[發(fā)明專利]測(cè)試探頭和電子順磁共振譜儀

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210166179.2
• 申請(qǐng)日: 2022-02-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114235880A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-03-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡江波;吳俊峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 國(guó)儀量子（合肥）技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01N24/10
• 分類號(hào): G01N24/10
• 代理公司: 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 歐陽(yáng)高鳳

本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)試探頭和電子順磁共振譜儀，測(cè)試探頭包括探頭架、標(biāo)樣管和待測(cè)樣品管，探頭架內(nèi)具有測(cè)試腔；標(biāo)樣管用于放置標(biāo)準(zhǔn)樣品，標(biāo)樣管在第一位置和第二位置之間可運(yùn)動(dòng)地設(shè)于探頭架；待測(cè)樣品管用于放置待測(cè)樣品，待測(cè)樣品管設(shè)于測(cè)試腔內(nèi)；其中，在第一位置，標(biāo)樣管完全位于測(cè)試腔內(nèi)；在第二位置，標(biāo)樣管的至少容納標(biāo)準(zhǔn)樣品的部分位于測(cè)試腔之外。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試探頭，通過(guò)在探頭架中設(shè)置可在第一位置和第二位置之間運(yùn)動(dòng)的標(biāo)樣管，可以使得作業(yè)人員可以根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品的測(cè)量頻段和待測(cè)樣品的測(cè)量頻段調(diào)節(jié)標(biāo)樣管的位置，保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，更為準(zhǔn)確地測(cè)量出待測(cè)樣品的信號(hào)強(qiáng)度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子順磁共振技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種測(cè)試探頭和電子順磁共振譜儀。

背景技術(shù)

電子順磁共振（electron paramagnetic resonance，EPR）是由不配對(duì)電子的磁矩發(fā)源的一種磁共振技術(shù)，可用于從定性和定量方面檢測(cè)物質(zhì)原子或分子中所含的不配對(duì)電子，并探索其周圍環(huán)境的結(jié)構(gòu)特性。電子順磁共振譜儀主要分脈沖式和連續(xù)波式兩種類型。連續(xù)波順磁共振譜儀通過(guò)將待測(cè)樣品放入恒定頻率的微波場(chǎng)，通過(guò)改變外磁場(chǎng)頻率得到連續(xù)波EPR譜線。

在電子順磁共振實(shí)驗(yàn)中，為精確檢測(cè)待測(cè)樣品的探測(cè)信號(hào)強(qiáng)度，一般會(huì)實(shí)時(shí)對(duì)比測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣品。但是電子順磁共振譜儀在測(cè)量某些與標(biāo)準(zhǔn)樣品的測(cè)量頻段至少部分重合的待測(cè)樣品時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)樣品會(huì)影響待測(cè)樣品的測(cè)量精度，導(dǎo)致待測(cè)樣品的測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一。為此，本發(fā)明的一個(gè)目的在于提出一種測(cè)試探頭，通過(guò)在探頭架中設(shè)置可在第一位置和第二位置之間運(yùn)動(dòng)的標(biāo)樣管，將標(biāo)準(zhǔn)樣品設(shè)于標(biāo)樣管中，可以使得作業(yè)人員可以根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品的測(cè)量頻段和待測(cè)樣品的測(cè)量頻段調(diào)節(jié)標(biāo)樣管的位置，保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，更為準(zhǔn)確地測(cè)量出待測(cè)樣品的信號(hào)強(qiáng)度。

本發(fā)明還提出了一種具有上述測(cè)試探頭的電子順磁共振譜儀。

根據(jù)本發(fā)明第一方面實(shí)施例的測(cè)試探頭，用于電子順磁共振譜儀，測(cè)試探頭包括：探頭架，所述探頭架內(nèi)具有測(cè)試腔；用于放置標(biāo)準(zhǔn)樣品的標(biāo)樣管，所述標(biāo)樣管在第一位置和第二位置之間可運(yùn)動(dòng)地設(shè)于所述探頭架；用于放置待測(cè)樣品的待測(cè)樣品管，所述待測(cè)樣品管設(shè)于所述測(cè)試腔內(nèi)；其中，在所述第一位置，所述標(biāo)樣管的至少容納所述標(biāo)準(zhǔn)樣品的部分完全位于所述測(cè)試腔內(nèi)；在所述第二位置，所述標(biāo)樣管的至少容納所述標(biāo)準(zhǔn)樣品的部分位于所述測(cè)試腔之外。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試探頭，通過(guò)在探頭架中設(shè)置可在第一位置和第二位置之間運(yùn)動(dòng)的標(biāo)樣管，將標(biāo)準(zhǔn)樣品設(shè)于標(biāo)樣管中，在測(cè)量一些與標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)量頻段不重合的待測(cè)樣品時(shí)，將標(biāo)樣管置于第一位置，標(biāo)準(zhǔn)樣品完全位于測(cè)試腔內(nèi)，在檢測(cè)待測(cè)樣品的過(guò)程中，待測(cè)樣品可以在被檢測(cè)的同時(shí)與標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)對(duì)比，保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，從而可以更為準(zhǔn)確地測(cè)量出待測(cè)樣品的信號(hào)強(qiáng)度；在測(cè)量某些與標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)量頻段至少部分重合的待測(cè)樣品時(shí)，將標(biāo)樣管置于第二位置，可以減少或避免標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)待測(cè)樣品的測(cè)量結(jié)果的影響，使得待測(cè)樣品的測(cè)量結(jié)果更為準(zhǔn)確，從而可以更為準(zhǔn)確地測(cè)量出待測(cè)樣品的信號(hào)強(qiáng)度。這樣可以使得作業(yè)人員可以根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品的測(cè)量頻段和待測(cè)樣品的測(cè)量頻段調(diào)節(jié)標(biāo)樣管的位置，保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，更為準(zhǔn)確地測(cè)量出待測(cè)樣品的信號(hào)強(qiáng)度。

根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例，所述標(biāo)樣管在所述第一位置和所述第二位置之間可移動(dòng)。

根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例，所述第一位置和所述第二位置之間的間距范圍為8-12mm。

根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例，測(cè)試探頭包括：驅(qū)動(dòng)組件，所述驅(qū)動(dòng)組件用于驅(qū)動(dòng)所述標(biāo)樣管在所述第一位置和所述第二位置之間運(yùn)動(dòng)。

根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例，所述驅(qū)動(dòng)組件包括：驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；傳動(dòng)桿，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述標(biāo)樣管分別位于所述傳動(dòng)桿的長(zhǎng)度方向上的相對(duì)兩側(cè)，所述傳動(dòng)桿的長(zhǎng)度方向上的一端與所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的輸出軸相連；

傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)可傳動(dòng)地連接在所述傳動(dòng)桿的長(zhǎng)度方向上的另一端與所述標(biāo)樣管之間。