[發(fā)明專利]顯示面板

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210100131.1
• 申請(qǐng)日: 2022-01-27
• 公開（公告）號(hào): CN114495718A
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 羅超龍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: TCL華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G09F9/30
• 分類號(hào): G09F9/30;G09G3/00
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 何志軍

1.一種顯示面板，其特征在于，包括顯示區(qū)和測(cè)試區(qū)，所述顯示區(qū)內(nèi)設(shè)置有多條信號(hào)線，所述測(cè)試區(qū)內(nèi)設(shè)置有相互獨(dú)立的多個(gè)測(cè)試端子，所述多條信號(hào)線分別通過測(cè)試線與對(duì)應(yīng)的測(cè)試端子連接，其中，所述多個(gè)測(cè)試端子形成沿第一方向排列的至少兩個(gè)測(cè)試端子排，每個(gè)測(cè)試端子排包括至少一個(gè)測(cè)試端子，所述多個(gè)測(cè)試端子中存在至少一個(gè)目標(biāo)測(cè)試端子，所述目標(biāo)測(cè)試端子與相鄰測(cè)試端子排中的相鄰測(cè)試端子沿所述第一方向交錯(cuò)排布。

2.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述目標(biāo)測(cè)試端子具有沿第二方向的第一長(zhǎng)度，相鄰測(cè)試端子排中與所述目標(biāo)測(cè)試端子交錯(cuò)排布的兩個(gè)相鄰測(cè)試端子具有沿所述第二方向的第一間距，所述第二方向與所述第一方向垂直，所述第一長(zhǎng)度小于或等于所述第一間距。

3.如權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于，所述目標(biāo)測(cè)試端子與所述兩個(gè)相鄰測(cè)試端子沿所述第一方向的第二間距大于閾值。

4.如權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于，所述第一長(zhǎng)度小于所述第一間距，所述目標(biāo)測(cè)試端子的部分嵌在所述兩個(gè)測(cè)試端子之間。

5.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，各奇數(shù)測(cè)試端子排中的測(cè)試端子的排布方式相同，各偶數(shù)測(cè)試端子排中測(cè)試端子的排布方式相同，且奇數(shù)測(cè)試端子排中的各測(cè)試端子與相鄰偶數(shù)測(cè)試端子排中的相鄰測(cè)試端子均沿所述第一方向交錯(cuò)排布。

6.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述顯示面板內(nèi)設(shè)置有多條掃描信號(hào)線和多條數(shù)據(jù)信號(hào)線，所述測(cè)試端子包括多個(gè)第一測(cè)試端子和多個(gè)第二測(cè)試端子，各掃描信號(hào)線通過第一測(cè)試線與對(duì)應(yīng)的各第一測(cè)試端子連接，各數(shù)據(jù)信號(hào)線通過第二測(cè)試線與對(duì)應(yīng)的各第二測(cè)試端子連接，所述多個(gè)第一測(cè)試端子與所述多個(gè)第二測(cè)試端子分別位于不同的測(cè)試端子列。

7.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，各測(cè)試端子排中的測(cè)試端子數(shù)量相等。

8.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，各測(cè)試端子排中的測(cè)試端子數(shù)量，與各測(cè)試端子排和顯示區(qū)的距離成反比。

9.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，各測(cè)試端子的形狀和尺寸相同。

10.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，各測(cè)試端子排之間等間距設(shè)置。