[發(fā)明專利]用于測(cè)試接口單元的短路檢測(cè)方法和系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210100098.2
• 申請(qǐng)日: 2022-01-27
• 公開（公告）號(hào): CN114487909A
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胥蕓菠;陳允健
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 英特爾產(chǎn)品（成都）有限公司;英特爾公司
• 主分類號(hào): G01R31/52
• 分類號(hào): G01R31/52;G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 北京永新同創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11376
• 代理人: 林錦輝;劉景峰

本公開提供了一種用于測(cè)試接口單元的短路檢測(cè)方法，所述測(cè)試接口單元具有多個(gè)測(cè)試引腳，所述方法包括：將所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳與待測(cè)試封裝單元的多個(gè)觸點(diǎn)接觸；確定所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳中是否存在短路；以及如果確定所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳中存在短路，確定所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳中短路的引腳的位置。本公開還提供了一種用于測(cè)試接口單元的短路檢測(cè)系統(tǒng)。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開總體上涉及封裝后測(cè)試領(lǐng)域，以及更具體地，涉及用于測(cè)試接口單元的短路檢測(cè)方法和系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在半導(dǎo)體器件的封裝之后，需要利用測(cè)試接口單元(TIU，test interface unit)對(duì)封裝單元(例如，CPU、南橋芯片、北橋芯片等)進(jìn)行各種電氣功能測(cè)試，以測(cè)量封裝單元的電氣功能是否滿足設(shè)計(jì)要求。針對(duì)不同的封裝單元選擇相應(yīng)的測(cè)試接口單元，并且測(cè)試接口單元具有間距為微米級(jí)的多個(gè)測(cè)試引腳。如圖1(a)中所示，在利用測(cè)試接口單元100對(duì)封裝單元110進(jìn)行電氣功能測(cè)試時(shí)，測(cè)試接口單元100的測(cè)試引腳120與待測(cè)試封裝單元110的觸點(diǎn)130緊密接觸。然后通過對(duì)測(cè)試接口單元100施加相應(yīng)的電信號(hào)來完成待測(cè)試封裝單元110的各種電氣功能測(cè)試。

在利用測(cè)試接口單元對(duì)封裝單元進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需要施加力以使得測(cè)試接口單元的測(cè)試引腳與待測(cè)試封裝單元的觸點(diǎn)緊密接觸。然而，隨著測(cè)試接口單元的頻繁使用，測(cè)試接口單元的測(cè)試引腳可能發(fā)生變形。在這種情況下，在施加力使得測(cè)試接口單元的測(cè)試引腳與待測(cè)試封裝單元的觸點(diǎn)緊密接觸時(shí)，測(cè)試接口單元的兩個(gè)(或者多個(gè))測(cè)試引腳可能相互接觸。如圖1(b)中所示，測(cè)試接口單元100左側(cè)的兩測(cè)試引腳120接觸，從而造成測(cè)試接口單元100的短路，進(jìn)而無法利用測(cè)試接口單元100完成對(duì)待測(cè)試封裝單元110的電氣功能測(cè)試。

為了消除測(cè)試接口單元的測(cè)試引腳的變形，需要技術(shù)人員手動(dòng)對(duì)測(cè)試接口單元的測(cè)試引腳進(jìn)行校正。由于測(cè)試接口單元的測(cè)試引腳數(shù)以千計(jì)，因此通過技術(shù)人員手動(dòng)進(jìn)行校正非常耗時(shí)，并且這種長(zhǎng)時(shí)間的重復(fù)性勞動(dòng)會(huì)讓人感到厭煩。另外，這種手動(dòng)校正是在測(cè)試接口單元的測(cè)試引腳與待測(cè)試封裝單元的觸點(diǎn)沒有發(fā)生接觸的情況下進(jìn)行的。因此，即使對(duì)測(cè)試接口單元的全部測(cè)試引腳進(jìn)行手動(dòng)校正之后，也不能保證校正后的測(cè)試引腳再與封裝單元的觸點(diǎn)接觸時(shí)不會(huì)導(dǎo)致測(cè)試引腳的短路。

因此，需要一種用于測(cè)試接口單元的短路檢測(cè)方法和系統(tǒng)，其能夠在利用測(cè)試接口單元對(duì)待測(cè)試封裝單元進(jìn)行各種電氣功能測(cè)試之前，在測(cè)試接口單元的測(cè)試引腳與待測(cè)試封裝單元的觸點(diǎn)接觸的情況下準(zhǔn)確檢測(cè)測(cè)試接口單元的測(cè)試引腳是否發(fā)生短路。

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)本公開的實(shí)施例，提供了一種用于測(cè)試接口單元的短路檢測(cè)方法，所述測(cè)試接口單元具有多個(gè)測(cè)試引腳，所述方法包括：將所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳與待測(cè)試封裝單元的多個(gè)觸點(diǎn)接觸；確定所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳中是否存在短路；以及如果確定所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳中存在短路，確定所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳中短路的引腳的位置。

在一些實(shí)施例中，所述方法還包括移除所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳中短路的引腳。

在一些實(shí)施例中，確定所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳中短路的引腳的位置包括：將所述測(cè)試接口單元連接至電源；以及將所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳中發(fā)生可視的變化的測(cè)試引腳確定為短路的引腳。

在一些實(shí)施例中，所述電源的電壓為10V并且所述測(cè)試接口單元連接至所述電源持續(xù)2-5秒。

在一些實(shí)施例中，通過將測(cè)試接口單元連接至電阻測(cè)量單元來確定所述測(cè)試接口單元的多個(gè)測(cè)試引腳中是否存在短路。

在一些實(shí)施例中，所述電阻測(cè)量單元為萬用表或歐姆表。