[發(fā)明專利]軟件質(zhì)量評估方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210174710.0
• 申請日: 2022-02-24
• 公開（公告）號: CN114546864A
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 丁省
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳創(chuàng)維-RGB電子有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06Q10/06
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 黃廷山

本發(fā)明公開了一種軟件質(zhì)量評估方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，屬于軟件測試技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括：獲取待測軟件的缺陷類型以及所述缺陷類型對應(yīng)的缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)；基于所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)，得到所述缺陷類型對應(yīng)的加權(quán)系數(shù)；根據(jù)所述缺陷類型、所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)和所述加權(quán)系數(shù)，得到所述待測軟件的質(zhì)量評估結(jié)果。本發(fā)明結(jié)合軟件中不同的缺陷類型以及對應(yīng)的缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)，得到不同缺陷的加權(quán)系數(shù)，以此來表征不同缺陷的對軟件質(zhì)量的影響，最后得到對應(yīng)的質(zhì)量評估結(jié)果，用具體的數(shù)值來直觀展示待測軟件的質(zhì)量情況。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及軟件測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種軟件質(zhì)量評估方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

相關(guān)技術(shù)中，一般利用JIRA缺陷管理庫進(jìn)行缺陷跟蹤，然后通過表格或記錄的方式統(tǒng)計檢測出的缺陷。

但是，現(xiàn)階段在產(chǎn)品開發(fā)過程中，產(chǎn)品規(guī)模往往較大、且產(chǎn)品需求可能會頻繁變更，因此軟件測試涉及的數(shù)據(jù)量很大，此時若采用上述方法無法直觀得到軟件的質(zhì)量情況，進(jìn)而也難以對軟件質(zhì)量進(jìn)行評估。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種軟件質(zhì)量評估方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中無法直觀得到軟件的質(zhì)量情況，進(jìn)而也難以對軟件質(zhì)量進(jìn)行評估的技術(shù)問題。

根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供了一種軟件質(zhì)量評估方法，所述方法包括：

獲取待測軟件的缺陷類型以及所述缺陷類型對應(yīng)的缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)；

基于所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)，得到所述缺陷類型對應(yīng)的加權(quán)系數(shù)；

根據(jù)所述缺陷類型、所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)和所述加權(quán)系數(shù)，得到所述待測軟件的質(zhì)量評估結(jié)果。

可選地，所述基于所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)，得到所述缺陷類型對應(yīng)的加權(quán)系數(shù)，包括：

根據(jù)所述缺陷類型，得到對應(yīng)的缺陷狀態(tài)信息和缺陷程度信息；

根據(jù)所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)，得到與所述缺陷狀態(tài)信息對應(yīng)的第一加權(quán)系數(shù)、以及與所述缺陷程度信息對應(yīng)的第二加權(quán)系數(shù)；

所述根據(jù)所述缺陷類型、所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)和所述加權(quán)系數(shù)，得到所述待測軟件的質(zhì)量評估結(jié)果，包括：

根據(jù)所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)，得到與所述第一加權(quán)系數(shù)和所述第二加權(quán)系數(shù)對應(yīng)的缺陷數(shù)量；

根據(jù)所述缺陷數(shù)量、所述第一加權(quán)系數(shù)以及所述第二加權(quán)系數(shù)，得到所述待測軟件的質(zhì)量評估結(jié)果。

可選地，所述根據(jù)所述缺陷數(shù)量、所述第一加權(quán)系數(shù)以及所述第二加權(quán)系數(shù)，得到所述待測軟件的質(zhì)量評估結(jié)果，包括：

根據(jù)所述缺陷數(shù)量、所述第一加權(quán)系數(shù)、所述第二加權(quán)系數(shù)以及第一公式，得到所述待測軟件的質(zhì)量評估結(jié)果；

其中，所述第一公式為：

其中，m為所述待測軟件的質(zhì)量評估結(jié)果，c_i為第i組缺陷類型對應(yīng)缺陷的第一加權(quán)系數(shù)，s_i為第i組缺陷類型對應(yīng)缺陷的第二加權(quán)系數(shù)，n_i為第i組缺陷類型對應(yīng)缺陷的數(shù)量。

可選地，所述根據(jù)所述缺陷類型、所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)和所述加權(quán)系數(shù)，得到所述待測軟件的質(zhì)量評估結(jié)果之后，所述方法還包括：

判斷所述質(zhì)量評估結(jié)果是否大于預(yù)設(shè)閾值；

若所述質(zhì)量評估結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值，則將所述缺陷類型和所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)發(fā)送給測試終端，以使測試人員根據(jù)所述缺陷類型和所述缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)進(jìn)行缺陷修復(fù)，并反饋缺陷修復(fù)數(shù)據(jù)；