[發(fā)明專利]一種基于測量Dpar值的物源分析方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210181472.6
• 申請日: 2022-02-25
• 公開（公告）號: CN114813728A
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 付紅楊;沈傳波;史冠中;曾小偉;楊超群
• 申請（專利權(quán)）人: 中國地質(zhì)大學(xué)（武漢）
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N17/00;G01N21/55;G01B11/02;G01N1/28;G01N1/32
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于測量Dpar值的物源分析方法，其特征在于：包括以下步驟：

S1、采集沉積區(qū)和源區(qū)樣品；

S2、測量步驟S1得到的樣品的Dpar值；

S3、實施數(shù)據(jù)分析

采用多維尺度分析法對步驟S2得到的Dpar值進行分組，得到分組數(shù)據(jù)，以Dpar值為參數(shù)，匹配沉積區(qū)和源區(qū)具有相同Dpar值特征的分組數(shù)據(jù)構(gòu)建沉積區(qū)-源區(qū)耦合模型，得到物源分析結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的一種基于測量Dpar值的物源分析方法，其特征在于：步驟S1中，所述樣品包括沉積物中挑選出的磷灰石礦物。

3.如權(quán)利要求2所述的一種基于測量Dpar值的物源分析方法，其特征在于：步驟S2中，測量磷灰石樣品的Dpar值的過程包括：通過對磷灰石樣品進行制靶、拋光、和蝕刻操作，進行反射光下Dpar長度測量，所有所述Dpar長度值的算術(shù)平均值為Dpar值。

4.如權(quán)利要求3所述的一種基于測量Dpar值的物源分析方法，其特征在于：所述Dpar長度為與磷灰石結(jié)晶C軸平行的、與拋光面相交的所述裂變徑跡蝕刻坑的最大直徑。

5.如權(quán)利要求4所述的一種基于測量Dpar值的物源分析方法，其特征在于：測量磷灰石樣品的Dpar值的具體過程包括以下步驟：

S11、制靶：用含環(huán)氧樹脂的溶液調(diào)膠，將磷灰石顆粒均勻撒在模具底部，室溫下凝固；

S12、拋光：依次使用800#、1200#、2400#的砂紙和不同粒徑的金剛砂進行拋光；

S13、硝酸蝕刻：配制5.5±0.1mol/L的硝酸蝕刻液，控制硝酸蝕刻液溫度為21±1℃，將步驟S12得到的磷灰石樣品浸入硝酸蝕刻液中20±1s后取出并洗凈；使用ZEISS AxioImager顯微鏡觀察統(tǒng)計單個磷灰石顆粒的裂變徑跡蝕刻坑圖形；

S14、Dpar長度測量：使用ZEISS Axio Imager顯微鏡觀察步驟S13得到的蝕刻樣品，統(tǒng)計單個磷灰石顆粒的裂變徑跡的裂變徑跡蝕刻坑圖形，測量所述裂變徑跡蝕刻坑的最大直徑，即Dpar長度；

S15、計算：將步驟S14得到的所有Dpar長度數(shù)據(jù)算術(shù)平均，得到Dpar值。

6.如權(quán)利要求5所述的一種基于測量Dpar值的物源分析方法，其特征在于：步驟S13中，統(tǒng)計單個顆粒的裂變徑跡的裂變徑跡蝕刻坑圖形的數(shù)量不少于60個。

7.如權(quán)利要求5所述的一種基于測量Dpar值的物源分析方法，其特征在于：步驟S12中，所述金剛砂的粒徑為6μm、3μm、1μm和0.04μm的金剛砂。

8.如權(quán)利要求1所述的一種基于測量Dpar值的物源分析方法，其特征在于：步驟S3中，實施數(shù)據(jù)分析使用的軟件包括isoplotR軟件。