[發明專利]一種太陽能電池鍍膜缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 202210244227.5
• 申請日: 2022-03-13
• 公開（公告）號: CN114677384B
• 公開（公告）日: 2022-12-02
• 發明（設計）人: 尤林
• 申請（專利權）人: 江蘇神州新能源電力有限公司
• 主分類號: G06T7/11
• 分類號: G06T7/11;G06T7/12;G06T7/136;G06T7/00
• 代理公司: 武漢華強專利代理事務所(普通合伙) 42237
• 代理人: 康晨

1.一種太陽能電池鍍膜缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

采集待檢測的太陽能電池表面鍍膜圖像；

對太陽能電池表面鍍膜圖像進行超像素分割，得到太陽能電池表面鍍膜圖像對應的初始顏色分割圖像；

獲取初始顏色分割圖像中每個超像素塊的色差值和標準色差值閾值，根據每個超像素塊的色差值和標準色差值閾值計算得到初始顏色分割圖像中每個超像素塊的可再次分割次數；

根據每個超像素塊的可再次分割次數對各個超像素塊對應的初始顏色分割圖像進行多次超像素分割，得到太陽能電池表面鍍膜圖像對應的精細顏色分割圖像；

獲取精細顏色分割圖像中各超像素塊的相鄰超像素塊，根據各超像素塊及其相鄰超像素塊對應的色差值、顏色值和各超像素塊對應的相鄰超像素塊的個數獲取各超像素塊及其相鄰超像素塊間的邊權值；

根據各超像素塊及其相鄰超像素塊間的邊權值獲取精細顏色分割圖像的色差程度，根據色差程度得到待檢測太陽能電池表面鍍膜的均勻程度；

利用待檢測太陽能電池表面鍍膜的均勻程度對待檢測太陽能電池鍍膜缺陷進行檢測。

2.根據權利要求1所述的一種太陽能電池鍍膜缺陷檢測方法，其特征在于，所述初始顏色分割圖像中每個超像素塊的色差值和標準色差值閾值是按照如下方式獲取：

獲取初始顏色分割圖像中每個超像素塊的顏色值信息熵和面積；

將每個超像素塊的顏色值信息熵除以對應的面積，獲取初始顏色分割圖像中每個超像素塊的色差值；

根據待檢測的太陽能電池鍍膜均勻程度要求設置色差值閾值，該閾值即為標準色差值閾值。

3.根據權利要求1所述的一種太陽能電池鍍膜缺陷檢測方法，其特征在于，所述初始顏色分割圖像中每個超像素塊的可再次分割次數是按照如下方式得到：

將初始顏色分割圖像中每個超像素塊的色差值除以標準色差值閾值，對得到的結果進行四舍五入取整，得到初始顏色分割圖像中每個超像素塊的可再次分割次數。

4.根據權利要求1所述的一種太陽能電池鍍膜缺陷檢測方法，其特征在于，所述太陽能電池表面鍍膜圖像對應的精細顏色分割圖像是按照如下方式得到：

根據初始顏色分割圖像中每個超像素塊的可再次分割次數對各個超像素塊進行第二次分割，得到第二次顏色分割結果；

將第二次顏色分割結果疊加到初始顏色分割圖像中，得到第二次顏色分割圖像；

對第二次顏色分割圖像中所有超像素塊的色差值進行判斷：當第二次顏色分割圖像中存在超像素塊的色差值與標準色差閾值的比值的取整結果大于等于2時，將該超像素塊進行第三次分割，得到第三次顏色分割圖像；

按照得到第三次顏色分割圖像的方法對第三次顏色分割圖像進行迭代分割，直至顏色分割圖像中所有超像素塊的色差值與標準色差閾值的比值的取整結果均小于2，得到太陽能電池表面鍍膜圖像對應的精細顏色分割圖像。

5.根據權利要求1所述的一種太陽能電池鍍膜缺陷檢測方法，其特征在于，所述各超像素塊及其相鄰超像素塊間的邊權值是按照如下方式獲取：

獲取精細顏色分割圖像中各超像素塊的色差值和各超像素塊的相鄰超像素塊；

以精細顏色分割圖像中各超像素塊為頂點，采用邊權將各超像素塊對應頂點與其相鄰的超像素塊對應頂點進行連接，建立圖結構數據；

根據圖結構數據中各超像素塊及其相鄰超像素塊對應的色差值、顏色值和各超像素塊對應的相鄰超像素塊的個數獲取各超像素塊及其相鄰超像素塊間的邊權值；

所述各超像素塊及其相鄰超像素塊間的邊權值的表達式如下：

式中，bq_ij表示第i個超像素塊及其相鄰的第j個超像素塊間的邊權值，sc_i，sc_j分別表示第i個超像素塊及其相鄰的第j個超像素塊對應的色差值，g_i，g_j分別表示第i個超像素塊及其相鄰的第j個超像素塊對應的相鄰超像素塊的個數，ys_i，ys_j分別表示第i個超像素塊及其相鄰的第j個超像素塊對應的在HSV顏色空間中，H分量所表示的顏色值的眾數。