[發明專利]一種薄膜偏振片透過率的檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 202210158218.4
• 申請日: 2022-02-21
• 公開（公告）號: CN114518342A
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發明（設計）人: 李旭東;陳兆東;閆仁鵬;董志偉;樊榮偉;陳德應
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01N21/59
• 分類號: G01N21/59;G01M11/02
• 代理公司: 哈爾濱龍科專利代理有限公司 23206
• 代理人: 李智慧

1.一種薄膜偏振片透過率的檢測裝置，包括功率計(6)，其特征在于：所述檢測裝置還包括測試光源(1)、偏振立方體(2)、旋轉臺(3)、安裝座(4)和凸透鏡(5)，所述安裝座(4)固定設置在旋轉臺(3)上且兩者中心重合，待測薄膜偏振片設置在安裝座(4)上且兩者中心重合，所述測試光源(1)發出的光線穿過偏振立方體(2)，入射至待測薄膜偏振片的中心，經待測薄膜偏振片反射至凸透鏡(5)的中心，然后到達功率計(6)，所述測試光源(1)發出的光線與待測薄膜偏振片所在平面之間的夾角α為33±1°，所述凸透鏡(5)的焦距為f，所述凸透鏡(5)的中心與旋轉臺(3)的中心的距離和凸透鏡(5)的中心與功率計(6)之間的距離均為2f。

2.根據權利要求1所述的一種薄膜偏振片透過率的檢測裝置，其特征在于：所述凸透鏡(5)的通光孔徑不小于4f*tanθ，其中θ為旋轉臺(3)的中心與凸透鏡(5)的中心之間的連線和旋轉臺(3)的中心與凸透鏡(5)的邊緣點之間的連線的夾角。

3.根據權利要求1所述的一種薄膜偏振片透過率的檢測裝置，其特征在于：所述凸透鏡(5)的兩個表面均鍍有與待測薄膜偏振片工作波長相對應的增透膜。

4.根據權利要求3所述的一種薄膜偏振片透過率的檢測裝置，其特征在于：所述增透膜的透過率大于99.9％。

5.根據權利要求1所述的一種薄膜偏振片透過率的檢測裝置，其特征在于：所述功率計(6)的探頭內壁涂有白色漫反射材料的積分球。

6.根據權利要求1所述的一種薄膜偏振片透過率的檢測裝置，其特征在于：所述旋轉臺(3)的轉角分辨率大于0.1°。

7.一種利用權利要求1-6任一權利要求所述的檢測裝置檢測薄膜偏振片透過率的方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一、將安裝座(4)固定在旋轉臺(3)的轉動中心，再將待測薄膜偏振片設置在安裝座(4)的中心處；

步驟二、放置好測試光源(1)，使其發出的光線入射至待測薄膜偏振片的中心，轉動旋轉臺(3)，使測試光源(1)發出的光線與待測薄膜偏振片所在平面之間的夾角α為33±1°；

步驟三、放置偏振立方體(2)和凸透鏡(5)，使測試光源(1)發出的光依次通過偏振立方體(2)、待測薄膜偏振片和凸透鏡(5)的中心；

步驟四、調節凸透鏡(5)的位置，使凸透鏡(5)的中心與旋轉臺(3)中心的距離為2f；

步驟五、先用功率計(6)測試經過偏振立方體(2)后的光功率P1，然后將功率計(6)移動至距離凸透鏡(5)中心2f的距離處，使通過凸透鏡(5)的光線入射至功率計(6)的探頭中心；

步驟六、分別順時針和逆時針轉動旋轉臺(3)，轉動角度小于±10°，記錄轉動過程中功率計(6)采集到的最小功率值P2；

步驟七、利用公式T＝1-P2/P1計算可得待測薄膜偏振片的p光透過率。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于：所述步驟五中，在使用功率計(6)測試光功率P1前，調節測試光源(1)的電流，使其輸出功率為1-1.2W。

9.根據權利要求7所述的方法，其特征在于：所述步驟五中，在使用功率計(6)測試光功率P1后，將功率計(6)的測量檔位調至mW量程。

10.根據權利要求7所述的方法，其特征在于：所述測試光源(1)的輸出波長為待測薄膜偏振片的工作波長，其光束質量小于2。