[發明專利]基于偏振遙感數據的云層上方氣溶膠光學厚度反演方法

在審

• 申請號: 202210237741.6
• 申請日: 2022-03-11
• 公開（公告）號: CN114624731A
• 公開（公告）日: 2022-06-14
• 發明（設計）人: 李樹;張詩淼;儲小雪;葉松;王新強;王方原;甘永瑩
• 申請（專利權）人: 桂林電子科技大學
• 主分類號: G01S17/95
• 分類號: G01S17/95;G01S7/48
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.基于偏振遙感數據的云層上方氣溶膠光學厚度反演方法，其特征在于，該方法的具體過程包括如下步驟：

步驟1，獲取偏振遙感云像元的光學輻射及觀測幾何數據；

步驟2，根據云像元670nm、1610nm、2250nm通道實測的反射率R_means,670、R_means,1610、R_means,2250反演云光學厚度和云有效粒子半徑，作為步驟3的輸入參數；

步驟3，根據步驟2云光學厚度及與粒子有效半徑反演結果，結合670nm通道的實測偏振反射率R_p670，采用找查找表法反演云層上方氣溶膠光學厚度，獲取云層上方氣溶膠光學厚度值；

步驟4，根據步驟3獲取包含云層及氣溶膠層670nm、1610nm、2250nm通道的反射率R_calc,670、R_calc,1610、R_calc,2250；

步驟5，對比步驟4獲取的670nm通道反射率數據R_calc,670與實測反射率數據R_means,670，如果兩個誤差超過Δ，則對670nm、1610nm、2250nm通道實測反射率值進行校正，返回至步驟2直至滿足670nm通道反射率R_calc,670與實測反射率R_means,670的誤差小于等于Δ；

步驟6，最后一次執行步驟3獲得的氣溶膠光學厚度作為云層上方氣溶膠光學厚度。

2.根據權利要求1所述的基于偏振遙感數據的云層上方氣溶膠光學厚度反演方法，其特征在于，所述步驟2中，由于670nm波段的輻射量對云光學厚度變化敏感，1610nm和2250nm波段的輻射量對云有效粒子半徑的變化敏感，選用670nm、1610nm和2250nm通道的強度輻射信息反演云光學厚度及有效粒子半徑。

3.根據權利要求1所述的基于偏振遙感數據的云層上方氣溶膠光學厚度反演方法，其特征在于，所述步驟3中，根據云層與氣溶膠層耦合后的輻射模擬計算，獲取云參數后，用輻射傳輸模型，模擬分析云層對氣溶膠的影響，有效扣除云層對氣溶膠光學厚度反演的影響。