[發明專利]一種基于多表合一的數據采集管理方法及系統

有效

• 申請號: 202210245719.6
• 申請日: 2022-03-14
• 公開（公告）號: CN114339477B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 朱耀鉆;江廣龍;李文丹
• 申請（專利權）人: 浙江萬勝智能科技股份有限公司
• 主分類號: H04Q9/00
• 分類號: H04Q9/00
• 代理公司: 北京成高專利代理事務所(普通合伙) 16047
• 代理人: 張杰

1.一種基于多表合一的數據采集管理方法，其特征在于，所述方法包括：

當滿足第一預設時間粒度，采集第一讀表數據，其中，所述第一讀表數據包括第一總表讀數和第一分表讀數；

根據第一讀表位置，采集第一顯式影響因子和第一隱式影響因子，其中，所述第一顯式影響因子是指對讀表儀器的讀表數據造成影響的固定因素，所述第一隱式影響因子是指對讀表儀器的讀表數據造成影響的不定因素；

將所述第一顯式影響因子輸入顯式誤差分析通道，獲得第一誤差分析結果，其中，所述顯式誤差分析通道是指用來分析所述第一顯式影響因子對所述第一讀表數據造成誤差程度的功能模塊；

對所述第一隱式影響因子輸入隱式誤差分析通道，獲得第二誤差分析結果，其中，所述隱式誤差分析通道是指用來分析所述第一隱式影響因子對所述第一讀表數據造成誤差程度的功能模塊；

根據所述第一誤差分析結果和所述第二誤差分析結果，對所述第一分表讀數進行誤差擬合，獲得第一擬合讀數，其中，所述根據所述第一誤差分析結果和所述第二誤差分析結果，對所述第一分表讀數進行誤差擬合包括：將對所述第一分表讀數造成增大的誤差記為正向誤差記為“+誤差值的絕對值”，將對所述第一分表讀數造成變小的誤差記為負向誤差記為“-誤差值的絕對值”；對所述第一分表讀數、所述第一誤差分析結果和所述第二誤差分析結果進行求和計算，將所得結果記為第一擬合讀數；

判斷所述第一擬合讀數是否滿足所述第一總表讀數；

若滿足，將所述第一擬合讀數添加進第一讀表數據采集結果；

其中，所述將所述第一顯式影響因子輸入顯式誤差分析通道，獲得第一誤差分析結果，包括：

遍歷所述第一顯式影響因子，獲得第一特征值；

獲得第一顯示誤差分析公式：

其中，表示顯式誤差分析結果，表示第個顯式影響因子特征值，表示第個顯式影響因子統計偏差參數，表示顯式影響因子總數量，表示第個顯式影響因子統計偏差參數和實際應用時的參數偏差均值，∈；

基于所述第一顯示誤差分析公式，生成所述顯式誤差分析通道；

將所述第一特征值輸入所述顯式誤差分析通道，獲得所述第一誤差分析結果；

所述對所述第一隱式影響因子輸入隱式誤差分析通道，獲得第二誤差分析結果，包括：

遍歷所述第一隱式影響因子，獲得第二特征值，其中，所述第二特征值包括第一頻率屬性和第一時長屬性；

根據所述隱式誤差分析通道，獲得第一處理層和第二處理層，其中，所述第一處理層的輸出端和所述第二處理層的輸入端全連接；

將所述第一頻率屬性和所述第一時長屬性輸入所述第一處理層進行權重分配，獲得第一權重分配結果；

將所述第一權重分配結果和所述第二特征值輸入所述第二處理層，獲得所述第二誤差分析結果；

獲得第一歷史數據，其中，所述第一歷史數據包括多組：隱式影響因子特征值、權重信息和誤差標識數據；

根據所述多組：所述隱式影響因子特征值、所述權重信息和所述誤差標識數據，生成第一影響矢量集合；

根據所述第一影響矢量集合，構建第一誤差分析矢量空間；

將所述第一誤差分析矢量空間設為所述第二處理層。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

若所述第一擬合讀數不滿足所述第一總表讀數，獲得第一偏離度；

當所述第一偏離度滿足第一預設偏離度時，獲得第一類型異常檢測指令；

當所述第一偏離度不滿足所述第一預設偏離度時，獲得第二類型異常檢測指令；

根據所述第一類型異常檢測指令或所述第二類型異常檢測指令對所述第一分表進行檢測，獲得第一檢測數據；

根據所述第一檢測數據獲得第一異常參數，對所述第一擬合讀數進行調整，獲得第二擬合讀數。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述判斷所述第一擬合讀數是否滿足所述第一總表讀數，包括：

根據所述第一擬合讀數和所述第一總表讀數，獲得第二偏離度；

獲得第二預設偏離度，其中，所述第二預設偏離度表征允許誤差區間；

當所述第二偏離度滿足所述第二預設偏離度時，所述第一擬合讀數滿足所述第一總表讀數。