[發明專利]一種確定單礦物顆粒質量的方法在審
| 申請號: | 202210188803.9 | 申請日: | 2022-03-01 |
| 公開(公告)號: | CN114252373A | 公開(公告)日: | 2022-03-29 |
| 發明(設計)人: | 張徐航;李曉光;張馳;蘇菲;賀懷宇 | 申請(專利權)人: | 中國科學院地質與地球物理研究所 |
| 主分類號: | G01N15/00 | 分類號: | G01N15/00;G01N15/02;G01N9/36;G01N9/24 |
| 代理公司: | 北京東方盛凡知識產權代理事務所(普通合伙) 11562 | 代理人: | 袁蕾 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 確定 礦物 顆粒 質量 方法 | ||
1.一種確定單礦物顆粒質量的方法,其特征在于,包括以下步驟:
獲取單礦物顆粒樣品的CT圖像;
對所述CT圖像進行分析,剔除含雜質的所述單礦物顆粒,獲得純凈單礦物顆粒,計算純凈單礦物顆粒體積;
對所述純凈單礦物顆粒進行拉曼光譜RS分析,確定單礦物類別;
基于所述單礦物類別,獲取礦物密度;
基于所述純凈單礦物顆粒體積和所述礦物密度,計算單礦物顆粒質量。
2.根據權利要求1所述的確定單礦物顆粒質量的方法,其特征在于,獲取單礦物顆粒樣品的CT圖像包括:
對所述單礦物顆粒樣品進行連續CT掃描,獲得一組連續的單礦物顆粒的層面二維切片圖像,并對所述單礦物顆粒的層面二維切片圖像進行編碼;
根據所述編碼,將所述單礦物顆粒的層面二維切片圖像進行堆疊,獲得單礦物顆粒三維圖像,即所述CT圖像。
3.根據權利要求2所述的確定單礦物顆粒質量的方法,其特征在于,對所述CT圖像進行分析,剔除含雜質的所述單礦物顆粒,獲得純凈單礦物顆粒,計算純凈單礦物顆粒體積包括:
對同一次掃描中獲得的每個所述單礦物顆粒三維圖像進行分析,判斷所述三維圖像的灰度是否均一,是,則保留所述單礦物顆粒,不是,則剔除所述單礦物顆粒,獲得所述純凈單礦物顆粒;
提取所述純凈單礦物顆粒的三維體素信息,基于所述三維體素信息計算所述純凈單礦物顆粒體積,其中,所述三維體素信息為像素所對應的體積單位。
4.根據權利要求3所述的確定單礦物顆粒質量的方法,其特征在于,基于所述三維體素信息計算所述純凈單礦物顆粒體積包括:
判斷所述純凈單礦物顆粒是否為規則形狀,是,則將所述三維體素信息乘以所述純凈單礦物顆粒的長寬高對應的像素即為所述純凈單礦物顆粒體積;若不是,則根據掃描精度將所述純凈單礦物顆粒劃分為若干計量單元,每個所述計量單元的體素對應的體積是固定的,統計所述計量單元的數量,累加計算,獲得所述純凈單礦物顆粒體積。
5.根據權利要求1所述的確定單礦物顆粒質量的方法,其特征在于,對所述純凈單礦物顆粒進行拉曼光譜RS分析,確定單礦物類別包括:
對所述純凈單礦物顆粒進行拉曼光譜分析,比較所述拉曼光譜中峰譜,進行不同族礦物質種類識別;
對同族礦物顆粒進行拉曼光譜分析,鑒定所述單礦物類別。
6.根據權利要求1所述的確定單礦物顆粒質量的方法,其特征在于,基于所述單礦物類別,獲取礦物密度包括:基于所述單礦物類別,查詢礦物數據庫中的公開信息,獲得所述礦物密度。
7.根據權利要求1所述的確定單礦物顆粒質量的方法,其特征在于,計算所述單礦物顆粒質量的方法為:
Mmineral=ρmineral×Vmineral
其中,Mmineral為單礦物顆粒質量,ρmineral為礦物密度,Vmineral為單礦物顆粒體積。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院地質與地球物理研究所,未經中國科學院地質與地球物理研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210188803.9/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:LED顯示屏顯示缺陷檢測方法、電子設備及裝置
- 下一篇:黃藥粉塵回收裝置





