[發明專利]一種測試向量生成方法、裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 202210167471.6
• 申請日: 2022-02-23
• 公開（公告）號: CN114398848A
• 公開（公告）日: 2022-04-26
• 發明（設計）人: 錢靜潔
• 申請（專利權）人: 無錫玖熠半導體科技有限公司
• 主分類號: G06F30/3308
• 分類號: G06F30/3308;G06F30/323;G06F30/333
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260
• 代理人: 朱曉林

1.一種測試向量生成方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取測試芯片的測試網表，所述測試網表中包含所述測試芯片的掃描鏈中所有邏輯電路的測試節點及對應的測試管腳，所述測試節點為邏輯電路中相鄰兩個邏輯門電路的連接點；

根據所述測試網表確定所述測試芯片中測試節點的目標測試類型和測試管腳的信號值，信號值用于對所述測試芯片的所述測試節點進行故障檢測；

基于測試管腳和信號值進行邏輯仿真，根據仿真輸出值生成測試管腳的測試向量，并對具有相同測試向量的所述測試節點進行合并，獲得合并后的目標測試向量。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述測試網表確定所述測試芯片的目標測試類型和測試管腳的測試值，包括：

確定所述測試芯片的所述目標測試類型，并從所述測試網表中選擇第一測試節點，所述第一測試節點為所述測試網表中標記的用于檢測邏輯電路的檢測節點；

根據所述目標測試類型確定所述第一檢測節點對應的第一期望信號值；其中，所述第一期望信號值為判斷所述掃描鏈的結構及功能而標定的信號值；

根據所述第一期望信號值和所述目標測試類型確定第一測試管腳的第一信號值，所述第一測試管腳是用于確定和激發故障的初始管腳。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述確定第一測試管腳的第一信號值后，所述方法還包括：

根據所述第一檢測節點和所述測試網表的網表結構確定第二測試管腳，并將所述第二測試管腳的第二信號值設置為與所述第一期望信號值相同。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于測試管腳和測試值進行邏輯仿真，根據仿真輸出值生成測試管腳的測試向量，包括：

選定測試管腳并獲取對應歷史決策表，通過決策樹算法確定測試管腳的信號值，記錄測試管腳的決策情況；所述歷史決策表包括對應測試管腳在歷史決策中各種信號值和決策結果的次數；

通過真值表對已確定信號值的測試管腳進行邏輯仿真，并通過所述測試網表判斷是否存在邏輯沖突；所述邏輯沖突用于驗證掃描鏈中測試節點經過測試管腳設置的信號值激勵后的信號值與期望信號值是否相同，以及該期望信號值能否傳遞到所述掃描鏈的輸出；

響應于邏輯仿真存在邏輯沖突，跳過選中測試管腳，繼續根據所述測試網表選擇下一檢測節點，并再次根據決策樹算法設置對應信號值進行邏輯仿真；

響應于邏輯仿真不存在邏輯沖突，將本次選中的測試管腳以及設置的信號值進行保存；

根據選擇的測試節點、所述測試網表、已確定測試管腳和信號值進行模擬故障檢測，并根據檢測輸出值確定測試管腳的所述測試向量。

5.根據權利要求1至4任一所述的方法，其特征在于，所述掃描鏈的目標測試類型至少包括第一檢測類型和第二檢測類型，所述第一檢測類型為stuckat-0類型，所述第二檢測類型為stuckat-1類型，不同測試類型分別用于表述測試芯片的不同功能；

作用于測試管腳的信號值分為高電平信號值和低電平信號值，高電平信號值設為1，低電平信號值設為0，所述第一測試類型對應的第一期望信號為高電平信號，所述第二測試類型對應的第一期望信號為低電平信號。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據選擇的測試節點、所述測試網表、已確定測試管腳和信號值進行模擬故障檢測，并根據檢測輸出值確定測試管腳的所述測試向量，包括：

根據所述已確定測試管腳和信號值生成待測試向量，并作為所述掃描鏈的輸入激勵；其中，存在邏輯沖突的測試管腳的信號值為任意值；

分別將所述測試芯片設置為有故障和無故障狀態，并檢測兩種狀態下輸入所述待測試向量的輸出激勵；

響應于所述掃描鏈在有故障和無故障狀態下輸出激勵的異或結果為1，則確定所述待測試向量滿足掃描鏈檢測條件，生成所述檢測節點的所述測試向量。