[發明專利]一種多層疊合片狀電子元件的檢測裝置

在審

• 申請號: 202210150098.3
• 申請日: 2022-02-18
• 公開（公告）號: CN114705135A
• 公開（公告）日: 2022-07-05
• 發明（設計）人: 蘭海;王一鳴
• 申請（專利權）人: 廈門海力拓自動化科技有限公司
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26;G01B11/14;B07C5/00
• 代理公司: 福州市鼓樓區京華專利事務所(普通合伙) 35212
• 代理人: 吳學林

1.一種多層疊合片狀電子元件的檢測裝置，其特征在于，包括：檢測平臺(1)、檢測機體(13)、檢測相機(2)、激光校準器(3)和調整電機(4)；

所述檢測機體(13)上水平的設置了軌道(12)，所述檢測平臺(1)為頂部帶有負壓吸盤的平臺，所述檢測平臺(1)水平滑設在軌道(12)上；

所述調整電機(4)和激光校準器(3)都各有兩個，兩個所述激光校準器(3)和兩個調整電機(4)都固定安裝在檢測機體(13)上，且兩個所述激光校準器(3)和兩個調整電機(4)都分別設置在檢測平臺(1)左右兩側，

每個所述調整電機(4)上都水平安裝了一個檢測相機(2)，所述檢測相機(2)通過導軌水平滑設在調整電機(4)上，每個所述檢測相機(2)的移動方向都垂直于檢測平臺(1)的平移方向；所述檢測電機(2)上方還吊裝了一個預定位相機(21)，所述預定位相機(21)的拍攝方向正對檢測相機(2)和檢測平臺(1)設置；

所述檢測平臺(1)和檢測相機(2)都水平移動；

兩個所述激光校準器(3)和兩個檢測相機(2)都正對檢測平臺(1)設置，且兩個所述激光校準器(3)的檢測方向相向設置，兩個所述檢測相機(2)拍攝方向在同一水平位置相向設置；

所述檢測相機(2)、預定位相機(21)、激光校準器(3)和調整電機(4)都與plc控制器連接；

所述檢測機體(13)上還設置了原料臺(5)、廢料臺(51)和合格臺(52)，所述檢測機體(13)上方還架設了吸取片狀電子元件的吸盤機械臂，所述原料臺(5)、廢料臺(51)和合格臺(52)為存放片狀電子元件的限位平臺，所述吸盤機械臂也與plc控制器連接。

2.根據權利要求1所述的一種多層疊合片狀電子元件的檢測裝置，其特征在于：所述軌道(12)有兩條，兩條所述軌道(12)相互平行的鋪裝在檢測機體(13)上；

所述檢測機體(13)上還設置了保護殼(15)，所述檢測平臺(1)設置在保護殼(15)內部，所述保護殼(15)外部還設置了顯示屏(11)和聲光報警器(14)，所述顯示屏(11)與檢測相機(2)和預定位相機(21)數據連接，所述預定位相機(21)吊掛在保護殼(15)上，所述檢測平臺(1)和兩個檢測相機(2)都處于預定位相機(21)的拍攝范圍內；

所述聲光報警器(14)與plc控制連接。

3.根據權利要求1所述的一種多層疊合片狀電子元件的檢測裝置，其特征在于：所述檢測平臺(1)為帶有負壓吸盤的平臺。

4.根據權利要求1所述的一種多層疊合片狀電子元件的檢測裝置，其特征在于：所述檢測相機(2)為ccd微距相機，所述預定位相機(21)為面陣相機；

所述激光校準器(3)為激光測距儀，所述激光校準器(3)發射的校準激光為豎直激光線，所述激光校準器(3)發射的激光線垂直于檢測平臺(1)的移動方向。

5.根據權利要求1所述的一種多層疊合片狀電子元件的檢測裝置，其特征在于：所述調整電機(4)為伺服電機，所述檢測相機(2)通過調整電機(4)控制靠近或者遠離檢測平臺(1)，所述加工平臺(1)通過直線馬達驅動。