[發(fā)明專利]一種二進(jìn)制全光比較器的雙故障誤差計(jì)算方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210258942.4
• 申請(qǐng)日: 2022-03-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114707099A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-07-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 朱愛(ài)軍;宋磊;胡聰;牛軍浩;萬(wàn)春霆;許川佩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 桂林電子科技大學(xué)
• 主分類號(hào): G06F17/10
• 分類號(hào): G06F17/10;G02F3/00
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種二進(jìn)制全光比較器的雙故障誤差計(jì)算方法，其特征在于，包含由n個(gè)MRR構(gòu)成的邏輯計(jì)算電路，該電路共包括N種輸入組合，每種組合可產(chǎn)生m位輸出結(jié)果；由n個(gè)MRR構(gòu)成的二進(jìn)制全光比較器邏輯計(jì)算電路可分為的無(wú)故障模擬等效電路和雙故障模擬等效電路，根據(jù)所述無(wú)故障模擬等效電路可獲得正確的輸出結(jié)果，根據(jù)雙故障模擬等效電路可獲得錯(cuò)誤的輸出結(jié)果；

根據(jù)所述正確的輸出結(jié)果和所述錯(cuò)誤的輸出結(jié)果，比較每一位正確輸出結(jié)果和每一位錯(cuò)誤輸出結(jié)果之間的關(guān)系，計(jì)算二者之間的位翻轉(zhuǎn)誤差(bit flip error，BFE)，最大位翻轉(zhuǎn)誤差(maximum bit flip error，MAXBFE)，以及N種輸入組合中的誤差概率(errorprobability，EP)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二進(jìn)制全光比較器的雙故障誤差計(jì)算方法，其特征是，比較每種輸入組合中所述每一位正確輸出結(jié)果和所述每一位錯(cuò)誤輸出結(jié)果之間的關(guān)系，計(jì)算所述正確的輸出結(jié)果和所述錯(cuò)誤的輸出結(jié)果之間的位翻轉(zhuǎn)誤差(bit flip error，BFE)，所述BFE具體表達(dá)形式如下：

所述i代表第i種輸入組合，所述i包含于N之中，所述為異或，所述代表第i種輸入組合下的錯(cuò)誤輸出的第j位邏輯值，所述O_i^correct代表第i種輸入組合下的正確輸出的第j位邏輯值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二進(jìn)制全光比較器的雙故障誤差計(jì)算方法，其特征是，計(jì)算所述N種輸入組合產(chǎn)生的全部所述BFE的最大值為所述最大位翻轉(zhuǎn)誤差(maximum bit fliperror，MAXBFE)，即所述N種輸入組合中由雙故障造成的最壞結(jié)果，所述MAXBFE具體表達(dá)形式如下：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二進(jìn)制全光比較器的雙故障誤差計(jì)算方法，其特征是，計(jì)算所述N種輸入組合因雙故障而發(fā)生誤差的概率，即誤差概率(error probability，EP)，所述EP具體表達(dá)形式如下：