[發明專利]一種芯片測試結果的可靠的數據傳輸驗證方法

在審

• 申請號: 202210188380.0
• 申請日: 2022-02-28
• 公開（公告）號: CN114625711A
• 公開（公告）日: 2022-06-14
• 發明（設計）人: 侯義平;邵嘉陽
• 申請（專利權）人: 上海華嶺集成電路技術股份有限公司
• 主分類號: G06F16/178
• 分類號: G06F16/178;H04L67/06
• 代理公司: 上海海貝律師事務所 31301
• 代理人: 朱震林

本發明涉及晶圓測試技術領域，具體為一種芯片測試結果的可靠的數據傳輸驗證方法，來料時獲取客戶提供的IQC數據，分析后存入測試廠系統中，測試晶圓生成數據后上傳給客戶，出貨檢驗時上傳OQC數據給客戶，在出貨時根據測試廠系統中的數據，整合IQC和OQC數據，生成GDC給客戶，客戶根據自家的IQC數據，結合測試廠生成的數據及OQC數據，計算出GDC，反饋給測試廠，測試廠判斷GDC與客戶是否一致，如果一致，可以出貨，否則，重新上傳數據后生成新的GDC與客戶核對，核對一致才能出貨，本發明同現有技術相比，通過對IQC和OQC數據以及GDC數據的對比匹配，實現了客戶收到的數據和最終出貨的Map圖是完全一致的。

技術領域

本發明涉及晶圓測試技術領域，具體為一種芯片測試結果的可靠的數據傳輸驗證方法。

背景技術

在半導體晶圓測試過程中，每次測試完成后，都會統計測試結果的Pass數和Fail數，以及生成相應的Map,并發給客戶確認。客戶確認后，會根據收到的測試數據及Map,要求復測或者要求測試結束打包發貨。

而當客戶收到的數據和最終出貨的Map圖不一致，會造成客戶不必要損失，因此，在實際測試過程中，確保客戶收到的數據是最終測試結果就顯得非常重要。

在現用的半導體測試結果確認中，IT系統會把數據發給客戶，把Map圖發給封裝廠家，但由于數據傳輸和復測的原因，造成客戶收到的數據和實際封裝的Map圖不一致。

因此需要設計一種芯片測試結果的可靠的數據傳輸驗證方法，解決上述提及的技術問題，在測試后工程師會將測試結果整理成特定格式的文件，通過ftp發送給客戶，確保客戶收到的數據和最終出貨的Map圖是完全一致的。

發明內容

本發明的目的在于提供一種芯片測試結果的可靠的數據傳輸驗證方法，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種芯片測試結果的可靠的數據傳輸驗證方法，包括以下步驟：

S1：在來料時，獲取客戶提供的IQC數據，分析后存入測試廠系統中；

S2：測試晶圓，生成數據后上傳給客戶；

S3：出貨檢驗時，上傳OQC數據給客戶；

S4：在出貨時，根據測試廠系統中的數據，整合IQC和OQC數據，生成GDC給客戶；

S5：客戶根據自家的IQC數據，結合測試廠生成的數據及OQC數據，計算出GDC，反饋給測試廠；

S6：測試廠根據客戶反饋的GDC數據，對比測試廠自家的GDC數據，如果雙方的GDC一致，則判定為雙方數據匹配，可以出貨；

S7：測試廠判斷GDC與客戶是否一致，如果一致，可以出貨；否則重新上傳數據后生成新的GDC與客戶核對，核對一致才能出貨。

S2中所生成的數據包括但不限于RawData、STDF數據。

本發明同現有技術相比，通過對IQC和OQC數據以及GDC數據的對比匹配，實現了客戶收到的數據和最終出貨的Map圖是完全一致的。

附圖說明

圖1是本發明的工作流程示意圖；

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

請參閱圖1，本發明提供一種技術方案：一種芯片測試結果的可靠的數據傳輸驗證方法，包括以下步驟：