[發明專利]多通道采樣時間偏差校準模塊及時間交織模數轉換器

有效

• 申請號: 202210114504.0
• 申請日: 2022-01-30
• 公開（公告）號: CN114142858B
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發明（設計）人: 臧軍領;劉佳
• 申請（專利權）人: 深圳市速騰聚創科技有限公司;上海路泊盛世信息科技有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10;H03M1/12
• 代理公司: 北京恒博知識產權代理有限公司 11528
• 代理人: 楊代凱

本申請公開了多通道采樣時間偏差校準模塊及時間交織模數轉換器，多通道采樣時間偏差校準模塊包括多個延時可控單元、多個檢測單元以及延時控制單元；多個延時可控單元的輸入端接收一一對應的多相采樣時鐘信號，輸出端與多個檢測單元的輸入端一一對應相連；多個檢測單元的輸出端與延時控制單元的輸入端一一對應相連；延時控制單元的輸出端與多個延時可控單元的輸入端一一對應相連；本申請通過檢測時間窗口檢測與多相采樣時鐘信號一一對應的多個時間檢測，并根據檢測結果進行計數，利用計數結果調節多個延時可控單元的延時量，以使任意兩個檢測單元輸出的第一標志計數值的差值在預設數量范圍內，實現采樣時間偏差的校準。

技術領域

本申請涉及模擬數字轉換技術領域，尤其涉及多通道采樣時間偏差校準模塊及時間交織模數轉換器。

背景技術

目前，為了提高ADC采樣單元的采樣率，相關技術中采用多相采樣時鐘信號控制多通道ADC采樣單元按照時間交織的方式輪換工作。

當多通道ADC采樣單元中各個通道ADC單元完全相同時，多個ADC采樣單元的采樣率與交織并行ADC通道的數量成正比。即，假設多個ADC采樣單元采用M個相同型號的ADC采樣單元依次交替完成采樣，M為大于等于2的正整數；多個ADC采樣單元的采樣率可以達到單個ADC采樣單元的M倍。

但是，多通道ADC采樣單元的多個通道存在采樣時間偏差，而采樣時間偏差將會導致多通道ADC采樣單元的采樣精度下降。如何校準多個通道的采樣時間偏差成為本領域技術人員需要解決的技術問題。

發明內容

本申請實施例提供了一種多通道采樣時間偏差校準模塊及時間交織模數轉換器，通過校準多相采樣時鐘信號的采樣時間偏差，實現多個通道采樣時間偏差的校準。

第一方面，本申請實施例提供了一種多通道采樣時間偏差校準模塊，包括：

包括：

多個延時可控單元，與所述多相采樣時鐘信號一一對應；每一所述延時可控單元均包括輸入端、輸出端和控制端；所述多個延時可控單元的輸入端分別接收所述多相采樣時鐘信號，輸出端與檢測單元的輸入端一一對應相連，用于對所述多相采樣時鐘信號進行延時；

多個檢測單元，與所述多個延時可控單元一一對應；每一所述檢測單元均包括第一時鐘輸入端、第二時鐘輸入端及輸出端；所述多個檢測單元的第一時鐘輸入端與所述多個延時可控單元的輸出端一一對應相連，第二時鐘輸入端均接收參考時鐘信號，輸出端與延時控制單元的輸入端一一對應相連；所述多個檢測單元用于檢測多個時間間隔是否在檢測時間窗口內，并在所述時間間隔位于所述檢測時間窗口內時，輸出第一標志，所述多個時間間隔分別為輸入所述多個檢測單元的兩個時鐘信號之間的時間間隔；

延時控制單元，包括輸入端和輸出端；所述延時控制單元的輸入端分別與所述多個檢測單元的輸出端一一對應相連；所述延時控制單元的輸出端分別與所述多個延時可控單元的控制端一一對應相連；所述延時控制單元用于對所述多個檢測單元輸出的第一標志進行計數，利用計數結果調節所述多個延時可控單元的延時量，以使任意兩個所述檢測單元輸出的第一標志計數值的差值在預設數量范圍內。

作為具體的實施方式，所述檢測單元包括：

比較器，包括時鐘輸入端、輸入端和輸出端；所述比較器的時鐘輸入端作為所述檢測單元的第一時鐘輸入端，與所述延時可控單元的輸出端一一對應相連；所述比較器的輸入端用于在校準模式下接收校準模式輸入電壓；所述比較器的輸出端的數量為兩個，與所述亞穩態檢測單元的輸入端一一對應相連；所述比較器用于在校準模式下對所述校準模式輸入電壓進行比較；

亞穩態檢測單元，包括時鐘輸入端、輸入端和輸出端；所述亞穩態檢測單元的時鐘輸入端作為所述檢測單元的第二時鐘輸入端，接收所述參考時鐘信號；所述亞穩態檢測單元的輸入端與所述比較器的輸出端一一對應相連；所述亞穩態檢測單元的輸出端作為所述檢測單元的輸出端，與所述延時控制單元的輸入端一一對應相連；