[發(fā)明專利]一種非接觸式金屬表面非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210188561.3 | 申請(qǐng)日: | 2022-02-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114383493A | 公開(公告)日: | 2022-04-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王飛;趙川梅;馬馳;杜壽兵;李代生 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國工程物理研究院總體工程研究所 |
| 主分類號(hào): | G01B7/06 | 分類號(hào): | G01B7/06 |
| 代理公司: | 北京天奇智新知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11340 | 代理人: | 葉明博 |
| 地址: | 621908*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 接觸 金屬表面 導(dǎo)電 覆蓋層 厚度 測(cè)量方法 | ||
1.一種非接觸式金屬表面非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量方法,其特征在于,包括以下步驟:
將檢測(cè)線圈靠近被測(cè)金屬表面設(shè)置;
測(cè)試獲得檢測(cè)線圈自身電感值L;
通過檢測(cè)線圈工作參數(shù)設(shè)計(jì),使得在量程范圍內(nèi)d值與d0呈線性關(guān)系,通過下部方程計(jì)算檢測(cè)線圈與金屬基底之間的距離d:
d=k·L+d0 (1)
其中,k,d0均為方程系數(shù),為通過工程標(biāo)定獲得;
檢測(cè)線圈與金屬基底之間的電容值C為檢測(cè)線圈與腐蝕層表面之間空氣電容值C2和腐蝕層電容值C1串聯(lián)獲得,根據(jù)電容串聯(lián)方程,有:
根據(jù)平板電容公式將上式中的C1和C2用腐蝕層厚度d1和空氣層厚度d2表達(dá)有:
其中,ε0=8.854187818×10-12F/m,為真空介電常數(shù);εr1,εr2為材料相對(duì)介電常數(shù);S為檢測(cè)線圈在金屬基底上的投影面積;
根據(jù)尺寸鏈關(guān)系,有:
d=d1+d2 (4)
聯(lián)立三個(gè)方程(1)、(3)、(4),分別求得d1,d2,其中求得以L、C來表達(dá)d1的表達(dá)式為:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種非接觸式金屬表面非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量方法,其特征在于,測(cè)量時(shí),檢測(cè)線圈與被測(cè)金屬表面之間間距小于0.2mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種非接觸式金屬表面非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量方法,其特征在于,檢測(cè)線圈的外徑大于5mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種非接觸式金屬表面非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量方法,其特征在于,檢測(cè)線圈的厚度小于0.3mm。
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