[發明專利]一種基于軟組織輪廓線采樣點的口點檢測方法有效
| 申請號: | 202210242218.2 | 申請日: | 2022-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN114596289B | 公開(公告)日: | 2022-11-22 |
| 發明(設計)人: | 董玉;李曉蕓;左飛飛;張康平;孫宇;吳宏新;王亞杰;張文宇 | 申請(專利權)人: | 北京朗視儀器股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/64 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251 | 代理人: | 金怡 |
| 地址: | 100084 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 軟組織 輪廓 采樣 檢測 方法 | ||
1.一種基于軟組織輪廓線采樣點的口點檢測方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟一、獲取軟組織輪廓采樣點,判斷是否存在口點;
步驟二、如果口點存在,則繼續檢測鼻尖點;否則直接退出;
步驟三、在指定范圍內檢測凹點和凸點;所述步驟三在指定范圍內檢測凹點和凸點,具體包括:
從采樣點p1(x1,y1),p2(x2,y2),…,pm(xm,ym)中,依次檢測縱坐標在(Ynose,Ynose+w*(Ymax-Ymin))范圍內的凹點,其中w∈[0.3,0.4],按照檢測的先后順序,將凹點依次記為sunk1,sunk2,…,sunka,即共檢測出a個凹點;
設凸點為橫坐標大于相鄰兩點橫坐標的采樣點,依次檢測p1(x1,y1),p2(x2,y2),…,pm(xm,ym)中縱坐標在(Ynose,Ynose+w*(Ymax-Ymin))范圍內的凸點,按照檢測的先后順序,將凸點依次記為convex1,convex2,…,convexb,即共檢測出b個凸點;
其中,Ynose表示鼻尖點;Ymax和Ymin分別為采樣點縱坐標的最大值和最小值;
步驟四、基于檢測的凹點和凸點,判斷口點的位置;所述步驟四基于檢測的凹點和凸點,判斷口點的位置,具體包括:
若a3,輪廓線采樣點不準確,出現了噪聲擾動現象,計算凹點序列sunk1,sunk2,…,sunka,兩個相鄰點之間的歐氏距離,若計算的歐氏距離小于設定閾值,則將兩個相鄰點中索引值較小的凹點從該序列中刪除,更新后的凹點序列為口點候選點;設口點候選點共n個,分別設為candidate1,candidate2,…,candidaten,若n=1,則candidate1即為口點;若n1,選擇其中一個候選點作為口點;設凸點序列中縱坐標小于candidatei點縱坐標且與candidatei歐式距離最小的凸點為upi,縱坐標大于candidatei縱坐標且與candidatei歐氏距離最小的凸點為downi,計算向量和的夾角thetai;i=1,2,…,n,v=argmin(theta1,theta2,…,thetan),則candidatev為口點,其中argmin(*)為計算最小值下標運算;
若a=3,則凹點序列為sunk1,sunk2,sunk3,根據側位圖凹凸特性,3個凹點依次為鼻下點,口點和下唇凹點,得到口點為sunk2;
若a=2,則凹點序列為sunk1,sunk2,根據側位圖凹凸特性,2個凹點依次為鼻下點和口點,則得到的口點為sunk2;
若a=1,則sunk1為口點;
若a=0,口點不存在。
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