[發明專利]一種電子設備

在審

• 申請號: 202210185375.4
• 申請日: 2022-02-28
• 公開（公告）號: CN114582648A
• 公開（公告）日: 2022-06-03
• 發明（設計）人: 黃銳程
• 申請（專利權）人: 維沃移動通信有限公司
• 主分類號: H01H13/14
• 分類號: H01H13/14;G01R33/02
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 馮宇潮

本申請公開了一種電子設備，屬于電子設備技術領域。所述按鍵結構包括：按鍵、電路板和按壓檢測組件；按鍵插設于電子設備的框體上開設的按鍵通孔內、且可沿按鍵通孔的軸線運動，按鍵通過金屬彈針與一測量電路電連接，按鍵為測量電路的一個測量電極；按壓檢測組件包括磁場產生單元、磁場檢測單元以及控制單元，磁場產生單元用于產生磁場，磁場產生單元設置于按鍵或電路板上，控制單元根據磁場檢測單元檢測到的磁場強度判斷按鍵是否被按壓。在本申請中，通過在按鍵上設置磁場產生單元以產生磁場，從而根據磁場檢測單元檢測到的磁場強度判斷按鍵是否被按壓，提高了按鍵結構的使用壽命，按鍵觸發邏輯簡單、效果好。

技術領域

本申請屬于電子設備技術領域，具體涉及一種電子設備。

背景技術

目前市面上常見的智能設備通常設置有按鍵，當按鍵被用力按下時，按鍵會帶著金屬彈片內移，下壓內置觸點，完成一個按鍵觸發的動作，而當按鍵上施加的力釋放后，內部機構的彈簧會帶動按鍵和金屬彈片回位。

然而，上述設計至少存在以下問題：在使用過程中，按鍵通過下壓金屬彈片然后觸發內置觸點，因此金屬彈片承受的應力會相對較大，此時金屬彈片折彎處的形變比較大，容易出現金屬疲勞，長期使用后會出現金屬彈片回彈力不足，繼而導致按鍵與內置觸點接觸不良。

發明內容

本申請實施例的目的是提供一種電子設備，能夠解決現有技術中金屬彈片容易出現金屬疲勞，長期使用后容易出現金屬彈片回彈力不足，繼而導致按鍵與內置觸點接觸不良的問題。

本申請實施例提供了一種電子設備，該電子設備包括：

按鍵、電路板和按壓檢測組件

所述按鍵插設于所述電子設備的框體上開設的按鍵通孔內、且可沿所述按鍵通孔的軸線運動，所述按鍵通過金屬彈針與一測量電路電連接，所述按鍵為所述測量電路的一個測量電極；

所述按壓檢測組件包括磁場產生單元、磁場檢測單元以及控制單元，所述磁場產生單元用于產生磁場，所述磁場產生單元設置于所述按鍵或所述電路板上，所述按鍵沿所述按鍵通孔的軸線運動時所述磁場檢測單元檢測到的磁場強度發生變化，所述控制單元根據所述磁場檢測單元檢測到的磁場強度判斷所述按鍵是否被按壓。

在本申請實施例中，通過在按鍵上設置磁場產生單元以產生穩定的磁場，當按鍵的位置發生變化時，磁場產生單元的位置隨之發生變化，磁場檢測單元檢測到的磁場強度也將發生變化，從而根據磁場檢測單元檢測到的磁場強度即可判斷出按鍵是否被按壓，由此，避免了采用金屬彈片等接觸式結構來實現按鍵觸控，提高了按鍵結構的使用壽命，并且按鍵觸發邏輯簡單、效果好。

附圖說明

圖1為相關技術中的按鍵結構的結構示意圖；

圖2為本申請實施例提供的矢量磁場強度H的分解示意圖；

圖3為本申請實施例提供的按鍵結構的示意圖之一；

圖4為本申請實施例提供的按鍵結構的示意圖之二；

圖5為本申請實施例提供的按鍵結構的示意圖之三；

圖6為本申請實施例提供的按鍵結構的示意圖之四；

圖7為本申請實施例提供的按鍵結構的示意圖之五；

圖8為本申請實施例提供的按鍵結構的示意圖之六；

圖9為本申請實施例提供的按鍵結構的示意圖之七；

圖10為本申請實施例提供的按鍵結構的示意圖之八。

具體實施方式