[發(fā)明專利]一種二維過渡金屬硫族化合物量子點(diǎn)的精確仿真方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210236146.0 | 申請日: | 2022-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN114582437A | 公開(公告)日: | 2022-06-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張碩;尹文言 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江大學(xué) |
| 主分類號: | G16C20/30 | 分類號: | G16C20/30;G16C10/00;G06F30/23 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 33200 | 代理人: | 萬尾甜;韓介梅 |
| 地址: | 310058 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 二維 過渡 金屬 化合物 量子 精確 仿真 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種二維過渡金屬硫族化合物量子點(diǎn)的精確仿真方法,該方法采用緊束縛哈密頓量,對多種二維過渡金屬硫族化合物量子點(diǎn)進(jìn)行建模仿真,給出低溫下自洽的量子點(diǎn)分立能級結(jié)構(gòu),指導(dǎo)自旋量子比特、能谷量子比特以及自旋?能谷量子比特的設(shè)計(jì)優(yōu)化。本發(fā)明能夠?yàn)槎喾N二維過渡金屬硫族化合物的靜電學(xué)量子點(diǎn)問題提供精確的仿真方法,實(shí)現(xiàn)低溫下基于面內(nèi)多柵極量子阱和異質(zhì)結(jié)量子阱的二維材料量子點(diǎn)仿真設(shè)計(jì)優(yōu)化與實(shí)驗(yàn)指導(dǎo),量子點(diǎn)形態(tài)、尺寸、缺陷原子和磁場調(diào)控效應(yīng)可以得到精確、高效的仿真結(jié)果,為量子比特的設(shè)計(jì)提供了高置信度仿真平臺,具有全面、精確和高效的優(yōu)勢,在二維半導(dǎo)體材料量子計(jì)算領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用價值。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及二維半導(dǎo)體材料量子點(diǎn)為基礎(chǔ)的量子計(jì)算元件和量子比特仿真設(shè)計(jì)領(lǐng)域,具體涉及一種二維過渡金屬硫族化合物量子點(diǎn)的精確仿真方法,該方法可實(shí)現(xiàn)二維材料量子點(diǎn)及其對應(yīng)的自旋/能谷量子比特高效仿真與設(shè)計(jì)。
背景技術(shù)
近年來,二維過渡金屬硫族化合物半導(dǎo)體所具有的優(yōu)異的界面性質(zhì)、靜電學(xué)特性,以及新穎的自旋和能谷動力學(xué)性質(zhì)吸引了廣泛的研究興趣,同時基于這些特性,人們初步開展了針對二維材料量子點(diǎn)的理論和實(shí)驗(yàn)研究,尋求利用其自旋和能谷自由度設(shè)計(jì)量子比特,并用于量子計(jì)算。然而,對二維材料量子點(diǎn)的仿真和實(shí)驗(yàn)均處于初始階段,理論和方法尚不成熟,對量子比特的設(shè)計(jì)和定義尚不明確;同時,對二維過渡金屬硫族化合物量子點(diǎn)的仿真方法普遍采用基于第一性原理的商業(yè)軟件,耗費(fèi)計(jì)算成本和計(jì)算時間。為此,本發(fā)明提出了一種二維過渡金屬硫族化合物量子點(diǎn)的精確仿真方法,在保證計(jì)算精度的同時,提高計(jì)算效率,減少計(jì)算資源的消耗。
現(xiàn)有文獻(xiàn)(S.Bednarek,B.Szafran,and J.Adamowski,“Theoreticaldescription of electronic properties of vertical gated quantum dots,”Phys.Rev.B,vol.64,no.19,p.195303,Oct.2001,doi:10.1103/PhysRevB.64.195303.)提出了一種基于薛定諤-泊松方程自洽求解的III-V族異質(zhì)結(jié)材料量子點(diǎn)仿真方法,描述了垂直柵極束縛和異質(zhì)結(jié)量子阱共同形成的量子點(diǎn)結(jié)構(gòu)的分立能級、電學(xué)性質(zhì)和庫倫阻塞。該仿真方法簡單快捷,準(zhǔn)確且高效,然而,該方法僅針對III-V族材料異質(zhì)結(jié)形成的靜電學(xué)量子點(diǎn),且僅針對基于電荷自由度的單電子器件和量子比特設(shè)計(jì),無法描述二維材料量子點(diǎn)分立能態(tài)所具有的獨(dú)特自旋和能谷自由度。
值得注意的是,文獻(xiàn)(S.and F.M.Peeters,“Electronic properties oftriangular and hexagonal MoS2 quantum dots,”Phys.Rev.B,vol.91,no.15,p.155410,Apr.2015,doi:10.1103/PhysRevB.91.155410.)首先采用了基于最近鄰的緊束縛模型,仿真計(jì)算三角形和六邊形MoS2量子點(diǎn)的電子能級結(jié)構(gòu),但是該仿真方法未涉及靜電學(xué)量子點(diǎn)的靜態(tài)和動態(tài)自洽仿真,以及自旋和能谷自由度的量子比特仿真設(shè)計(jì)。此外,該方法中采用的緊束縛模型僅限于最近鄰原子的相互作用,無法給出準(zhǔn)確的電子能帶結(jié)構(gòu)、Γ/K能谷位置和帶隙大小;仿真中得到的價帶頂能態(tài)來自Γ能谷,無法給出準(zhǔn)確的價帶自旋/能谷量子比特定義。
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