[發明專利]一種在電路版圖中定位提取電容的方法及裝置

在審

• 申請號: 202210132707.2
• 申請日: 2022-02-14
• 公開（公告）號: CN114492289A
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 王爭奎;李相啟;劉偉平
• 申請（專利權）人: 北京華大九天科技股份有限公司
• 主分類號: G06F30/392
• 分類號: G06F30/392
• 代理公司: 北京紅花知識產權代理事務所(普通合伙) 16030
• 代理人: 林樂飛

1.一種電路版圖中的提取電容自動定位裝置，其用于將集成電路版圖中提取的電容值與所述集成電路版圖中的對應金屬布線關聯，所述提取電容自動定位裝置的特征在于，包括；

獲取部，其用于獲取所述集成電路版圖，所述集成電路版圖包含K(K≥2)層金屬布線，各金屬布線層包含M×N個金屬布線，M，N＝1，2，3…；

提取部，其用于提取所述集成電路版圖中的多個金屬布線中的至少兩個金屬布線之間的電容值，并將該集成電路版圖的設計中的圖形信息存入kd-tree樹中，其中，所述圖形信息至少包括所述集成電路版圖中的金屬布線的尺寸、形狀、坐標及標簽；

設定部，其用于在所述集成電路版圖中預設的電容提取區域設定至少覆蓋兩條金屬布線的框選圖形，計算所設定的所述框選圖形的坐標信息；

電容定位部，其搜索與所述框選圖形相關聯的金屬布線并獲取與搜索到的金屬布線相對應的標簽，基于kd-tree樹所存儲的所述集成電路版圖設計中的圖形信息將提取部所提取到的各電容值與搜索到的金屬布線相對應的標簽相關聯并生成提取電容定位表。

2.根據權利要求1所述的提取電容定位裝置，其特征在于，

所述圖形信息還包括是否包含未設定標簽的floating金屬布線的信息。

3.根據權利要求1所述的提取電容定位裝置，其特征在于，

所述獲取部還獲取與所述集成電路版圖相關的電路網表、電路仿真結果和設計規則數據。

4.根據權利要求1所述的提取電容定位裝置，其特征在于，

所述提取部提取同層和/或不同層金屬層中的至少兩個金屬布線之間的電容值。

5.根據權利要求1所述的提取電容定位裝置，其特征在于，

所述框選圖形覆蓋包含全部金屬布線的關注區域。

6.根據權利要求1所述的提取電容定位裝置，其特征在于，

所述電容定位部采用隨機游走算法或模型使所述框選圖形遍歷電容提取區域中的所有金屬布線，來獲取與所述框選圖形相關聯的各金屬布線的標簽。

7.根據權利要求1所述的提取電容定位裝置，其特征在于，

提取電容定位裝置還包括輸出部，所述輸出部將所述提取電容的定位結果通過excel表、文本輸出或打印。

8.根據權利要求2所述的提取電容定位裝置，其特征在于，

所述集成電路版圖包含未設定標簽的floating金屬布線，所述設定部將未設定標簽的floating金屬布線自動命名為“RCE_UNCONN_*”，以便電容定位部對所述集成電路版圖中包含floating金屬布線的關注區域進行電容定位。

9.一種對電路版圖中的提取電容自動定位的方法，其用于將集成電路版圖中提取的電容值與所述集成電路版圖中的對應金屬布線關聯，該方法的特征在于，包括；

獲取步驟，其用于獲取所述集成電路版圖，所述集成電路版圖包含K(K≥2)層金屬布線，各金屬布線層包含M×N個金屬布線，M，N＝1，2，3…；

提取步驟，其用于提取所述集成電路版圖中的多個金屬布線中的至少兩個金屬布線之間的電容值，并將該集成電路版圖的設計中的圖形信息存入kd-tree樹中，其中，所述圖形信息至少包括所述集成電路版圖中的金屬布線的尺寸、形狀、坐標及標簽；

設定步驟，其用于在所述集成電路版圖中預設的電容提取區域設定至少覆蓋兩條金屬布線的框選圖形，計算所設定的所述框選圖形的坐標信息；以及

電容定位步驟，其搜索與所述框選圖形相關聯的金屬布線并獲取與搜索到的金屬布線相對應的標簽，基于kd-tree樹所存儲的集成電路版圖設計中的圖形信息將所提取到的各電容值與搜索到的金屬布線相對應的標簽相關聯并生成電容定位表。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，

所述圖形信息還包括是否包含未設定標簽的floating金屬布線的信息。