[發明專利]一種VPX設備散熱性能測試方法及系統

在審

• 申請號: 202210200117.9
• 申請日: 2022-03-02
• 公開（公告）號: CN114563444A
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: 廖建平;陳月玲;謝啟友
• 申請（專利權）人: 湖南博匠信息科技有限公司
• 主分類號: G01N25/20
• 分類號: G01N25/20;G06F11/30;G06F11/32;G06F11/34
• 代理公司: 湖南正則奇美專利代理事務所(普通合伙) 43105
• 代理人: 蔡敏

1.一種VPX設備散熱性能測試方法，其特征在于，包括以下步驟:

獲取環境狀態參數，所述的環境狀態參數包括工作環境的溫度、風速和風量；

提取環境狀態參數，并按照所述的環境狀態參數調整板卡工作環境；

周期性的采集板卡的紅外輻射，并轉換為數字信號，生成偽色彩熱圖；

根據偽色彩熱圖獲取板卡各個核心溫度監測點的溫度數據，所述的核心溫度監測點包括CPU、GPU和橋片；

整合板卡各個核心溫度監測點的溫度數據，生成板卡溫度變化趨勢圖像，分析得出板卡的散熱性能。

2.根據權利要求1所述的一種VPX設備散熱性能測試方法,其特征在于，所述的方法還包括：

獲取標準環境狀態參數；

調整所述的板卡工作環境，以標準環境狀態參數運行；

獲取標準環境狀態參數下的板卡溫度變化趨勢圖像，并將本次測試定義為對照組。

3.根據權利要求2所述的一種VPX設備散熱性能測試方法,其特征在于，在調整板卡的工作環境的過程中，采用單一變量規則，所述的單一變量規則為任意選取環境狀態參數中的其中一個作為變量，其余環境狀態參數與標準環境狀態參數相同，生成若干個實驗組。

4.根據權利要求3所述的一種VPX設備散熱性能測試方法,其特征在于，任意兩個實驗組中的板卡工作環境中至少存在一個環境狀態參數不相同。

5.根據權利要求3所述的一種VPX設備散熱性能測試方法,其特征在于，所述的對照組或實驗組中的板卡數量為一張或者多張，在所述的板卡的數量大于一張的情況下，若干個板卡同時運行并在采集各個板卡的核心溫度監測點的溫度數據后生成板卡溫度變化趨勢圖。

6.根據權利要求5所述的一種VPX設備散熱性能測試方法,其特征在于，在所述的板卡的數量大于一張的情況下，分析獲得不同板卡的散熱性能之后，采用不同所述的板卡的散熱性能中最差的結果作為本次對照組或實驗組的測試結果。

7.根據權利要求5所述的一種VPX設備散熱性能測試方法,其特征在于，在所述的板卡的數量大于一張的情況下，分析獲得不同板卡的散熱性能之后，采用不同所述的板卡的散熱性能的平均值作為本次對照組或實驗組的測試結果。

8.一種VPX設備散熱性能測試系統,其特征在于，包括：

環境參數輸入模塊，用于獲取環境狀態參數；

工作環境控制模塊，用于提取環境狀態參數，并按照所述的環境狀態參數調整板卡工作環境；

數據采集模塊，用于周期性的采集板卡的紅外輻射，并轉換為數字信號，生成偽色彩熱圖，根據偽色彩熱圖獲取板卡各個核心溫度監測點的溫度數據，所述的核心溫度監測點包括CPU、GPU和橋片；

散熱性能分析模塊，用于整合板卡各個核心溫度監測點的溫度數據，生成板卡溫度變化趨勢圖像，分析得出板卡的散熱性能。