[發(fā)明專利]電子配件測試處理器

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210188188.1
• 申請日: 2022-02-28
• 公開（公告）號: CN115078896A
• 公開（公告）日: 2022-09-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 羅閏成;羅明珍;金東現(xiàn)
• 申請（專利權(quán)）人: 泰克元有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R31/26;B07C5/344
• 代理公司: 深圳紫藤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 黃威

1.一種電子配件測試處理器，其特征在于，包括：

第一托盤，用以安置多個電子配件；

傳送手，包括沿x軸方向排列的多個拾取器，將安置于所述第一托盤上的所述多個電子配件傳送到第二托盤；

拍攝單元，通過拍攝所述多個拾取器獲取圖像信息；以及

控制部，基于所述圖像信息，當(dāng)所述傳送手放置于所述第一托盤上的第一托盤位置時,獲取作為所述多個拾取器各個的x軸坐標(biāo)的第一拾取器x坐標(biāo)；

所述控制部，

當(dāng)所述傳送手放置于所述第一托盤位置時，算出作為所述多個拾取器各個的預(yù)設(shè)的x軸坐標(biāo)的第一基準(zhǔn)x坐標(biāo)和對應(yīng)于所述第一基準(zhǔn)x坐標(biāo)的作為所述第一拾取器x坐標(biāo)的差異的所述多個拾取器各個的第一x坐標(biāo)偏差值；

當(dāng)所述多個第一x坐標(biāo)偏差值中具有最大值的第一最大x偏差值小于預(yù)設(shè)的x臨界值時,所述傳送手向x軸的一側(cè)移動所述多個第一x坐標(biāo)偏差值中具有最小值的第一最小x偏差值和作為所述第一最大x偏差值的平均值的第一平均x偏差值之后，控制所述傳送手從所述第一托盤中把持所述多個電子配件。

2.如權(quán)利要求1所述的電子配件測試處理器，其特征在于，

所述多個拾取器中至少一部分沿y軸方向排列；

所述控制部，

基于所述圖像信息，當(dāng)所述傳送手放置于所述第一托盤位置時,獲取作為所述多個拾取器各個的y軸坐標(biāo)的第一拾取器y坐標(biāo)；

當(dāng)所述傳送手放置于所述第一托盤位置時，算出作為所述多個拾取器各個的預(yù)設(shè)的y軸坐標(biāo)的第一基準(zhǔn)y坐標(biāo)和對應(yīng)于所述第一基準(zhǔn)y坐標(biāo)的作為所述第一拾取器y坐標(biāo)的差異的所述多個拾取器各個的第一y坐標(biāo)偏差值；

當(dāng)所述多個第一y坐標(biāo)偏差值中具有最大值的第一最大y偏差值小于或者等于預(yù)設(shè)的y臨界值時,所述傳送手向y軸方向的一側(cè)移動所述多個第一y坐標(biāo)偏差值中具有最小值的第一最小y偏差值和作為所述第一最大y偏差值的平均值的第一平均y偏差值之后，控制所述傳送手從所述第二托盤中把持所述多個電子配件。

3.如權(quán)利要求1所述的電子配件測試處理器，其特征在于，

所述控制部，

當(dāng)所述傳送手放置于所述第二托盤上的第二托盤位置時,獲取作為所述多個拾取器各個的x軸坐標(biāo)的第二拾取器x坐標(biāo)；

當(dāng)所述傳送手放置于所述第二托盤位置時，算出作為所述多個拾取器各個的預(yù)設(shè)的x軸坐標(biāo)的第二基準(zhǔn)x坐標(biāo)和對應(yīng)于所述第二基準(zhǔn)x坐標(biāo)的作為所述第二拾取器x坐標(biāo)的差異的所述多個拾取器各個的第二x坐標(biāo)偏差值；

算出作為所述多個拾取器各個的所述第一x坐標(biāo)偏差值和所述第二x坐標(biāo)偏差值的差異的x校正值，并且算出作為所述多個x校正值的最大值和最小值的平均值的x校正值；

所述傳送手向x軸方向的一側(cè)移動所述第一平均x偏差值，并且向x軸方向的另一側(cè)移動所述平均x校正值之后，控制所述傳送手使得所述多個電子配件安置于所述第二托盤上。

4.如權(quán)利要求1所述的電子配件測試處理器，其特征在于，

所述控制部，

當(dāng)所述多個第一x坐標(biāo)偏差值中的一個或者多個超過所述x臨界值時，控制所述傳送手使得所述多個拾取器放置于從所述第一拾取器x坐標(biāo)間隔其他平均x偏差值的位置上；

控制所述傳送手使得超過所述x臨界值的一個或者多個拾取器放置于所述多個電子配件中的一個或者多個電子配件上；

所述其他平均x偏差值是超過所述x臨界值的一個或者多個拾取器以外的其余拾取器的最大x偏差值和最小x偏差值的平均值。