[發(fā)明專利]納米操作機(jī)器人前饋控制方法、介質(zhì)、電子設(shè)備及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210116457.3 | 申請(qǐng)日: | 2022-02-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114654460A | 公開(公告)日: | 2022-06-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張略;楊湛;楊利濤;何子良;陳濤;孫立寧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州大學(xué) |
| 主分類號(hào): | B25J9/16 | 分類號(hào): | B25J9/16;G06T1/00;G06T7/73;G06T5/00;G06T7/136;G06T7/187 |
| 代理公司: | 蘇州市中南偉業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 王廣浩 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 納米 操作 機(jī)器人 控制 方法 介質(zhì) 電子設(shè)備 系統(tǒng) | ||
1.納米操作機(jī)器人前饋控制方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、控制納米操作機(jī)器人分別在X軸和Y軸方向上運(yùn)動(dòng);
S2、通過掃描電鏡獲取納米操作機(jī)器人上碳納米管的尖端圖像,得到碳納米管尖端的運(yùn)動(dòng)軌跡作為納米操作機(jī)器人的運(yùn)動(dòng)軌跡;所述運(yùn)動(dòng)軌跡包括X軸運(yùn)動(dòng)軌跡和Y軸運(yùn)動(dòng)軌跡;
S3、根據(jù)運(yùn)動(dòng)軌跡得到偏移量,并根據(jù)偏移量和壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器的伸長量之間的關(guān)系構(gòu)建線性誤差模型;所述偏移量包括X軸偏移量和Y軸偏移量,所述壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器包括X軸壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器和Y軸壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器,所述線性誤差模型包括X軸線性誤差模型和Y軸線性誤差模型;
S4、在納米操作機(jī)器人沿目標(biāo)軌跡運(yùn)動(dòng)時(shí),通過掃描電鏡實(shí)時(shí)獲取納米操作機(jī)器人上碳納米管的尖端圖像以得到納米操作機(jī)器人的當(dāng)前位移,根據(jù)當(dāng)前位移得到當(dāng)前壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器的伸長量,并根據(jù)線性誤差模型計(jì)算當(dāng)前偏移量,調(diào)節(jié)壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器的電壓對(duì)當(dāng)前偏移量進(jìn)行補(bǔ)償。
2.如權(quán)利要求1所述的納米操作機(jī)器人前饋控制方法,其特征在于,步驟S2包括:
S21、通過掃描電鏡獲取納米操作機(jī)器人上碳納米管的尖端圖像;
S22、對(duì)碳納米管的尖端圖像進(jìn)行高斯濾波;
S23、采用自適應(yīng)二值分割的方法將碳納米管的邊緣從背景當(dāng)中分離出來,以二值矩陣的形式存儲(chǔ);
S24、對(duì)分離的碳納米管的邊緣進(jìn)行閉運(yùn)算以得到具有完整輪廓的碳納米管,輪廓的形式為二值矩陣;
S25、提取最大連通域以排除雜散點(diǎn);
S26、獲取二值矩陣中值為1的點(diǎn)對(duì)應(yīng)的坐標(biāo),即為輪廓上的點(diǎn)在圖像空間中的位置,通過遍歷輪廓點(diǎn)坐標(biāo)找出其中最小或最大的X坐標(biāo)值即得到碳納米管的尖端位置,通過連續(xù)的尖端圖像得到碳納米管尖端的運(yùn)動(dòng)軌跡。
3.如權(quán)利要求1所述的納米操作機(jī)器人前饋控制方法,其特征在于,在步驟S1中,通過設(shè)置步距,控制納米操作機(jī)器人按照設(shè)置的步距分別在X軸和Y軸方向上勻速運(yùn)動(dòng);在步驟S2中,每移動(dòng)一個(gè)步距,通過掃描電鏡獲取納米操作機(jī)器人上碳納米管的尖端圖像。
4.如權(quán)利要求1所述的納米操作機(jī)器人前饋控制方法,其特征在于,在步驟S4中,納米操作機(jī)器人按照設(shè)置的步距沿目標(biāo)軌跡運(yùn)動(dòng),每移動(dòng)一個(gè)步距,通過掃描電鏡獲取納米操作機(jī)器人上碳納米管的尖端圖像,并對(duì)偏移量進(jìn)行補(bǔ)償。
5.如權(quán)利要求1所述的納米操作機(jī)器人前饋控制方法,其特征在于,Y軸方向上的偏移量與X軸壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器的伸長量呈線性關(guān)系,X軸方向上的偏移量與Y軸壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器的伸長量呈線性關(guān)系。
6.如權(quán)利要求1所述的納米操作機(jī)器人前饋控制方法,其特征在于,所述碳納米管的一端連接在AFM探針上。
7.計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述存儲(chǔ)介質(zhì)包括存儲(chǔ)的程序,其中,所述程序執(zhí)行如權(quán)利要求1-6任意一項(xiàng)所述的納米操作機(jī)器人前饋控制方法。
8.電子設(shè)備,其特征在于,包括:一個(gè)或多個(gè)處理器,存儲(chǔ)器以及一個(gè)或多個(gè)程序,其中,所述一個(gè)或多個(gè)程序被存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中,并且被配置為由所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行,所述一個(gè)或多個(gè)程序包括用于執(zhí)行上述如權(quán)利要求1-6任意一項(xiàng)所述的納米操作機(jī)器人前饋控制方法。
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