[發(fā)明專利]基于多分辨率集成的航天器遙測異常檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210180126.6 | 申請日: | 2022-02-25 |
| 公開(公告)號: | CN114626444A | 公開(公告)日: | 2022-06-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馬千里;余忠忠 | 申請(專利權(quán))人: | 華南理工大學 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06V10/30;G06V10/80;G06V10/82 |
| 代理公司: | 廣州市華學知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245 | 代理人: | 黃衛(wèi)萍 |
| 地址: | 510640 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 分辨率 集成 航天器 遙測 異常 檢測 方法 | ||
1.一種基于多分辨率集成的航天器遙測異常檢測方法,其特征在于,所述航天器遙測異常檢測方法包括以下步驟:
S1、獲取航天器遙測數(shù)據(jù),并對遙測數(shù)據(jù)進行包括標準化在內(nèi)的預處理;
S2、對航天器遙測數(shù)據(jù)進行下采樣,組織成不同長度的輸入序列數(shù)據(jù);
S3、將所述輸入序列數(shù)據(jù)輸入多分辨率編碼模塊,得到隱層特征;
S4、融合所述隱層特征,將融合后的隱層特征輸入多分辨率解碼模塊,得到輸出序列數(shù)據(jù);
S5、引入形狀約束損失約束輸出序列的形狀,并結(jié)合重構(gòu)損失迭代訓練;
S6、根據(jù)輸入序列和輸出序列的重構(gòu)誤差計算相應的異常分數(shù),檢測出遙測數(shù)據(jù)中的異常值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于多分辨率集成的航天器遙測異常檢測方法,其特征在于,所述步驟S2中對航天器遙測傳感數(shù)據(jù)X={x1,x2,...,xT},其中xT表示T時刻的遙測數(shù)據(jù),T表示序列數(shù)據(jù)的長度,進行下采樣得到K條下采樣序列,下采樣過程如下:
其中表示第k條下采樣序列第t時刻的遙測數(shù)據(jù)值,k=1,2,....,K,T(k)表示序列的長度,τ表示下采樣單元的大小,第1條下采樣序列X(1)=X。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于多分辨率集成的航天器遙測異常檢測方法,其特征在于,所述步驟S3中多分辨率編碼模塊包括K個基于長短期記憶網(wǎng)絡(luò)的編碼器,編碼器的個數(shù)與所述下采樣序列的數(shù)目相同,第k個基于長短期記憶網(wǎng)絡(luò)的編碼器隱層狀態(tài)融合過程如下:
其中,為第k個編碼器在t-1時刻的隱層狀態(tài),和分別表示第k-1個編碼器在τt-1時刻和τt時刻的隱層狀態(tài),τ表示下采樣單元的大小,β∈(0,1]表示權(quán)重系數(shù),表示第k個編碼器在t時刻經(jīng)過多分辨率融合后的隱層狀態(tài);
將所述隱層狀態(tài)輸入長短期記憶網(wǎng)絡(luò)進行隱層狀態(tài)更新,過程如下:
ct=ft⊙ct-1+it⊙gt
其中,和分別表示第k個編碼器在t時刻的輸入數(shù)據(jù)和隱層狀態(tài),it、ft、ot分別是長短期記憶網(wǎng)絡(luò)的輸入門、遺忘門和輸出門。gt是記憶單元臨時狀態(tài),ct是記憶單元狀態(tài),σ和tanh均為非線性激活函數(shù),⊙表示逐元素相乘,M是由可訓練參數(shù)組成的仿射變換。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于多分辨率集成的航天器遙測異常檢測方法,其特征在于,所述步驟S4中融合輸入序列的隱層特征的過程如下:
式中,表示第k個編碼器在最后時刻T(k)的隱層狀態(tài),表示向量間依次拼接操作,MFC是由可訓練參數(shù)組成的仿射變換,表示經(jīng)過拼接融合后的隱層特征;
所述多分辨率解碼模塊包括K個基于長短期記憶網(wǎng)絡(luò)的解碼器,第k個基于長短期記憶網(wǎng)絡(luò)的解碼器隱層狀態(tài)融合過程如下:
其中,為第k個解碼器在t+1時刻的隱層狀態(tài),為第k+1個解碼器在時刻的隱層狀態(tài),τ表示下采樣單元的大小,為向上取整操作,τ表示下采樣單元的大小,β∈(0,1]表示權(quán)重系數(shù),表示第k個解碼器在t時刻經(jīng)過多分辨率融合后的隱層狀態(tài);
將所述隱層狀態(tài)輸入長短期記憶網(wǎng)絡(luò)進行隱層狀態(tài)更新及得到輸出數(shù)據(jù),過程如下:
ct=ft⊙ct-1+it⊙gt
式中,和表示第k個解碼器在t時刻的隱層狀態(tài)、輸出數(shù)據(jù),it、ft、ot分別是長短期記憶網(wǎng)絡(luò)的輸入門、遺忘門和輸出門。gt是記憶單元臨時狀態(tài),ct是記憶單元狀態(tài),σ和tanh均為非線性激活函數(shù),⊙表示逐元素相乘,M是由可訓練參數(shù)組成的仿射變換,和表示輸出單元的權(quán)重和偏置項。
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