[發(fā)明專利]一種對(duì)重復(fù)出現(xiàn)類型故障的可操作可解釋的根因定位方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210168856.4 | 申請(qǐng)日: | 2022-02-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114661504A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-06-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 裴丹;李則言 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 清華大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06F11/07 | 分類號(hào): | G06F11/07 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 杜月 |
| 地址: | 10008*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 重復(fù) 出現(xiàn) 類型 故障 可操作 可解釋 定位 方法 | ||
1.一種對(duì)重復(fù)出現(xiàn)類型故障的可操作可解釋的根因定位方法,其特征在于,包括以下步驟:
利用監(jiān)控系統(tǒng)進(jìn)行故障監(jiān)控,基于所述監(jiān)控系統(tǒng)監(jiān)控到的故障觸發(fā)訓(xùn)練好的根因定位模型;其中,所述訓(xùn)練好的根因定位模型通過(guò)訓(xùn)練好的決策樹(shù)進(jìn)行全局解釋;
根據(jù)所述故障發(fā)生時(shí)的故障實(shí)例對(duì)應(yīng)的指標(biāo)數(shù)據(jù)和故障依賴圖得到根因故障實(shí)例,并對(duì)所述根因故障實(shí)例的定位結(jié)果進(jìn)行局部解釋;其中,所述故障依賴圖根據(jù)所述故障實(shí)例構(gòu)建。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,利用隨機(jī)梯度下降法預(yù)設(shè)的損失函數(shù),并基于歷史故障數(shù)據(jù)對(duì)根因定位模型進(jìn)行訓(xùn)練,得到所述練好的根因定位模型。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根因定位模型包括特征提取器、特征聚合器和分類器三個(gè)組件,則,
利用所述特征提取器將每個(gè)故障實(shí)例表示為固定長(zhǎng)度的向量;其中,所述向量為實(shí)例級(jí)特征;
利用所述特征聚合器基于所述故障依賴圖的結(jié)構(gòu),把所述每個(gè)故障實(shí)例的相關(guān)故障實(shí)例的實(shí)例級(jí)特征進(jìn)行聚合以得到聚合特征;
利用所述分類器基于所述聚合特征進(jìn)行打分,以根據(jù)所述三個(gè)組件對(duì)所述根因定位模型進(jìn)行設(shè)計(jì)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述利用隨機(jī)梯度下降法預(yù)設(shè)的損失函數(shù),包括:
采用二值交叉熵BCE度量故障T的故障實(shí)例v的輸出分?jǐn)?shù)sT(v)和真實(shí)標(biāo)簽rT(v)的差距之間的差距:
BCE(rT(v),sT(v))=rT(v)·log(sT(v))+(1-rT(v))·log(1-sT(v))
使用額外的權(quán)重對(duì)不同故障實(shí)例的BCE進(jìn)行加權(quán)平均得到所述預(yù)設(shè)的損失函數(shù),所述預(yù)設(shè)的損失函數(shù)為L(zhǎng)s,則:
其中,是訓(xùn)練集,Ti表示一個(gè)訓(xùn)練集中的故障,NH是訓(xùn)練集的大小,V表示所有的故障實(shí)例,
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用局部解釋方式解釋所述根因故障實(shí)例的定位結(jié)果,包括:
預(yù)設(shè)第一故障和第二故障兩個(gè)故障;其中,所述第一故障是待解釋的當(dāng)前故障,所述第二故障是歷史故障;
對(duì)于所述第一故障中的每一個(gè)故障實(shí)例,比較其聚合特征和所述第二故障中每一個(gè)屬于相同故障類別的故障實(shí)例的聚合特征的距離,并將最小的一個(gè)作為該故障實(shí)例和所述第二故障的距離;
對(duì)所述第一故障中所有故障實(shí)例到所述第二故障的距離進(jìn)行加權(quán)平均,通過(guò)比較所述兩個(gè)故障之間的距離公式,以解釋所述根因故障實(shí)例的定位結(jié)果。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,預(yù)設(shè)第一故障T1和第二故障T2,所述兩個(gè)故障之間的距離公式為:
其中,Nc(v)表示所有和故障實(shí)例v屬于同一故障類別的故障實(shí)例集合,表示故障T1中故障實(shí)例v的聚合特征,表示故障T2中故障實(shí)例v′的聚合特征,||·||1表示L1范數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述訓(xùn)練好的根因定位模型通過(guò)訓(xùn)練好的決策樹(shù)進(jìn)行全局解釋,包括:
利用多種時(shí)序曲線特征提取從所述指標(biāo)數(shù)據(jù)中提取第一時(shí)序特征;
利用基于指標(biāo)重構(gòu)的特征提取對(duì)所述第一時(shí)序特征進(jìn)行選擇得到第二時(shí)序特征;
基于所述第二時(shí)序特征訓(xùn)練決策樹(shù)得到所述訓(xùn)練好的決策樹(shù),根據(jù)所述訓(xùn)練好的決策樹(shù)利用所述訓(xùn)練好的根因定位模型對(duì)所述故障實(shí)例進(jìn)行根因判斷;其中,所述訓(xùn)練好的決策樹(shù)中的規(guī)則作為對(duì)所述訓(xùn)練好的根因定位模型的全局解釋。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于清華大學(xué),未經(jīng)清華大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210168856.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)方法以及故障檢測(cè)程序
- 故障預(yù)測(cè)裝置、故障預(yù)測(cè)方法及故障預(yù)測(cè)程序
- 故障分析裝置、故障分析系統(tǒng)及故障分析方法
- 故障檢測(cè)方法、故障檢測(cè)裝置和故障檢測(cè)系統(tǒng)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)方法及計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)方法和計(jì)算機(jī)能讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)系統(tǒng)、故障檢測(cè)方法
- 故障處理方法、裝置、電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障排除方法、故障排除裝置及故障排除系統(tǒng)
- 故障檢測(cè)電路、故障檢測(cè)系統(tǒng)及故障檢測(cè)方法





