[發明專利]基于共腔羅特曼透鏡的毫米波十字掃描多波束陣列天線有效
| 申請號: | 202210236223.2 | 申請日: | 2022-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN114512824B | 公開(公告)日: | 2023-10-24 |
| 發明(設計)人: | 肖爍;班永靈;連繼偉 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | H01Q21/00 | 分類號: | H01Q21/00;H01Q1/38 |
| 代理公司: | 電子科技大學專利中心 51203 | 代理人: | 甘茂 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 共腔羅特曼 透鏡 毫米波 十字 掃描 波束 陣列 天線 | ||
1.基于共腔羅特曼透鏡的毫米波十字掃描多波束陣列天線,其特征在于,所述毫米波十字掃描多波束陣列天線采用由下層貼片、中層介質板與上層貼片構成的羅特曼透鏡天線結構,所述毫米波十字掃描多波束陣列天線的拓撲結構由兩組完全相同的子網絡構成,每組子網絡由饋源輪廓、透鏡腔體、內陣列輪廓、波導傳輸線與外陣列輪廓組成,兩組子網絡正交設置、并于透鏡腔體處構成封閉的共腔羅特曼透鏡。
2.根據權利要求1所述基于共腔羅特曼透鏡的毫米波十字掃描多波束陣列天線,其特征在于,所述共腔羅特曼透鏡的透鏡輪廓滿足約束方程:
其中,F表示軸外焦距,L表示外陣列輪廓的長度,ηmax表示歸一化處理后外陣列輪廓上的輻射單元天線到水平坐標軸的垂直距離的最大值;表示饋源輪廓上邊緣與下邊緣的垂直距離,表示內陣列輪廓上邊緣與下邊緣的垂直距離,C表示饋源輪廓下邊緣與內陣列輪廓下邊緣的水平距離。
3.根據權利要求1所述基于共腔羅特曼透鏡的毫米波十字掃描多波束陣列天線,其特征在于,所述下層貼片、中層介質板與上層貼片從下往上依次層疊設置,所述下層貼片上對應每一組子網絡的輸入端分別設置有相同結構的過渡貼片,所述上層貼片上對應每一組子網絡的輸出端分別開設有相同結構的開槽輻射陣列。
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