[發明專利]顯示面板檢測線路、顯示面板及顯示器件

在審

• 申請號: 202210168041.6
• 申請日: 2022-02-23
• 公開（公告）號: CN114397775A
• 公開（公告）日: 2022-04-26
• 發明（設計）人: 劉建欣
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 李佳桁

本申請提供一種顯示面板檢測線路、顯示面板及顯示器件，涉及了顯示技術領域，解決了目前的顯示面板檢測線路在測試完成以及在刀輪切割后，裸露在外的端子側金屬容易腐蝕膨脹，導致相鄰信號線短路的問題，本申請包括短路棒和與短路棒耦接的測試線，短路棒和測試線共同用于傳輸顯示測試信號至顯示面板內，測試線包括：切割段，切割段采用的是由金屬氧化物導體構成的第一導體層；固定段，固定段耦接于切割段的兩端。本申請通過將測試線的切割段采用由不易腐蝕氧化的金屬氧化物導體構成的第一導體層，從而在切割后，裸露在外的金屬不易發生氧化膨脹，進而改善顯示面板檢測線路發生金屬腐蝕膨脹短路導致顯示面板出現亮暗線的問題。

技術領域

本申請涉及顯示技術領域，具體涉及一種顯示面板檢測線路、顯示面板及顯示器件。

背景技術

目前顯示屏產業非常發達，作為人機交互第一窗口，顯示屏在生活中無處不在。顯示面板在Array陣列制程中，經常使用銅(Cuprum,Cu)作為金屬走線。在液晶盒測試(CellTest)階段，因為有顯示面板檢測線路/短路棒(shorting-bar)連接到液晶盒測試端子(Cell est Pad，CT Pad)進行Cell Test點屏測試，在后續刀輪切割后，端子側金屬的側面裸露在外。在信賴性(RA)測試，以及在消費者使用過程中，會發生Cu金屬腐蝕膨脹，導致相鄰兩根信號線短路，造成顯示面板內顯示亮暗線不良。

發明內容

本申請提供一種能夠改善顯示面板檢測線路發生金屬腐蝕膨脹短路導致顯示面板出現亮暗線的一種顯示面板檢測線路、顯示面板及顯示器件。

一方面，本申請提供一種顯示面板檢測線路，包括短路棒和與所述短路棒耦接的測試線，所述短路棒和所述測試線共同用于傳輸顯示測試信號至顯示面板內，所述測試線包括：

切割段，所述切割段采用的是由金屬氧化物導體構成的第一導體層，在完成所述顯示面板的測試程序后通過切割方式切除所述切割段；

固定段，所述固定段耦接于所述切割段的兩端，所述固定段和所述切割段共同用于傳輸所述顯示測試信號至所述顯示面板內。

在本申請一種可能的實現方式中，所述檢測線路包括多個測試線，多個所述測試線的所述切割段均采用的是由金屬氧化物導體構成的所述第一導體層。

在本申請一種可能的實現方式中，所述測試線包括依次間隔設置的偶數列測試線和奇數列測試線，所述偶數列測試線的切割段或者所述奇數列測試線的切割段采用的是金屬氧化物導體構成的所述第一導體層。

在本申請一種可能的實現方式中，所述測試線包括電源信號線和多個顯示信號線，多個所述顯示信號線的切割段均采用的是金屬氧化物導體構成的所述第一導體層。

在本申請一種可能的實現方式中，所述電源信號線的切割段采用的是由金屬導體構成的第二導體層。

在本申請一種可能的實現方式中，所述固定段采用的是由金屬氧化物導體構成的第一導體層或者由金屬導體構成的第三導體層。

在本申請一種可能的實現方式中，所述切割段沿切割方向的第一導體寬度小于所述固定段沿切割方向的第二導體寬度。

在本申請一種可能的實現方式中，所述金屬氧化物導體包括氧化銦鎵鋅、氧化銦錫和鉬鈦合金。

在本申請一種可能的實現方式中，

另一方面，本申請提供一種顯示面板，所述顯示面板包括如所述的顯示面板檢測線路。

另一方面，本申請還提供一種顯示器件，所述顯示器件包括如所述的顯示面板。