[發明專利]一種測試用例確定方法、系統及相關組件

在審

• 申請號: 202210182265.2
• 申請日: 2022-02-25
• 公開（公告）號: CN114564394A
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: 高乙文;沈欣舞;邵海波
• 申請（專利權）人: 山東云海國創云計算裝備產業創新中心有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06F30/33
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 柳虹

本申請公開了一種測試用例確定方法、系統及相關組件，該方法包括：接收目標測試參數；查詢激勵池中是否存在對應所述目標測試參數的測試激勵序列；若否，則根據所述目標測試參數和測試函數生成所述測試激勵序列；輸出所述測試激勵序列，以生成測試用例進行待測設計驗證。本申請根據目標測試參數自動輸出測試激勵序列，該激勵序列能夠直接生成測試用例進行待測設計驗證，避免了繁雜的手動配置及流程梳理，具有靈活復用、利用項目迭代的優點。

技術領域

本發明涉及系統測試領域，特別涉及一種測試用例確定方法、系統及相關組件。

背景技術

當前，測試驗證是芯片開發過程中至關重要的過程，是決定待測設計正常并正確工作的關鍵點。目前，最通用的驗證方法是采用UVM(Universal VerificationMethodology，通用驗證方法)方法，從搭建UVM驗證平臺到開發基于SV語言的測試用例，其中激勵Sequence是最重要的一環，它用于產生測試激勵，以使被測設備工作，進而觀測測試結果。

當被測設備為SoC(Systemon Chip，片上系統)級，由于規模過大，眾多調試資源需要調試，無疑會增加驗證人員的調試復雜度。編譯基于SV(System Verilog，系統硬件描述語言)語言開發的測試用例時，將涉及到對整個UVM驗證環境的編譯，繼而生成可執行文件(simv)。該過程耗時長，對服務器資源的消耗較大，不宜頻繁修改測試用例，對于測試用例需求較高的被測設備來說靈活性不強。

因此，如何提供一種解決上述技術問題的方案是目前本領域技術人員需要解決的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種高效快速的測試用例確定方法、系統及相關組件。其具體方案如下：

一種測試用例確定方法，包括：

接收目標測試參數；

查詢激勵池中是否存在對應所述目標測試參數的測試激勵序列；

若否，則根據所述目標測試參數和測試函數生成所述測試激勵序列；

輸出所述測試激勵序列，以生成測試用例進行待測設計驗證。

優選的，所述根據所述目標測試參數和測試函數生成所述測試激勵序列的過程，包括：根據所述目標測試參數和測試函數，通過JTAG接口鏈生成所述測試激勵序列。

優選的，所述測試激勵序列具體為IR序列和DR序列。

優選的，所述待測設計為包括DAP的待測設計。

優選的，所述根據所述目標測試參數和測試函數生成所述測試激勵序列的過程包括：

根據所述目標測試參數和測試函數生成并結合DPI-C接口方法輸出所述測試激勵序列。

優選的，所述測試函數包括：

VIP復位與解復位函數；

IR/DR載入函數；

TDO檢查函數；

基本測試用例函數。

優選的，所述測試用例為C語言測試用例；

相應的，所述測試用例進行待測設計驗證的過程包括：對所述測試用例在編譯過程中產生的預設格式文件發送到可執行文件，以啟動待測設計驗證。

相應的，本申請還公開了一種測試用例確定系統，包括：

參數接口，用于接收目標測試參數；

動作模塊，用于查詢激勵池中是否存在對應所述目標測試參數的測試激勵序列；若否，則根據所述目標測試參數和測試函數生成所述測試激勵序列；