[發明專利]一種基于量子點熒光探針陣列的重金屬離子檢測方法

有效

• 申請號: 202210172775.1
• 申請日: 2022-02-24
• 公開（公告）號: CN114441497B
• 公開（公告）日: 2023-10-20
• 發明（設計）人: 蔣文靜;李中午
• 申請（專利權）人: 重慶尚立儀器設備有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京正華智誠專利代理事務所(普通合伙) 11870
• 代理人: 何凡

1.一種基于量子點熒光探針陣列的重金屬離子檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)根據不同熒光探針對不同重金屬離子的響應特性，將不同熒光探針排列形成熒光探針組合；

(2)將熒光探針組合分別與去離子水和待檢測溶液混合，然后加入微腔室陣列，分別形成空白對照組和待檢測溶液組；

(3)將步驟(2)所得的微腔室陣列放置在熒光檢測系統里進行熒光檢測并拍照，對拍照結果進行RGB識別，將空白對照組RGB值和對應腔室待檢測溶液組RGB值的差值與設定的閾值進行對比，超過閾值為滅，記為“0”，低于閾值為亮，記為“1”，根據二進制代碼組合檢測重金屬離子是否超標。

2.根據權利要求1所述的基于量子點熒光探針陣列的重金屬離子檢測方法，其特征在于，步驟(1)中不同熒光探針具體為CdSe@ZnS-Cys量子點、CdTe-GSH量子點、CdTe-COOH量子點、CdTe-GSH量子點和CdTe-COOH量子點的混合量子點，其對應的閾值分別為R＝162且G＝45；B＝160；G＝80；G＝75且B＝77。

3.根據權利要求2所述的基于量子點熒光探針陣列的重金屬離子檢測方法，其特征在于，CdSe@ZnS-Cys量子點的濃度為0.1-0.5μmol/L，CdTe-GSH量子點的濃度為0.1-0.5μmol/L，CdTe-COOH量子點的濃度為0.1-0.5μmol/L，混合量子點中CdTe-GSH量子點的濃度為0.1-0.5μmol/L，混合量子點中CdTe-COOH量子點的濃度為0.4-0.9μmol/L。

4.根據權利要求3所述的基于量子點熒光探針陣列的重金屬離子檢測方法，其特征在于，CdSe@ZnS-Cys量子點的濃度為0.3μmol/L，CdTe-GSH量子點的濃度為0.15μmol/L，CdTe-COOH量子點的濃度為0.35μmol/L，混合量子點中CdTe-GSH量子點的濃度為0.2μmol/L，混合量子點中CdTe-COOH量子點的濃度為0.4μmol/L。

5.根據權利要求1所述的基于量子點熒光探針陣列的重金屬離子檢測方法，其特征在于，步驟(2)中，熒光探針與去離子水的體積比為1：5-10。

6.根據權利要求1所述的基于量子點熒光探針陣列的重金屬離子檢測方法，其特征在于，步驟(2)中，熒光探針與待檢測溶液的體積比為1：5-10。

7.根據權利要求1所述的基于量子點熒光探針陣列的重金屬離子檢測方法，其特征在于，重金屬離子為鉛離子、銅離子或砷離子。

8.根據權利要求1所述的基于量子點熒光探針陣列的重金屬離子檢測方法，其特征在于，步驟(3)中，進行熒光檢測采用的激發光為300-400nm紫外光。