[發明專利]異常目標檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202210089909.3 | 申請日: | 2022-01-25 |
| 公開(公告)號: | CN114495005A | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發明(設計)人: | 黃慶福;陳俊;龐鈞元;沈鴻軍 | 申請(專利權)人: | 重慶紫光華山智安科技有限公司 |
| 主分類號: | G06V20/52 | 分類號: | G06V20/52;G06V20/40;G06V10/25;G06V40/20 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 戴堯罡 |
| 地址: | 400700 重慶市*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 異常 目標 檢測 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種異常目標檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
根據待處理圖像,獲得多個目標的標識和每個所述目標在預設世界坐標系中的第一世界坐標值;
根據所述多個目標的標識和所述待處理圖像之前的N幀歷史圖像,獲得每個所述目標在所述預設世界坐標系中的N個歷史世界坐標值;一個所述歷史世界坐標值與一幀所述歷史圖像對應;N為正整數;
根據所述多個目標中每個所述目標的第一世界坐標值和N個歷史世界坐標值,構建每個所述目標的世界坐標值集;
將每個所述目標逐個作為待檢測目標,根據所述待檢測目標的世界坐標值集和所述多個目標中除所述待檢測目標以外的全部其它目標的世界坐標值集,獲得所述待檢測目標相對于所述全部其它目標的距離變化參數,得到每個所述目標的距離變化參數;
根據每個所述目標的距離變化參數,確定每個所述目標是否異常。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據待處理圖像,獲得多個目標的標識和每個所述目標在預設世界坐標系中的第一世界坐標值步驟,包括:
檢測所述待處理圖像,獲得所述多個目標的標識和每個所述目標在預設圖像坐標系中的第一像素坐標值;
根據每個所述目標的第一像素坐標值和預設轉換關系,獲得每個所述目標在所述預設世界坐標系中的第一世界坐標值;所述預設轉換關系表征預設圖像坐標系與所述預設世界坐標系的轉換關系。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述待檢測目標的世界坐標值集和所述多個目標中除所述待檢測目標以外的全部其它目標的世界坐標值集,獲得所述待檢測目標相對于所述全部其它目標的距離變化參數的步驟,包括:
根據所述待檢測目標的世界坐標值集和每個所述其它目標的世界坐標值集,獲得所述待檢測目標與每個所述其它目標的距離數組;
從全部距離數組中獲得有效距離數組,所述有效距離數組表征所述待檢測目標與有效目標的距離數組,所述有效目標表征其與所述待檢測目標的距離變化程度滿足預設條件;
將所述有效距離數組的個數與全部距離數組的個數的比值,作為所述待檢測目標的距離變化參數。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述世界坐標值集包括M個世界坐標值;M等于N加1;
所述根據所述待檢測目標的世界坐標值集和每個所述其它目標的世界坐標值集,獲得所述待檢測目標與每個所述其它目標的距離數組的步驟,包括:
對于任意一個所述其它目標,根據所述其它目標的第m個世界坐標值和所述待檢測目標的第m個世界坐標值獲得第m個距離參數,得到M個距離參數;m為不大于M的正整數;
將所述M個距離參數作為所述待檢測目標與所述其它目標的距離數組;
遍歷每個所述其它目標,獲得所述待檢測目標與每個所述其它目標的距離數組。
5.根據權利要求4所述方法,其特征在于,所述世界坐標值包括橫坐標值和縱坐標值;
所述根據所述其它目標的第m個世界坐標值和所述待檢測目標的第m個世界坐標值獲得第m個距離參數的步驟,包括:
計算所述其它目標的第m個橫坐標值與所述待檢測目標的第m個橫坐標值的差的平方,得到第m個第一子距離參數;
計算所述其它目標的第m個縱坐標值與所述待檢測目標的第m個縱坐標值的差的平方,得到第m個第二子距離參數;
將所述第m個第一子距離參數和第m個第二子距離參數相加,獲得所述第m個距離參數。
6.根據權利要求4所述方法,其特征在于,所述從全部距離數組中獲得有效距離數組的步驟,包括:
從全部距離數組中獲得待定距離數組,所述待定距離數組中的每個所述距離參數均屬于所述預設范圍;
對于每個所述待定距離數組,計算所述待定距離數組中任意兩個相鄰距離參數的絕對差值的平均值,獲得所述待定距離數組的變化參數;
將所述變化參數等于或者大于預設閾值的待定距離數組作為所述有效距離數組。
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