣域電磁測深與面分析方法探測深部巖體的空間形態。本發明可以有效判定厚層灰巖覆蓋區深部有無巖漿巖活動、可以準確約束深部巖漿巖侵位的時間、有效反演出深部高阻體的形態等優點。

技術領域

本發明涉及厚層灰巖覆蓋區隱伏花崗巖體研究領域，特別涉及一種厚層灰巖覆蓋區隱伏花崗巖體示蹤的方法。

背景技術

目前灰巖覆蓋區最常用的隱伏花崗巖示蹤方法為地球物理方法或者地球化學示蹤法，分為重力法、雙頻激電法，這些方法均存在一定的缺陷：1)重力法在巖體分布范圍較小或者產狀較陡時，產生的重力差異是非常小的；2)花崗巖接觸帶上有大面積金屬成礦，也會產生綜合效應，無法精確識別；3)而傳統雙頻激電法由于灰巖本身是低阻體且產狀是多變的，所以探測深度是有限的，且存在多解性。

目前地球化學示蹤法主要為對地表的巖枝與巖脈開展元素地球化學與同位素地球化學示蹤深部巖體或巖基，也同樣存在一些問題：1)厚層灰巖覆蓋區使得地表與淺部巖脈或巖枝缺失，難以獲得研究樣品；2)地球化學示蹤方法無法對巖體形態、規模以及埋深做出預測。

深部巖漿巖出溶的熱液流體可以沿著斷層運移至淺部結晶，當斷層發育時，熱液運移距離要比巖漿侵位遠得多。方解石作為常見的脈石礦物，往往大量出露地表，以不同產狀產出于斷層、地層、巖體以及礦體中。以地表斷層中方解石作為研究對象，通過已有研究方法，能夠判斷覆蓋區深部是否存在巖漿巖活動，且可以精確厘定深部巖漿活動的時代。結合廣域電磁測深技術，可對覆蓋區深部巖漿巖賦存位置及形態進行大致判斷。

發明內容

為了解決現有技術中上述技術問題，本發明提供了一種厚層灰巖覆蓋區隱伏花崗巖體示蹤的方法。

為了達到上述目的，本發明的實施例提供了一種厚層灰巖覆蓋區隱伏花崗巖體示蹤的方法，所述方法包括如下步驟：

S1:在厚層灰巖覆蓋區采集不同類型的方解石礦物；

S2:對方解石開展顯微鑒定與LA-ICP-MS稀土元素分析；

S3:將方解石磨成粉末，開展C-O同位素組成分析；

S4:根據方解石的稀土配分型式、δ¹³C_PDB與δ¹⁸O_SMOW值判別深部是否存在巖漿活動；

S5:通過方解石U-Pb定年，精確厘定深部巖漿活動的時代；

S6:采用廣域電磁測深與面分析方法探測深部巖體的空間形態。

進一步的，所述步驟S1具體為：通過野外作業，在厚層灰巖覆蓋區采集不同類型的方解石礦物，按照不同指標區分方解石不同類型，具有如下不同類型：方解石顏色分為乳白色、粉紅色、肉紅色、黑色；顆粒大小分為細粒和粗粒；產出形狀分為脈狀或團塊狀；產出位置分布在圍巖中、巖體中、礦體中。