[發明專利]一種微波測試幅度相位特征數據庫快速精確重構方法

有效

• 申請號: 202210120627.5
• 申請日: 2022-02-09
• 公開（公告）號: CN114460864B
• 公開（公告）日: 2023-02-03
• 發明（設計）人: 但建波
• 申請（專利權）人: 成都中微普業科技有限公司
• 主分類號: G05B17/02
• 分類號: G05B17/02
• 代理公司: 北京國林貿知識產權代理有限公司 11001
• 代理人: 李桂玲;杜國慶

1.一種微波測試幅度相位特征數據庫快速精確重構方法，數據庫是對應幅度逐級變換、相位逐級變換微波測試獲取的多組測試數據，幅度逐級變換是對應逐級程控衰減單元的幅度逐級變換，相位逐級變換是對應程控移相單元的相位由0至360°逐級變換，其特征在于，將多組測試數據對應的程控衰減單元和程控移相單元的微波測試表示為2端口網絡鏈接傳輸矩陣，通過對2端口網絡鏈接參數的提取模擬形成幅度逐級變換、相位逐級變換相互對應的多組數據測試，通過對2端口網絡鏈接傳輸矩陣的級聯運算形成整體的鏈接參數，進而實現通過級聯后2端口網絡鏈接傳輸矩陣的幅度、相位逐級變換計算完成全態數據庫的重構；

所述重構過程是：建立用[T_AiP0]表示的程控衰減單元傳輸矩陣和用[T_A0Pj]表示的程控移相單元的2端口網絡傳輸矩陣的鏈接，建立重構鏈接參數計算公式[T_Ai][T_Pj]＝[T_AiPj]；

構建程控衰減單元為0態時的傳輸矩陣[T_A0]和程控移相單元為0態時的傳輸矩陣[T_P0]，對[T_AOPj]用[T_A0]的去嵌得到[T_Pj]、對[T_AiP0]用[T_P0]去嵌得到[T_Ai]，用以消除程控衰減單元與程控移相單元鏈接誤差；

即：[T_A0]^-1[T_AOPj]＝[T_Pj]，[T_AiP0][T_P0]^-1＝[T_Ai]；

i＝0,1,2...m，j＝0,1,2...n；

通過測量獲取程控衰減單元傳輸矩陣[T_AiP0](i＝0,1,2...m)的數據；

通過測量獲取程控移相單元傳輸矩陣[T_AOPj](j＝0,1,2...n)的數據；

然后通過重構鏈接參數計算公式[T_Ai][T_Pj]＝[T_AiPj]計算構建得到全態特征數據庫。

2.根據權利要求1所述的微波測試幅度相位特征數據庫快速精確重構方法，其特征在于，所述將程控衰減單元和程控移相單元微波測試表示為2端口網絡鏈接傳輸矩陣是基于T傳輸矩陣的2端口網絡鏈接傳輸矩陣。