[發明專利]深度測量方法、雙目立體視覺系統、裝置及存儲介質在審
| 申請號: | 202210174111.9 | 申請日: | 2022-02-24 |
| 公開(公告)號: | CN114519713A | 公開(公告)日: | 2022-05-20 |
| 發明(設計)人: | 周凡 | 申請(專利權)人: | 銀牛微電子(無錫)有限責任公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/50 |
| 代理公司: | 上海隆天律師事務所 31282 | 代理人: | 高彥 |
| 地址: | 214400 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 深度 測量方法 雙目 立體 視覺 系統 裝置 存儲 介質 | ||
1.一種深度測量方法,其特征在于,應用于雙目立體視覺系統:所述深度測量方法包括:
獲取雙目立體視覺系統攝取的原始圖像對;
基于所述原始圖像對分別執行第一優化處理和第二優化處理以得到第一優化圖像對和第二優化圖像對;其中,所述第一優化處理和第二優化處理為用于縮減被處理圖像在圖像水平方向上像素的不同圖像處理方式;所述被處理圖像為原始圖像對中的每個原始圖像;
基于所述第一優化圖像對執行立體匹配并計算得到第一深度圖;以及,基于所述第二優化圖像對執行立體匹配并計算得到第二深度圖像;
基于深度測量質量結果對第一深度圖像和第二深度圖像進行合成以得到目標深度圖像。
2.根據權利要求1所述的深度測量方法,其特征在于,所述第一優化處理和第二優化處理基于至少一個可調的圖像優化因子執行,以用于調節第一優化處理圖像對和第二優化處理圖像對各自中的成對同名像素點之間視差。
3.根據權利要求2所述的深度測量方法,其特征在于,所述圖像優化因子為一預設圖像優化因子,用于強弱相反地控制第一優化處理和第二優化處理的像素縮減作用。
4.根據權利要求1所述的深度測量方法,其特征在于,所述第一優化處理和第二優化處理分別為選擇丟棄和選擇保留被處理圖像在圖像水平方向上的部分像素的圖像處理方式;所述第一優化處理所選擇丟棄的部分像素的第一數量由一第一圖像優化因子所確定;所述第二優化處理所選擇保留的部分像素的第二數量由一第二圖像優化因子所確定;所述第一圖像優化因子和第二圖像優化因子相同或不同。
5.根據權利要求4所述的深度測量方法,其特征在于,所述第一圖像優化因子和第二圖像優化因子為相同的預設圖像優化因子。
6.根據權利要求5所述的深度測量方法,其特征在于,所述預設圖像優化因子被用于強弱相反地控制所述第一優化處理的像素丟棄作用及第二優化處理的像素保留作用。
7.根據權利要求5所述的深度測量方法,其特征在于,所述預設圖像優化因子與所述第一數量和第二數量中的一個正相關,并與另一個負相關。
8.根據權利要求1所述的深度測量方法,其特征在于,在所述第一深度圖像和第二深度圖像合成之前,還包括:
通過插值恢復所述第一深度圖像和/或第二深度圖像至原始圖像分辨率。
9.根據權利要求1所述的深度測量方法,其特征在于,所述第一優化處理包括:從被處理圖像裁剪并丟棄一圖像區域,以得到優化圖像用于立體匹配;其中,被裁剪的圖像區域與被處理圖像之間的圖像垂直分辨率相同,且被裁剪的圖像區域與被處理圖像的圖像水平分辨率比例為1:N,N為大于1的整數;
和/或,所述第二優化處理包括:沿圖像水平方向從被處理圖像等間隔采樣一像素列并丟棄各像素列之間的圖像區域,以得到優化圖像用于立體匹配;其中,所述像素列與被處理圖像的圖像垂直分辨率相同,且所述間隔與被處理圖像在圖像水平方向上的寬度比為1:P,P為大于1的整數。
10.根據權利要求9所述的深度測量方法,其特征在于,N和P均為圖像優化因子M。
11.根據權利要求9所述的深度測量方法,其特征在于,所述從被處理圖像裁剪并丟棄一圖像區域,包括:對被處理圖像居中裁剪并丟棄圖像區域。
12.根據權利要求9所述的深度測量方法,其特征在于,在所述第一深度圖像和第二深度圖像合成之前,還包括:
基于所述第二深度圖像執行圖像插值,以恢復為所述原始圖像分辨率。
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