[發明專利]一種覆冰厚度的確定方法、裝置、電子設備及存儲介質在審
| 申請號： | 202210118361.0 | 申請日： | 2022-02-08 |
| 公開（公告）號： | CN114441061A | 公開（公告）日： | 2022-05-06 |
| 發明（設計）人： | 陳麗光;劉新展;魏志雄;廖子熙;文波;保志榮;羅漢輝;藍映彬;黃柱輝;楊柳輝;陳俊輝;高如超;鄒曉明;葉明武 | 申請（專利權）人： | 廣東電網有限責任公司;廣東電網有限責任公司河源供電局 |
| 主分類號： | G01K11/32 | 分類號： | G01K11/32;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人： | 嚴慧 |
| 地址： | 510000 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 厚度 確定 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種覆冰厚度的確定方法，其特征在于，所述方法包括：
獲取光纖線路上至少兩個測試點的背向散射光功率譜；其中，背向散射光為與入射光傳播方向相反的散射光；
根據所述至少兩個測試點的背向散射光功率譜，確定所述光纖線路中的覆冰區溫度和未覆冰區溫度；
根據所述覆冰區溫度和所述未覆冰區溫度，確定所述光纖線路的覆冰厚度。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述至少兩個測試點的背向散射光功率譜，確定所述光纖線路中的覆冰區溫度和未覆冰區溫度，包括：
根據所述至少兩個測試點的背向散射光功率譜，確定各個測試點的光纖溫度；
根據所述各個測試點的光纖溫度，確定所述光纖線路中的覆冰區溫度和未覆冰區溫度。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述覆冰區溫度為所述光纖線路中的最高溫度，所述未覆冰區溫度為所述光纖線路中的最低溫度。
4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，根據所述至少兩個測試點的背向散射光功率譜，確定各個測試點的光纖溫度，包括：
若所述背向散射光為布里淵散射光，則根據至少兩個測試點的布里淵譜，確定各個測試點的布里淵頻移；
根據各個測試點的所述布里淵頻移，及布里淵平移與溫度的線性關系，確定各個測試點的光纖溫度。
5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，根據所述至少兩個測試點的背向散射光功率譜，確定各個測試點的光纖溫度，包括：
若所述背向散射光為拉曼散射光，則根據至少兩個測試點的拉曼散射光功率譜，確定各個測試點的反斯托克斯光強和斯托克斯光強；
根據各個測試點的所述反斯托克斯光強和所述斯托克斯光強，確定各個測試點的光纖溫度。
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述覆冰區溫度和所述未覆冰區溫度，確定所述光纖線路的覆冰厚度，包括：
根據所述覆冰區溫度和所述未覆冰區溫度，確定覆冰區與未覆冰區光纖的溫差；
根據所述溫差，確定所述光纖線路的覆冰厚度。
7.一種覆冰厚度的確定裝置，其特征在于，所述裝置包括：
光譜獲取模塊，用于獲取光纖線路上至少兩個測試點的背向散射光功率譜；其中，背向散射光為與入射光傳播方向相反的散射光；
溫度確定模塊，用于根據所述至少兩個測試點的背向散射光功率譜，確定所述光纖線路中的覆冰區溫度和未覆冰區溫度；
厚度確定模塊，用于根據所述覆冰區溫度和所述未覆冰區溫度，確定所述光纖線路的覆冰厚度。
8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述溫度確定模塊包括：
測試點溫度確定單元，用于根據所述至少兩個測試點的背向散射光功率譜，確定各個測試點的光纖溫度；
區域溫度確定單元，用于根據所述各個測試點的光纖溫度，確定所述光纖線路中的覆冰區溫度和未覆冰區溫度。
9.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括：
一個或多個處理器；
存儲裝置，用于存儲一個或多個程序，
當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1-6中任一所述的覆冰厚度的確定方法。
10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現如權利要求1-6中任一所述的覆冰厚度的確定方法。
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