[發明專利]一種鐵基非晶帶材疊片系數的快速測量方法

有效

• 申請號: 202210132107.6
• 申請日: 2022-02-14
• 公開（公告）號: CN114167008B
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: 林珊;翟利華;劉健美;陳吉剛;侯峰;高杰;孫菁;張羽;彭偉;饒美婉;周丹;劉從勝;蘇華;羅旭;王洪杰;阮艷妹;盧曉智;鄒曉文;吳淑娟
• 申請（專利權）人: 廣州地鐵設計研究院股份有限公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 廣州科沃園專利代理有限公司 44416
• 代理人: 王維霞

1.一種鐵基非晶帶材疊片系數的快速測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、制備單層試樣群；

S2、從單層試樣群中任意抽取一片單層試樣；

S3、利用固定的雙頭對射激光同軸位移計掃描得到單層試樣的厚度平均值；利用CCD尺寸視覺系統掃描測量得到單層試樣的寬度值與長度值；利用精密電子天平測量單層試樣的重量值；

S4、根據步驟S3中獲得的單層試樣的厚度平均值、寬度值與長度值、重量值，計算得到鐵基非晶帶材的疊片系數；

所述步驟S4的具體計算方式為：將獲得的單層試樣的厚度平均值、寬度值、長度值和重量值代入公式2得到鐵基非晶帶材的疊片系數；

L_f =m/（l*b*h*ρ）公式2；

其中，L_f為疊片系數；m為單層試樣的重量值，m的單位為克；l為單層試樣的長度值，l的單位為毫米；b為單層試樣的寬度值，b的單位為毫米；h為單層試樣的厚度平均值，h的單位為微米，ρ為單層試樣的材料密度，ρ的單位為克每立方厘米。

2.根據權利要求1所述的一種鐵基非晶帶材疊片系數的快速測量方法，其特征在于，所述步驟S1的具體實施方式為：選取一段寬度為142mm、長度為一個或兩個冷卻輥周長的連續鐵基非晶帶材，將其裁剪為10-20片具有相同長度的單層試樣，形成單層試樣群。

3.根據權利要求2所述的一種鐵基非晶帶材疊片系數的快速測量方法，其特征在于，所述冷卻輥周長為3.14米，冷卻輥直徑為1米。

4.根據權利要求1所述的一種鐵基非晶帶材疊片系數的快速測量方法，其特征在于，所述單層試樣的長度為300±1mm，寬度為142±0.2 mm。

5.根據權利要求1所述的一種鐵基非晶帶材疊片系數的快速測量方法，其特征在于，所述步驟S3的具體實施方式為：

將單層試樣置放于伺服平臺上，讓單層試樣隨著伺服平臺向上移動的過程中，同時利用固定的雙頭對射激光同軸位移計直接掃描單層試樣，在掃描時沿著單層試樣寬度方向上的3個不同位置以0-20m/min 的掃描速率對單層試樣的厚度進行掃描，每個位置掃描的總點數依據單層試樣厚度總點數公式進行確定，將測量得到的單層試樣的所有厚度值進行匯總求取均值，最終得到單層試樣的厚度平均值；

直接利用CCD尺寸視覺系統掃描測量單層試樣的寬度值與長度值，所得寬度值與長度值便是單層試樣本次測量的寬度值與長度值；

將單層試樣直接放置于電子天平上進行測量，得到單層試樣的重量值。

6.根據權利要求5所述的一種鐵基非晶帶材疊片系數的快速測量方法，其特征在于，所述單層試樣厚度總點數公式為：

X=W*Y/Z 公式1；

其中，X為總點數；W為單層試樣的寬度值，W的單位為mm；Z為伺服平臺的移動速度，Z的單位為mm/s，Y為雙頭對射激光同軸位移計上所使用的激光采集周期，Y的單位為個/μs。

7.根據權利要求5所述的一種鐵基非晶帶材疊片系數的快速測量方法，其特征在于，所述雙頭對射激光同軸位移計上所使用的激光探頭的光點直徑為500μm，分辨率為0.1μm，同軸度為0.2μm，所述掃描速率為1.2m/min。

8.根據權利要求5所述的一種鐵基非晶帶材疊片系數的快速測量方法，其特征在于，所述精密電子天平的精度單位為0.0001g。

9.根據權利要求5所述的一種鐵基非晶帶材疊片系數的快速測量方法，其特征在于，所述伺服平臺移動的精度要求不大于0.02mm，所述CCD尺寸視覺系統的掃描像素不小于2000萬。