[發(fā)明專利]一種面型檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210271556.9 | 申請日: | 2022-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN114544504A | 公開(公告)日: | 2022-05-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 耿婷 | 申請(專利權(quán))人: | 領(lǐng)先光學(xué)技術(shù)(江蘇)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/892 |
| 代理公司: | 常州易瑞智新專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32338 | 代理人: | 曹錦濤 |
| 地址: | 213000 江蘇省常州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測 裝置 | ||
1.一種面型檢測裝置,其特征在于,包括:機架,設(shè)置在所述機架一側(cè)、適于傳送待檢測工件至機架處的第一承載臺,設(shè)置在所述機架另一側(cè)、適于傳送待檢測工件至下一工位處的第二承載臺,設(shè)置在所述第一承載臺末端、適于調(diào)整待檢測工件至預(yù)定姿態(tài)的導(dǎo)正機構(gòu),安裝在所述機架下方、適用于調(diào)整待檢測工件至預(yù)定位置的十字運動機構(gòu),設(shè)置在所述十字運動機構(gòu)上的夾持件,安裝在所述機架上、分別位于所述定位機構(gòu)上方、兩側(cè)的背光源和CCD相機,以及將位于所述第一承載傳送臺和第二承載傳送臺之間、適于將待檢測工件放置夾持件上或?qū)⒋龣z測工件從所述夾持件上取出的上料機構(gòu);
其中,所述背光源、待檢測工件和CCD相機的安裝滿足光線的反射定律;所述背光源上發(fā)射圖像,投影至待檢測工件上,經(jīng)過待檢測工件反射后,引起圖像畸變,CCD相機獲得畸變圖像,并通過解算復(fù)原待檢測工件的表面面型數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的面型檢測裝置,其特征在于,所述背光源上發(fā)射圖像可以為多個連續(xù)變化的正弦條紋、多個連續(xù)變化的余弦條紋或多個連續(xù)變化的格雷碼條紋。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的面型檢測裝置,其特征在于,所述承載傳送臺包括:驅(qū)動機構(gòu),與所述驅(qū)動機構(gòu)相連接的傳動皮帶,在所述傳動皮帶下方設(shè)置有柔性托板。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的面型檢測裝置,其特征在于,所述柔性托板的截面形狀為“凹”形,所述傳送皮帶位于柔性托板的凹槽內(nèi),所述柔性托板的上表面與所述傳送皮帶的上表面平齊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的面型檢測裝置,其特征在于,所述上料機構(gòu)包括:一端位于所述第一承載傳送臺末端的下方、另一端位于所述第二承載傳送臺起始端的直線運動模組,位于所述直線運動模組上方的兩組滑動平臺;
且兩組滑動平臺的距離恰好為所述直線運動模組行程的一半。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的面型檢測裝置,其特征在于,所述直線運動模組包括:固定安裝在機架上、截面形狀為“凵”的下框體,設(shè)置在所述下框體一端的上料電機,與所述上料電機相連接的齒輪箱,與所述相連接的齒輪箱相連接的同步輪,并位于所述下框體另一端的從動輪,套裝在所述同步輪和從動輪上的上料皮帶,位于所述上料皮帶上方、兩端與下框體固定連接、兩側(cè)與所述下框體之間留有預(yù)定距離的上蓋體,底部與所述上料皮帶固定連接、中部穿過所述上蓋體、頂部與所述滑動平臺相連接的兩個動子座,以及設(shè)置在所述上料皮帶上的多個皮帶壓緊塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的面型檢測裝置,其特征在于,所述滑動平臺包括:固定安裝在所述動子座上的安裝座,在所述安裝座內(nèi)部安裝升降氣缸,所述升降氣缸的輸出軸穿過安裝座的頂部,并與升降板相連接,在所述升降板底部固定安裝有多個限位導(dǎo)柱,所述限位導(dǎo)柱通過直線軸承穿過所述安裝座頂部,并在所述升降板的頂部安裝有多個真空吸盤,用于吸附固定工件。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的面型檢測裝置,其特征在于,所述十字運動機構(gòu)由兩組相互垂直的直線運動模組疊加而成。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的面型檢測裝置,其特征在于,所述導(dǎo)正機構(gòu)包括:架設(shè)在所述第一承載傳送臺的上方的安裝架,設(shè)置在所述第一承載傳送臺兩側(cè)的升降機構(gòu)、將待檢測工件頂升至脫離第一承載傳送臺,以及分別設(shè)在所述安裝架的四個方向、適于推動檢測工件向安裝架的中心位置運動的多個推動機構(gòu)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的面型檢測裝置,其特征在于,所述解算復(fù)原的方法包括如下步驟:
投影移相的余弦分布條紋,并相應(yīng)記錄測試鏡面反射條紋的圖像;
然后利用移相方法解相位,并進行相位解包裹,將相位分布轉(zhuǎn)化為位置坐標(biāo)分布;
將位置坐標(biāo)轉(zhuǎn)化為傾斜角度分布,將傾斜角度分布合成三維面分布。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





