[發明專利]聲表面波諧振器及其制造方法、以及聲表面波濾波器在審
| 申請號: | 202210230145.5 | 申請日: | 2022-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN114584101A | 公開(公告)日: | 2022-06-03 |
| 發明(設計)人: | 許欣 | 申請(專利權)人: | 廣東廣納芯科技有限公司 |
| 主分類號: | H03H9/02 | 分類號: | H03H9/02;H03H9/25;H03H9/64;H03H3/10;H03H9/145 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 俞丹 |
| 地址: | 510700 廣東省廣州市黃*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 表面波 諧振器 及其 制造 方法 以及 濾波器 | ||
1.一種聲表面波諧振器,其特征在于,包括:
復合壓電襯底,該復合壓電襯底具有:LGS基底層,該LGS基底層由單晶LGS形成,及形成在所述LGS基底層之上的GaN壓電層,該GaN壓電層的厚度不超過在所述聲表面波諧振器中傳播的聲波波長的20倍;以及
形成在所述GaN壓電層上的叉指電極。
2.如權利要求1所述的聲表面波諧振器,其特征在于,
所述LGS基底層在聲波傳播方向歐拉角(0°,138.5°,26.5°)下具有0溫度系數。
3.如權利要求1所述的聲表面波諧振器,其特征在于,
所述GaN壓電層是外延生長在所述LGS基底層上的外延單晶薄膜。
4.如權利要求1所述的聲表面波諧振器,其特征在于,
所述GaN壓電層通過MOCVD、MBE、HVPE中的任一種方式形成在所述LGS基底層上。
5.如權利要求1所述的聲表面波諧振器,其特征在于,
在所述GaN壓電層與所述LGS基底層之間還形成有用于制備所述GaN壓電層的種子層,且該種子層的厚度在以內。
6.如權利要求5所述的聲表面波諧振器,其特征在于,
所述種子層為AlN。
7.如權利要求1所述的聲表面波諧振器,其特征在于,
所述叉指電極由Ti、Al、Cu、Au、Pt、Ag、Pd中的任一種金屬、或它們的合金、或它們的層疊體構成。
8.如權利要求1所述的聲表面波諧振器,其特征在于,
還包括形成于所述叉指電極表面的保護層。
9.如權利要求8所述的聲表面波諧振器,其特征在于,
所述保護層由SiO2、Si3N4、SiFO、SiOC中的任一種形成。
10.一種制造聲表面波諧振器的方法,其特征在于,包括:
準備LGS基底層,該LGS基底層由單晶LGS形成;
在所述LGS基底層之上形成GaN壓電層從而得到復合壓電襯底,該GaN壓電層的厚度不超過在聲表面波諧振器中傳播的聲波波長的20倍;以及
在所述GaN壓電層上形成叉指電極。
11.如權利要求10所述的制造聲表面波諧振器的方法,其特征在于,
所述GaN壓電層是外延生長在所述LGS基底層上的外延單晶薄膜。
12.如權利要求10所述的制造聲表面波諧振器的方法,其特征在于,
所述GaN壓電層通過MOCVD、MBE、HVPE中的任一種方式形成在所述LGS基底層上。
13.如權利要求10所述的制造聲表面波諧振器的方法,其特征在于,
還包括在所述GaN壓電層上形成種子層的步驟,在所述種子層上制備所述GaN壓電層,且該種子層的厚度在以內。
14.如權利要求13所述的制造聲表面波諧振器的方法,其特征在于,
所述種子層為AlN。
15.如權利要求10所述的制造聲表面波諧振器的方法,其特征在于,
所述叉指電極通過在所述GaN壓電層上直接形成圖形化的電極來制備。
16.如權利要求10所述的制造聲表面波諧振器的方法,其特征在于,
所述叉指電極可以通過對所述GaN壓電層進行圖形化加工后填充電極材料來制備。
17.一種聲表面波濾波器,其特征在于,
包括至少一個所述聲表面波諧振器、以及連接至少一個所述聲表面波諧振器的引線。
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