[發明專利]一種集成光波導調制器的壓力測試機及測試方法

有效

• 申請號: 202210274585.0
• 申請日: 2022-03-21
• 公開（公告）號: CN114354037B
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發明（設計）人: 向美華;黃星武
• 申請（專利權）人: 江蘇浦丹光電技術有限公司
• 主分類號: G01L1/24
• 分類號: G01L1/24;G01L11/02
• 代理公司: 北京天盾知識產權代理有限公司 11421
• 代理人: 李新林

本發明公開了一種集成光波導調制器的壓力測試機及測試方法，包括機體，所述機體內設有測試腔，且所述測試腔的下側面上左右滑動連接有測試塊，所述測試塊內設有開口向上的內槽，且所述內槽的前后側面內轉動連接有承載軸，所述承載軸上固設有承載板，本發明能夠對調制器進行正面和側面的擠壓測試，以檢測其外殼強度；本發明能夠對調制器施加震蕩，用以檢測其處于震蕩環境下是否會失效，并且本發明能夠對震蕩幅度進行調節；本發明能夠使位于其內的調制器處于低壓狀態，以檢驗其能夠于高原等低壓地區穩定工作；本發明能夠拉扯連接于調制器上的尾纖，用以檢驗其尾纖的連接強度。

技術領域

本發明涉及傳感器技術領域，尤其涉及一種集成光波導調制器的壓力測試機及測試方法。

背景技術

集成光波導調制器具有起偏與檢偏、分束與合束以及電光相位調制等功能，其具有全溫范圍內具有插入損耗低、偏振消光比高、電光相位調制線性度高的特點。

目前市面上尚未有專門用于該設備的壓力測試機，這使得在產線上該種產品難以進行抽樣質檢，這會使其品控難以把握，且使得用戶難以確定該調制器是否適用于其所處環境。

發明內容

針對現有技術的不足，本發明提供了一種集成光波導調制器的壓力測試機及測試方法。

本發明提供如下技術方案:一種集成光波導調制器的壓力測試機，包括機體，所述機體內設有測試腔，且所述測試腔的下側面上左右滑動連接有測試塊，所述測試塊內設有開口向上的內槽，且所述內槽的前后側面內轉動連接有承載軸，所述承載軸上固設有承載板，所述內槽的右側面上設有抵接于所述承載板的限位塊，所述承載板的上側面內設有凹槽，且所述凹槽內設有能夠對位于所述凹槽內的調制器進行夾持的夾持機構，所述內槽的后側面上設有電動滑軌，所述電動滑軌的前側面安裝有承載塊，且所述承載塊的右側面安裝有被動軸，所述被動軸上設有限位塊，所述測試腔的右側面內設有向右貫通的通孔，所述機體的右側面安裝有測振電機，且所述測振電機的左側面安裝有貫穿所述通孔并延伸至所述測試腔內的橫向螺紋軸，所述內槽內設有由所述橫向螺紋軸帶動的驅動機構，所述驅動機構能夠帶動所述測試塊左右運動，或使所述限位塊轉動，所述通孔的環面內設有環槽，且所述環槽的下側面內連通設有氣腔，所述氣腔內前后滑動連接有活塞板，且所述氣腔內設有通過驅動所述活塞板運動以降低所述測試腔內氣壓的負壓機構，所述測試腔的左右側面內各設有一個線槽，所述測試腔的右側面上固設有支持架，且所述支持架的上側面固設有信號接收器，所述測試腔的下側面上設有測壓柱。

優選的，所述驅動機構包括設于所述內槽左右側面內向外貫通的貫通孔，所述橫向螺紋軸能夠通過所述貫通孔并貫穿所述內槽，且所述橫向螺紋軸不會與所述貫通孔接觸，所述承載塊的下側面固設有半螺紋板，所述半螺紋板能夠與所述橫向螺紋軸配合連接。

優選的，所述驅動機構還包括設于所述被動軸右側面內的轉槽，所述轉槽內轉動連接有離合器，所述測試塊內設有左右貫通的轉孔，所述測試腔的右側面內轉動連接有貫穿所述轉孔的滑軸，所述滑軸的環面內設有一號滑槽，所述內槽的下側面內設有與所述轉孔連通的連通槽，所述連通槽的側面內轉動連接有帶動輪，且所述帶動輪位于所述滑軸的外側，所述帶動輪的內側面上固設有延伸至所述一號滑槽內的一號滑塊，所述滑軸和所述橫向螺紋軸通過齒輪組進行連接，所述內槽的右側面內前后滑動連接有彈簧塊，所述彈簧塊通過一號彈簧連接于所述內槽的后側面，且所述彈簧塊的左側面內轉動連接有連接軸，所述連接軸、所述離合器和所述帶動輪通過同步帶進行連接。

優選的，所述離合器包括柱體，所述柱體的環面內設有多個等角度分布的彈出槽，每個所述彈出槽的內側面都通過二號彈簧連接有一個抵接塊，所述轉槽的側面內設有卡環。