[發明專利]一種不同溫度與磁場下磁材料磁特性測試裝置和方法

在審

• 申請號: 202210173030.7
• 申請日: 2022-02-24
• 公開（公告）號: CN114545306A
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 徐學平;孫津濟;任建伊;周偉勇
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學;北京航空航天大學寧波創新研究院
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12;G01R33/14
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 杜月

1.一種不同溫度與磁場下磁材料磁特性測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：無磁加熱烤箱、線圈組、第一軟磁材料磁特性測試儀、無磁加熱單元、磁屏蔽單元、烘干箱測試單元；

所述無磁加熱烤箱用于放置第一被測樣件，所述線圈組纏繞在第一被測樣件上并且與第一軟磁材料磁特性測試儀相連，第一軟磁材料磁特性測試儀用于對第一被測樣件上的線圈組提供勵磁電流以及檢測所述被測樣件的感應電壓，對被第一測樣件磁特性進行測量；

所述無磁加熱烤箱放置在磁屏蔽單元內部并且與無磁加熱單元和第一軟磁材料磁特性測試儀相連，所述無磁加熱單元用于對無磁加熱烤箱內的第一被測樣件進行加熱以及對無磁加熱烤箱內的溫度進行調節；

所述磁屏蔽單元，用于為無磁加熱烤箱以及無磁加熱烤箱內的第一被測樣件的提供弱磁環境、屏蔽外界干擾磁場，所述第一軟磁材料磁特性測試儀測試磁屏蔽單元內的第一被測樣件在不同溫度和磁場條件下的磁特性；

所述烘干箱測試單元包括烘干箱、設置在烘干箱內并且纏繞有線圈組的第二被測樣件、第二被測樣件上的線圈組連接的第二軟磁材料磁特性測試儀，所述第二軟磁材料磁特性測試儀，用于對無磁場大小要求的第二被測樣件上的線圈組提供勵磁電流以及檢測所述被第二測樣件的感應電壓，從而對無磁場要求的被第二測樣件磁特性進行測量，將烘干箱內溫度調整至與無磁加熱烤箱內溫度相同，對比相同溫度下且僅有磁場影響時第一被測樣件和第二被測樣件磁特性變化。

2.根據權利要求1所述的所述裝置，其特征在于，所述無磁加熱烤箱通過第一支架設置在磁屏蔽單元內部，所述第一支架設置用于對無磁加熱烤箱進行支撐和固定。

3.根據權利要求1所述的所述裝置，其特征在于，所述無磁加熱單元包括：溫度控制器、第一溫度傳感器以及多個無磁加熱膜；

所述溫度控制器與無磁加熱膜相連，所述無磁加熱膜設置在所述無磁加熱烤箱內表面，用于對無磁加熱烤箱以及無磁加熱烤箱內的第一被測樣件進行加熱；

所述第一溫度傳感器設置在所述無磁加熱烤箱內并與溫度控制器連接，用于對無磁加熱烤箱內的溫度進行測量并將測得的溫度信號傳輸至溫度控制器；

所述溫度控制器與電源和相連，用于為無磁加熱膜提供電壓，所述溫度控制器根據第一溫度傳感器傳送過來的控制信號控制電源的通斷狀態，從而對無磁加熱烤箱內的溫度進行控制。

4.根據權利要求1所述的所述裝置，其特征在于，所述磁屏蔽單元包括坡莫合金屏蔽層組、設置在坡莫合金屏蔽層組外部的鋁合金屏蔽層、屏蔽層間限位塊組和墊板組；

所述坡莫合金屏蔽層組包括由內至外依次套設的多個坡莫合金屏蔽層，用于通過通量分流作用對靜磁場或極低頻磁場進行屏蔽；

所述屏蔽層間限位塊組包括設置于坡莫合金屏蔽層之間的屏蔽層間限位塊，屏蔽層間限位塊用于保持鋁合金屏蔽層與坡莫合金屏蔽層之間以及坡莫合金屏蔽層之間的間距；

所述墊板組包括多個墊板，墊板分別設置在對應的坡莫合金屏蔽層下方，用于為對應的坡莫合金屏蔽層提供安裝平臺以及提供支撐力。

5.根據權利要求4所述的所述裝置，其特征在于，最內層的坡莫合金屏蔽層內表面設置有保溫層，所述保溫層用于對無磁加熱烤箱與磁屏蔽單元之間進行隔離，避免無磁加熱烤箱對所述磁屏蔽單元性能的影響。

6.根據權利要求4所述的所述裝置，其特征在于，每個所述坡莫合金屏蔽層都設置有對應的坡莫合金屏蔽蓋，所述鋁合金屏蔽層上設置有對應的鋁合金屏蔽蓋，所述坡莫合金屏蔽蓋上和鋁合金屏蔽蓋上均對應設置有實驗孔，用于供溫度控制器以及軟磁材料磁特性測試儀的測試線通過。

7.根據權利要求1所述的所述裝置，其特征在于，所述線圈組包括：勵磁繞組線圈和感應繞組線圈，每個被測樣件兒上都纏繞有勵磁繞組線圈和感應繞組線圈，且所述勵磁繞組線圈和感應繞組線圈纏繞在被測樣件的整個周長上。