[發明專利]液晶灰度自動測試設備

有效

• 申請號: 202210159252.3
• 申請日: 2022-02-21
• 公開（公告）號: CN114544150B
• 公開（公告）日: 2023-03-10
• 發明（設計）人: 修威;田海燕;楊光;杜凱斌
• 申請（專利權）人: 北京華鎂鈦科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01M11/04
• 代理公司: 北京華清迪源知識產權代理有限公司 11577
• 代理人: 胡樂

本發明公開了一種液晶灰度自動測試設備，包括底座，底座上設有移動平臺和升降平臺，移動平臺上方設有真空吸盤，升降平臺上設有視覺對位系統和測試系統，視覺對位系統包括景深鏡頭，景深鏡頭與升降平臺連接，測試系統包括水平移動機構和Z軸升降電機、激光測距感應器和測試探針，水平移動機構與升降平臺連接，Z軸電機與水平移動機構連接，測試探針安裝在Z軸升降電機徑向外圍，激光測距感應器安裝在Z軸升降電機末端；本發明通過視覺對位系統完成識別后通過上位機軟件算法運算將控制信號傳至機械結構部分，其機械結構部分會通過控制信號完成相應的高精度移動，使測試探針移動至對應單元位置實現對各單元的測試。

技術領域

本發明涉及液晶相控天線技術領域，具體涉及一種液晶灰度自動測試設備。

背景技術

液晶相控天線因其特有性質決定了液晶相控陣天線具有功耗低、成本低和可批量生產等優勢。現今低成本超材料天線已然成為行業熱點，即液晶相控陣天線同樣在成本及功耗上具有天然優勢，其結構大致可分為如下幾部分：液晶材料是組成液晶灰度的主要材料，在相控陣天線里液晶材料可以利用其固有特性通過電極施加不同的電壓來改變液晶材料的相對介電常數，以完成移相灰度控制；其完成對液晶施加電壓的部分為液晶灰度的控制電極；對于相控陣天線而言，灰度的頻率響應曲線在天線波控系統及算法中尤為重要。頻率響應曲線的產業化精確測量或者計算方法尚屬空白。連續頻率的頻率響應曲線測量理論上無法實現，離散頻率的頻率測量會有測量時間與選頻精度的矛盾。如何實現低選頻精度與短測量時間的兼顧，急需解決。

現有技術中對于液晶灰度的產業化頻率響應曲線測試尚無完整解決方案。工藝上，液晶相控陣天線具有高集成高密度特點，在實現單元測試上對整體工藝把控難度較大，如出現毫米級誤差即可對測試曲線造成較大影響。同時液晶灰度單元均在液晶天線內部，從表面上看單元與單元間特征并不明顯，所以普試性的人工測試方式已然無法使用且工作量巨大；科研上，通常采用離散頻點測試方法，及在使用工作頻段內選取適當的頻率點數進行頻率響應曲線測試。如需使用未被測試頻率響應曲線的頻點作為工作頻點，則就近選擇已被測試頻率響應曲線頻點的頻率響應曲線，作為近似曲線進行使用。一方面，為盡可能實現頻點覆蓋的全面性和頻率響應曲線的準確性，需要大量測試；另一方面，離散選取的測試方法不能從根本上解決使用連續工作頻率的場景，特別是對于及集成化越來越高的灰度而言，由于高度集成化帶來的頻率響應曲線隨頻率變化較大，就近選取頻點進行近似的方法引入的誤差越來越大。

發明內容

為此，本發明實施例提供一種液晶灰度自動測試設備，以解決現有技術存在的液晶灰度的產業化頻率響應曲線測試工作量大、誤差大以及不能從根本上解決使用連續工作頻率的場景的問題。

為了實現上述目的，本發明實施例提供如下技術方案：

一種液晶灰度自動測試設備，包括底座，所述底座上設有移動平臺和升降平臺，所述移動平臺上方設有真空吸盤，所述升降平臺上設有視覺對位系統和測試系統，所述視覺對位系統包括景深鏡頭，所述景深鏡頭與所述升降平臺連接，所述測試系統包括水平移動機構和Z軸升降電機、激光測距感應器和測試探針，所述水平移動機構與所述升降平臺連接，所述Z軸電機與所述水平移動機構連接，所述測試探針安裝在所述Z軸升降電機徑向外圍，所述激光測距感應器安裝在所述Z軸升降電機末端。

作為優選，所述升降平臺包括豎直固定板和導軌，所述豎直固定板固定在所述底座上，所述導軌固定在所述豎直固定板上，所述導軌中間位于所述豎直固定板的上方設有電機和主動輪，所述電機的輸出端與所述主動輪連接，所述導軌中間位于所述豎直固定板的下方設有從動輪，所述主動輪與所述從動輪之間通過皮帶連接，所述導軌上設有滑塊，所述景深鏡頭通過所述滑塊與所述升降平臺連接，所述水平移動機構通過所述滑塊和所述皮帶與所述升降平臺連接。

作為優選，所述皮帶與所述升降平臺通過同步帶夾板連接。

作為優選，所述水平移動機構包括水平電機、絲桿和水平滑塊，所述絲桿與所述水平電機傳動連接，所述水平滑塊安裝在所述絲桿上，所述滑塊與所述Z軸升降電機連接。