[發明專利]LED顯示屏顯示缺陷檢測方法、電子設備及裝置

有效

• 申請號: 202210188796.2
• 申請日: 2022-02-28
• 公開（公告）號: CN114255232B
• 公開（公告）日: 2022-06-17
• 發明（設計）人: 馬寶真;王鉑;蔡煒;張朝志;汪洋;鄭喜鳳
• 申請（專利權）人: 季華實驗室
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06V10/762;G06K9/62
• 代理公司: 佛山市海融科創知識產權代理事務所(普通合伙) 44377
• 代理人: 陳志超

1.一種LED顯示屏顯示缺陷檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取暗場中在均勻光照下所述LED顯示屏未點亮時的黑色圖像；

識別所述黑色圖像中的膜缺陷；

獲取LED顯示屏顯示純色時的畫面得到第一圖像；

識別所述第一圖像中所述LED顯示屏的邊框，選取所述邊框內的圖像為第二圖像；

根據所述LED顯示屏中拼接模組的排列方式，將所述第二圖像劃分成與所述拼接模組對應的多個第三圖像；

篩選出有缺陷第三圖像，記錄對應所述有缺陷第三圖像的有缺陷拼接模組；

對所述有缺陷第三圖像進行缺陷類型判斷，并針對所述有缺陷拼接模組進行缺陷位置定位；

所述篩選出有缺陷第三圖像，記錄對應所述有缺陷第三圖像的有缺陷拼接模組的步驟包括：

獲取所述第三圖像每個像素的亮度、色度和飽和度；

計算每一第三圖像的亮度均方差、色度均方差和飽和度均方差；

選定亮度均方差、色度均方差和飽和度均方差大于第一數值的所述第三圖像為所述有缺陷第三圖像；

確定所述有缺陷第三圖像在所述第二圖像中的位置；

記錄對應所述有缺陷第三圖像的有缺陷拼接模組。

2.根據權利要求1所述的LED顯示屏顯示缺陷檢測方法，其特征在于，所述獲取LED顯示屏顯示純色時的畫面得到第一圖像的步驟包括：

獲取LED顯示屏顯示紅色、綠色和藍色時的畫面得到三個第一圖像；

所述識別所述第一圖像中所述LED顯示屏的邊框，選取所述邊框內的圖像為第二圖像的步驟包括：

識別三個所述第一圖像中所述LED顯示屏的邊框得到三個第一邊框信息；

合并三個所述第一邊框信息得到第二邊框信息；

根據所述第二邊框信息選取三個所述第一圖像中的局部圖像生成三個第二圖像。

3.根據權利要求1所述的LED顯示屏顯示缺陷檢測方法，其特征在于，所述獲取LED顯示屏顯示純色時的畫面得到第一圖像的步驟包括：

獲取LED顯示屏顯示白色、紅色、綠色和藍色時的畫面得到四個第一圖像；

所述識別所述第一圖像中所述LED顯示屏的邊框，選取所述邊框內的圖像為第二圖像的步驟包括：

識別四個所述第一圖像中所述LED顯示屏的邊框得到四個第一邊框信息；

合并四個所述第一邊框信息得到第二邊框信息；

根據所述第二邊框信息選取四個所述第一圖像中的局部圖像生成四個第二圖像。

4.根據權利要求1所述的LED顯示屏顯示缺陷檢測方法，其特征在于，所述對所述有缺陷第三圖像進行缺陷類型判斷，并針對所述有缺陷拼接模組進行缺陷位置定位的步驟包括：

利用機器學習算法識別所述有缺陷第三圖像中的缺陷輪廓和內部特征分布；

將所述缺陷輪廓和內部特征分布與最優特征集進行交并對比，計算匹配概率；

生成缺陷類型、與所述缺陷類型對應的匹配概率以及與所述缺陷類型對應的位置參數。

5.一種電子設備，其特征在于，包括處理器以及存儲器，所述存儲器存儲有計算機可讀取指令，當所述計算機可讀取指令由所述處理器執行時，運行如權利要求1-4任一項所述方法中的步驟。

6.一種LED顯示屏顯示缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：

第二獲取模塊，用于獲取暗場中在均勻光照下LED顯示屏未點亮時的黑色圖像；

第二識別模塊用于識別黑色圖像中的膜缺陷；

第一獲取模塊，用于獲取LED顯示屏顯示純色時的畫面得到第一圖像；

邊框識別模塊，用于識別所述第一圖像中所述LED顯示屏的邊框，選取所述邊框內的圖像為第二圖像；

第一劃分模塊，用于根據所述LED顯示屏中拼接模組的排列方式，將所述第二圖像劃分成與所述拼接模組對應的多個第三圖像；

篩選模塊，用于篩選出有缺陷第三圖像，記錄對應所述有缺陷第三圖像的有缺陷拼接模組；獲取所述第三圖像每個像素的亮度、色度和飽和度；計算每一第三圖像的亮度均方差、色度均方差和飽和度均方差；選定亮度均方差、色度均方差和飽和度均方差大于第一數值的所述第三圖像為所述有缺陷第三圖像；確定所述有缺陷第三圖像在所述第二圖像中的位置；記錄對應所述有缺陷第三圖像的有缺陷拼接模組；

判斷定位模塊，用于對所述有缺陷第三圖像進行缺陷類型判斷，并針對所述有缺陷拼接模組進行缺陷位置定位。