[發明專利]一種儀表讀數識別方法、裝置及計算機設備

在審

• 申請號: 202210096947.1
• 申請日: 2022-01-27
• 公開（公告）號: CN114120309A
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: 李季
• 申請（專利權）人: 樹根互聯股份有限公司
• 主分類號: G06V20/62
• 分類號: G06V20/62;G06V10/44;G06V10/75;G06V10/764;G06T7/73
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 賈耀斌

1.一種儀表讀數識別方法，其特征在于，所述儀表讀數識別方法包括：

識別儀表圖像中的全部基礎組件以及各基礎組件對應的屬性信息，其中，所述屬性信息包括各所述基礎組件對應的類型以及各所述基礎組件對應的目標檢測框中各關鍵像素點的坐標，所述基礎組件包括一個指針組件；

根據各所述目標檢測框中各所述關鍵像素點的坐標，確定所述指針組件的目標旋轉角度以及任意兩個所述基礎組件之間的相對位置關系；

基于所述儀表圖像中各所述基礎組件對應的所述屬性信息以及任意兩個所述基礎組件之間的所述相對位置關系，從預設圖數據庫中選取與所述儀表圖像的匹配度最大的目標圖像；

根據所述目標圖像關聯的標準規格信息識別所述指針組件的目標旋轉角度對應的讀數。

2.根據權利要求1所述的儀表讀數識別方法，其特征在于，根據各所述目標檢測框中各所述關鍵像素點的坐標，確定所述指針組件的目標旋轉角度以及任意兩個所述基礎組件之間的相對位置關系的步驟，包括：

根據各所述基礎組件對應的目標檢測框的幾何中點的坐標，確定任意兩個所述基礎組件之間的相對位置關系；

針對所述指針組件，選取所述指針組件對應的目標檢測框的最長中線為目標檢測線段；

根據所述目標檢測線段與預設檢測線段對應的各所述像素點的坐標，確定所述目標檢測線段與預設檢測線段之間的所述目標旋轉角度。

3.根據權利要求2所述的儀表讀數識別方法，其特征在于，所述基礎組件的類型包括所述指針組件對應的轉軸，根據所述目標檢測線段與預設檢測線段對應的各所述像素點的坐標，確定所述目標檢測線段與預設檢測線段之間的所述目標旋轉角度的步驟，包括：

基于所述轉軸將所述目標檢測線段分為長軸線段和短軸線段；

從所述目標檢測線段與所述預設檢測線段之間的全部夾角中，按照預設旋轉方向，選取所述長軸線段與所述預設檢測線段之間的夾角為所述目標旋轉角度。

4.根據權利要求2所述的儀表讀數識別方法，其特征在于，所述基礎組件的類型包括所述指針組件對應的轉軸和多個刻度線組件，所述預設檢測線段的確定步驟，包括：

將各所述刻度線組件按照預設旋轉方向排序，得到參考刻度線組件序列；

從所述參考刻度線組件序列中選取起始位置對應的所述刻度線組件為參考檢測線段；

將所述參考檢測線段向所述轉軸對應的方向延長預設距離，得到所述預設檢測線段。

5.根據權利要求1所述的儀表讀數識別方法，其特征在于，從預設圖數據庫中選取與所述儀表圖像的匹配度最大的目標圖像的步驟，包括：

將所述預設圖數據庫中各第一參考圖像按照與所述儀表圖像的匹配度進行降序排列，得到參考序列；

選取所述參考序列中的前i個所述第一參考圖像為第二參考圖像，其中i為正整數；

將i個所述第二參考圖像分別與所述儀表圖像進行圖像近似度檢測，確定最大的所述圖像近似度對應的所述第二參考圖像為所述目標圖像。

6.一種儀表讀數識別裝置，其特征在于，所述儀表讀數識別裝置包括：

組件識別模塊,用于識別儀表圖像中的全部基礎組件以及各基礎組件對應的屬性信息，其中，所述屬性信息包括各所述基礎組件對應的類型以及各所述基礎組件對應的目標檢測框中各關鍵像素點的坐標，所述基礎組件包括一個指針組件和多個刻度線組件；

位置確定模塊,用于根據各所述目標檢測框中各所述關鍵像素點的坐標，確定所述指針組件的目標旋轉角度以及任意兩個所述基礎組件之間的相對位置關系；

圖像匹配模塊,用于基于所述儀表圖像中各所述基礎組件對應的所述屬性信息以及任意兩個所述基礎組件之間的所述相對位置關系，從預設圖數據庫中選取與所述儀表圖像的匹配度最大的目標圖像；

讀數識別模塊,用于根據所述目標圖像關聯的標準規格信息識別所述指針組件的目標旋轉角度對應的讀數。