[發明專利]一種無紡布中環氧乙烷殘留量檢測系統及方法

在審

• 申請號: 202210093508.5
• 申請日: 2022-01-26
• 公開（公告）號: CN114527207A
• 公開（公告）日: 2022-05-24
• 發明（設計）人: 李應培;區麗華;徐曉麗;張珍竹;區少佳;鄧琪錦
• 申請（專利權）人: 中聯品檢（佛山）檢驗技術有限公司
• 主分類號: G01N30/02
• 分類號: G01N30/02;G01N30/06;G01N30/72;G01N1/28
• 代理公司: 佛山信智匯知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 44629
• 代理人: 馮桂彬

1.一種無紡布中環氧乙烷殘留量檢測系統，包括GC-MS檢測儀，其特征在于，所述無紡布中環氧乙烷殘留量檢測系統還包括預處理部件以及頂空進樣器，所述預處理部件包括：

剪切裝置，用于裁剪預設重量的無紡布試樣；

頂空樣品瓶，用于存儲環氧乙烷標準溶液、萃取溶劑以及所述無紡布試樣；

密封裝置，設于所述頂空樣品瓶的開口處并用于密封所述頂空樣品瓶的開口；

其中，所述頂空進樣器用于對密封后的所述頂空樣品瓶進行孵化處理，所述GC-MS檢測儀用于對孵化處理后的所述頂空樣品瓶中的所述無紡布的環氧乙烷殘留量進行檢測分析。

2.如權利要求1所述的一種無紡布中環氧乙烷殘留量檢測系統，其特征在于，所述檢測分析的條件包括：

色譜柱：HP-PLOT/Q+PT(30m×0.320mm×20μm)；

頂空孵化溫度：70℃；

定量環溫度：100℃；

傳輸線溫度：120℃；

頂空孵化時間：10min；

進樣口溫度：200℃；

質譜傳輸線溫度：280℃；

離子源溫度：230℃；

四極桿溫度：150℃；

升溫程序：初始溫度50℃，以每分鐘10℃的升溫速率升到150℃，后運行溫度230℃，后運行時間2min；

載氣：高純氦氣，純度≥99.999％，流速2mL/min；

進樣方式：分流進樣，分流比5:1；

電離方式：EI；

離子監測模式：Scan。

3.如權利要求1所述的一種無紡布中環氧乙烷殘留量檢測系統，其特征在于，所述無紡布樣品的預設重量為1.0g，所述頂空樣品瓶的容量為20mL，所述環氧乙烷標準溶液的濃度為200μg/mL，所述環氧乙烷標準溶液的體積為50μL。

4.如權利要求1所述的一種無紡布中環氧乙烷殘留量檢測系統，其特征在于，所述萃取溶劑為乙醇，所述乙醇的體積為5.0mL。

5.如權利要求1所述的一種無紡布中環氧乙烷殘留量檢測系統，其特征在于，所述檢測分析的條件包括：

頂空孵化溫度：60℃；

頂空孵化時間：10min。

6.一種無紡布中環氧乙烷殘留量檢測方法，應用于如權利要求1-5中任意一項所述的無紡布中環氧乙烷殘留量檢測系統，其特征在于，包括如下步驟：

裁剪預設重量的無紡布試樣；

依次將所述無紡布試樣、環氧乙烷標準溶液以及萃取溶劑添加到頂空樣品瓶中；

利用密封裝置密封所述頂空樣品瓶的開口；

通過頂空進樣器對密封后的所述頂空樣品瓶進行孵化處理；

通過GC-MS檢測儀對孵化處理后的所述頂空樣品瓶中的所述無紡布的環氧乙烷殘留量進行檢測分析。

7.如權利要求6所述的一種無紡布中環氧乙烷殘留量檢測方法，其特征在于，所述檢測分析的條件包括：

色譜柱：HP-PLOT/Q+PT(30m×0.320mm×20μm)；

頂空孵化溫度：70℃；

定量環溫度：100℃；

傳輸線溫度：120℃；

頂空孵化時間：10min；

進樣口溫度：200℃；

質譜傳輸線溫度：280℃；

離子源溫度：230℃；

四極桿溫度：150℃；

升溫程序：初始溫度50℃，以每分鐘10℃的升溫速率升到150℃，后運行溫度230℃，后運行時間2min；

載氣：高純氦氣，純度≥99.999％，流速2mL/min；

進樣方式：分流進樣，分流比5:1；

電離方式：EI；

離子監測模式：Scan。

8.如權利要求6所述的一種無紡布中環氧乙烷殘留量檢測方法，其特征在于，所述無紡布樣品的預設重量為1.0g，所述頂空樣品瓶的容量為20mL，所述環氧乙烷標準溶液的濃度為200μg/mL，所述環氧乙烷標準溶液的體積為50μL。