[發明專利]測試探針清潔方法的探針固定方法

有效

• 申請號: 202210126254.2
• 申請日: 2020-11-28
• 公開（公告）號: CN114472252B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 賀濤;金永斌;丁寧;朱偉
• 申請（專利權）人: 法特迪精密科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: B08B1/00
• 分類號: B08B1/00;B08B13/00;G01R1/067;G01R1/073
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.測試探針清潔方法的探針固定方法，在測試探針清潔裝置上實現，應用于測試探針清潔方法，所述測試探針清潔方法包括以下步驟：步驟a、探針固定；步驟b、吸附安裝；步驟c、對準調節；步驟d、摩阻刮除；步驟e、粘性吸附；其特征在于：所述測試探針清潔方法的探針固定方法，調節待清潔的測試探針（5）相對應的基座本體（4-1）上對稱設置的第一調節螺栓（4-7）和第二調節螺栓（4-8），同時順時針旋轉第一調節螺栓（4-7）和逆時針旋轉第二調節螺栓（4-8），并旋轉相同的圈數，第一調節螺栓（4-7）和第一絲杠螺母（4-5）的螺紋作用，使第一絲杠螺母（4-5）沿著第一調節螺栓（4-7）的軸向方向拉動第一限位夾片（4-3）向基座本體（4-1）外移動一定距離，同時第二調節螺栓（4-8）與第二絲杠螺母（4-6）的螺紋作用，使第二絲杠螺母（4-6）沿著第二調節螺栓（4-8）的軸向方向拉動第二限位夾片（4-4）向基座本體（4-1）外移動與第一限位夾片（4-3）等量的距離，第一限位夾片（4-3）和第二限位夾片（4-4）上相對應的圓形通孔的側壁發生相對位移，發生相對位移的圓形通孔的側壁發生錯位，并與設置在對應的圓形通孔內的測試探針（5）的外壁相抵靠，以對測試探針（5）進行固定；

所述測試探針清潔裝置包括清潔構件（1）、夾持構件（2）、測試插座（3）、測試基座（4）和測試探針（5）；所述清潔構件（1）上方設置有夾持構件（2），所述清潔構件（1）下方設置有測試插座（3），所述測試插座（3）安裝在測試基座（4）上，所述夾持構件（2）能夠通過傳動機械臂移動控制測試插座（3）上方的清潔構件（1），能夠使清潔構件（1）移動至測試插座（3）內，并與測試插座（3）內的測試探針（5）的探頭貼合抵靠，以完成對測試探針（5）的先刮除累積雜質，再將雜質灰塵從測試插座（3）內吸附清除的工作；

所述清潔構件包括套管（1-1）、密封片（1-2）、安裝板（1-3）、限位片（1-4）、活塞（1-5）、主動梯形齒輪（1-6）、從動梯形齒輪（1-7）、傳動桿（1-8）、移動片（1-9）、彈性件（1-10）、刮除件（1-11）、螺紋套筒（1-12）、傳動軸（1-13）、固定片（1-14）、清潔軟膠（1-15）、復位彈簧（1-16）和輸出長軸（1-17）；所述套管（1-1）通過密封片（1-2）陣列設置在安裝板（1-3）下端面上，活塞（1-5）下端的主動梯形齒輪（1-6）和從動梯形齒輪（1-7）相嚙合，所述從動梯形齒輪（1-7）兩端對稱設置有傳動桿（1-8），傳動桿（1-8）的一端與活塞（1-5）的一端相連，傳動桿（1-8）的另一端穿過兩個限位片（1-4）與移動片（1-9）上端面相連，移動片（1-9）下端面通過彈性件（1-10）陳列設置有多個刮除件（1-11），所述從動梯形齒輪（1-7）通過螺紋套筒（1-12）轉動設置在下層限位片（1-4）上，所述傳動軸（1-13）上端穿過螺紋套筒（1-12）并與螺紋套筒（1-12）相配合，傳動軸（1-13）的另一端與固定片（1-14）相連接，所述固定片（1-14）下端設置有清潔軟膠（1-15），位于兩個限位片（1-4）之間的傳動軸（1-13）上設置有復位彈簧（1-16），傳動電機設置在一側的套管（1-1）側壁上，傳動電機的輸出端與輸出長軸（1-17）相連，所述輸出長軸（1-17）穿過陣列設置的套管（1-1），套管（1-1）內的從動梯形齒輪（1-7）設置在輸出長軸（1-17）上，所述刮除件（1-11）能夠通過活塞（1-5）進行上下往復運動，并通過彈性件（1-10）使刮除件（1-11）的下端面與測試探針（5）的探頭的梅花尖端相抵靠，以對梅花尖端上累積的雜質進行刮除，所述清潔軟膠（1-15）能夠將清潔的雜質、灰塵進行粘吸在清潔軟膠（1-15）表面，進而從測試插座（3）內將雜質灰塵清除。