[發明專利]一種核料板包殼厚度檢測裝置

在審

• 申請號: 202210121561.1
• 申請日: 2022-02-09
• 公開（公告）號: CN114812455A
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發明（設計）人: 金凡堯;張雷;肖愛練;劉明;程春林;李晨浩
• 申請（專利權）人: 四川同人精工科技有限公司
• 主分類號: G01B15/02
• 分類號: G01B15/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種核料板包殼厚度檢測裝置，它包括從左往右順次設置的進料輥道輸送裝置(1)、支架(2)和出料輥道輸送裝置(3)，支架(2)的前后端分別設置有標定組件(4)和探測組件(5)，標定組件(4)包括驅動電機(6)和兩個左右相對立設置的立板(7)，兩個立板(7)均固設于支架(2)的頂表面上且設置于進料輥道輸送裝置(1)的前側，驅動電機(6)垂向設置且設置于立板(7)的前側，驅動電機(6)的輸出軸上安裝有轉盤(8)，轉盤(8)的邊緣上且沿其圓周方向設置有多個標準鋯片夾持機構(9)。本發明的有益效果是：結構緊湊、提高鋯片厚度檢測效率、降低檢測成本、操作簡單。

技術領域

本發明涉及核燃料板上鋯片厚度檢測的技術領域，特別是一種核料板包殼厚度檢測裝置。

背景技術

核燃料板為長條板型，由中間的燃料層和上下面的鋯包殼層構成。鋯包殼層的厚度直接 關系到核燃料板的使用安全，因此生產過程中對鋯包殼厚度的檢測工作尤為重要。由于特殊 的加工工藝導致鋯包殼層與芯體間的界面并不清晰，超聲測厚、渦流法測厚等傳統手段并不 能準確檢測包殼厚度。現有成熟的工藝為利用芯體自身衰變釋放的β射線透射包殼層，通過 β射線的衰減率求取包殼厚度。但如今市面上的包殼厚度檢測設備均為實驗樣機，檢測效率 低下，更無法實現自動化測量，同時由于過多的人工介入，導致設備的重復性難以保證。因 此亟需一種提高鋯片厚度檢測效率、降低檢測成本的檢測裝置。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的缺點，提供一種結構緊湊、提高鋯片厚度檢測效率、 降低檢測成本、操作簡單的核料板上包殼厚度檢測裝置。

本發明的目的通過以下技術方案來實現：一種核料板包殼厚度檢測裝置，它包括從左往 右順次設置的進料輥道輸送裝置、支架和出料輥道輸送裝置，所述支架的前后端分別設置有 標定組件和探測組件，所述標定組件包括驅動電機和兩個左右相對立設置的立板，兩個立板 均固設于支架的頂表面上且設置于進料輥道輸送裝置的前側，驅動電機垂向設置且設置于立 板的前側，驅動電機的輸出軸上安裝有轉盤，轉盤的邊緣上且沿其圓周方向設置有多個標準 鋯片夾持機構，標準鋯片夾持機構包括夾持氣缸、上夾持板和下夾持板，夾持氣缸沿轉盤徑 向固設于轉盤的頂表面上，夾持氣缸的上下連桿上分別固設有上夾持板和下夾持板，上夾持 板和下夾持板的四個角落處均開設有螺紋孔I；所述探測組件包括直線模組、上探測器和下探 測器，直線模組縱向設置且設置于進料輥道輸送裝置的后側，直線模組的螺母上固設有連接 架，連接架的前端部設置有上探測器和下探測器，上探測器的探頭與下探測器的探頭上下對 立設置，且兩個探頭所圍成區域與進料輥道輸送裝置的滾筒的頂表面平齊。

兩個立板的頂表面上均開設有多個螺紋孔II。

所述標準鋯片夾持機構均勻分布于轉盤上。

所述直線模組的機座固設于支架的頂表面上。

所述進料輥道輸送裝置的滾筒的頂表面與出料輥道輸送裝置的滾筒的頂表面平齊。

它還包括上位機，所述上探測器的輸出接口和下探測器的輸出接口均與上位機的輸入接 口電連接。

本發明具有以下優點：同一標準芯體發射的β粒子被不同厚度標準鋯片阻擋后，探測器 單位時間檢測到的β計數率也相應不同，因此，以此過程進行標定，則可以獲得不同鋯片厚 度與探測器檢測到的β粒子計數率的映射關系，并以此求得鋯層厚度值與β粒子計數率的映 射關系式，所以根據樣件實際檢測時測得的β粒子計數率可以求取對于點位處的鋯層(包殼) 厚度值，從而極大的提高鋯片厚度檢測效率、降低檢測成本、操作簡單。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖；

圖2為圖1的俯視圖；

圖3為探測組件的結構示意圖；

圖4為圖3的側視圖；

圖5為標定組件的結構示意圖；