[發明專利]磁盤裝置及刷新閾值的設定方法在審
| 申請號: | 202210115844.5 | 申請日: | 2022-02-07 |
| 公開(公告)號: | CN115731951A | 公開(公告)日: | 2023-03-03 |
| 發明(設計)人: | 磯川博;前東信宏 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社 |
| 主分類號: | G11B5/02 | 分類號: | G11B5/02;G11B5/09;G11B27/36 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務所 11247 | 代理人: | 萬利軍;段承恩 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 磁盤 裝置 刷新 閾值 設定 方法 | ||
提供能夠提高性能及數據的可靠性的磁盤裝置及刷新閾值的設定方法。本實施方式的磁盤裝置具備:盤,具有第1磁道;頭,具有加熱器,對所述盤寫數據,從所述盤讀數據;及控制器,設定所述第1磁道的1周內的與向所述盤的寫處理相關聯的參數的變動,以使得在所述第1磁道的1周內抑制與寫/讀處理特性對應的評價指標的變動。
本申請享受以日本專利申請2021-142613號(申請日:2021年9月1日)為基礎申請的優先權。本申請通過參照該基礎申請而包含基礎申請的全部內容。
技術領域
本發明的實施方式涉及磁盤裝置及刷新閾值的設定方法。
背景技術
伴隨于磁盤裝置的磁盤(以下,簡稱作盤)的高記錄密度化,因盤的磁性膜等的不均勻或者機械特性等而盤的1周內的記錄再現特性的變動作為比特錯誤率(BER)等的評價指標的變動而明顯化。在盤的預定的磁道,希望BER成為一定。
另外,在磁盤裝置中,在寫了數據的情況下因來自頭的漏磁通等的影響(AdjacentTrack Interference:ATI,相鄰磁道干擾),有可能發生數據被擦除的側擦(Side erase)。為了防止側擦,磁盤裝置具有:在向預定磁道的周邊磁道寫了數據的次數超過了規定次數的情況下重寫預定磁道的數據的處理(刷新處理或再寫處理)。
發明內容
本發明的實施方式要解決的課題在于,提供能夠提高性能及數據的可靠性的磁盤裝置及刷新閾值的設定方法。
本實施方式所涉及的磁盤裝置,具備:盤,具有第1磁道;頭,具有加熱器,對所述盤寫數據,從所述盤讀數據;及控制器,設定所述第1磁道的1周內的與向所述盤的寫處理關聯的參數的變動,以使得在所述第1磁道的1周內抑制與寫/讀處理特性對應的評價指標的變動。
附圖說明
圖1是示出實施方式的磁盤裝置的構成的框圖。
圖2是示出實施方式的盤的一例的示意圖。
圖3是示出盤及頭的一例的放大剖視圖。
圖4是示出寫處理的一例的示意圖。
圖5是示出預定磁道的針對圓周位置的實測評價指標的變動、近似評價指標的變動及修正評價指標的變動的一例的示意圖。
圖6是示出本實施方式的針對圓周位置的修正評價指標的變動及修正寫處理參數的變動的一例的示意圖。
圖7是示出進行了邊緣寫(Fringe write)的情況下的預定磁道的針對圓周位置的BER的變動的一例的示意圖。
圖8是示出實施方式的預定磁道的針對圓周位置的TBG值的變動及針對圓周位置的閾值修正值的變動的一例的示意圖。
圖9是示出實施方式的預定磁道的針對劃分區域的劃分區域閾值的變動的一例的示意圖。
圖10是示出預定磁道的劃分區域的一例的示意圖。
圖11是示出實施方式的寫次數及劃分區域閾值的表TB的一例的示意圖。
圖12是示出實施方式的刷新閾值的設定方法的一例的流程圖。
圖13是示出實施方式的刷新處理方法的一例的示意圖。
【標號說明】
1…磁盤裝置,10…磁盤,10a…用戶數據區域,10b…系統區,12…主軸馬達(SPM),13…臂,14…音圈馬達(VCM),15…頭,15W…寫頭,15R…讀頭,20…驅動器IC,30…頭放大器IC,40…讀/寫(R/W)通道,50…硬盤控制器(HDC),60…微型處理器(MPU),70…易失性存儲器,80…非易失性存儲器,90…緩沖存儲器,100…主機系統(主機),130…系統控制器。
具體實施方式
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社,未經株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210115844.5/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種測定香辛料中二氧化硫含量的方法
- 下一篇:磁盤裝置





