[發(fā)明專利]基于映射關(guān)系的回歸測(cè)試方法、裝置及電子設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210088381.8
• 申請(qǐng)日: 2022-01-25
• 公開（公告）號(hào): CN114519003A
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王騫;張國(guó)蘋;李真輝;張海闊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)互聯(lián)網(wǎng)絡(luò)信息中心
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 任少瑞

本發(fā)明提供一種基于映射關(guān)系的回歸測(cè)試方法、裝置及電子設(shè)備，其中基于映射關(guān)系的回歸測(cè)試方法，包括：獲取軟件的功能模塊與測(cè)試用例集中測(cè)試用例的第一映射關(guān)系；獲取功能模塊與函數(shù)的第二映射關(guān)系；基于所述第一映射關(guān)系和所述第二映射關(guān)系，建立函數(shù)與測(cè)試用例的映射關(guān)系；基于修改的函數(shù)，以及所述函數(shù)與測(cè)試用例的映射關(guān)系，確定回歸測(cè)試用例集；執(zhí)行所述回歸測(cè)試用例集。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確且靈活管理測(cè)試用例集，提高回歸測(cè)試的測(cè)試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及回歸測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于映射關(guān)系的回歸測(cè)試方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

回歸測(cè)試作為軟件生命周期的一個(gè)重要組成部分，其測(cè)試效率直接影響產(chǎn)品的研發(fā)速度，尤其在敏捷開發(fā)過程中，回歸測(cè)試的頻率更高。因此，如何應(yīng)對(duì)版本的快速迭代，以及如何確保回歸測(cè)試的測(cè)試效率和測(cè)試質(zhì)量，均成為業(yè)界亟需解決的關(guān)鍵問題。

相關(guān)技術(shù)中，應(yīng)對(duì)版本迭代的回歸測(cè)試方式包括：根據(jù)版本迭代過程中代碼的修改補(bǔ)充測(cè)試用例，每次回歸測(cè)試覆蓋完整的用例集；或者，根據(jù)版本迭代過程中代碼的修改設(shè)計(jì)新的測(cè)試用例，且在回歸測(cè)試中選擇性的執(zhí)行優(yōu)先級(jí)較高的測(cè)試用例。

然而，由于現(xiàn)有回歸測(cè)試方式中，針對(duì)測(cè)試用例集的管理，通常涉及測(cè)試用例的補(bǔ)充，或者人為選擇優(yōu)先級(jí)較高的測(cè)試用例，并不能靈活管理測(cè)試用例集，從而導(dǎo)致回歸測(cè)試的測(cè)試效率不高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種基于映射關(guān)系的回歸測(cè)試方法、裝置及電子設(shè)備，用以解決現(xiàn)有回歸測(cè)試方法不能靈活管理測(cè)試用例集導(dǎo)致回歸測(cè)試的測(cè)試效率不高的缺陷，實(shí)現(xiàn)測(cè)試用例集的靈活有效管理并提高回歸測(cè)試的測(cè)試效率。

本發(fā)明提供一種基于映射關(guān)系的回歸測(cè)試方法，包括：

獲取軟件的功能模塊與測(cè)試用例集中測(cè)試用例的第一映射關(guān)系；

獲取功能模塊與函數(shù)的第二映射關(guān)系；

基于所述第一映射關(guān)系和所述第二映射關(guān)系，建立函數(shù)與測(cè)試用例的映射關(guān)系；

基于修改的函數(shù)，以及所述函數(shù)與測(cè)試用例的映射關(guān)系，確定回歸測(cè)試用例集；

執(zhí)行所述回歸測(cè)試用例集。

根據(jù)本發(fā)明提供的一種基于映射關(guān)系的回歸測(cè)試方法，所述獲取軟件的功能模塊與測(cè)試用例集中測(cè)試用例的第一映射關(guān)系，包括：

根據(jù)所述軟件的各功能模塊的重要程度，生成功能權(quán)重矩陣；其中，所述功能權(quán)重矩陣中包括所述軟件的各功能模塊的權(quán)重系數(shù)；

基于所述功能權(quán)重矩陣，構(gòu)建所述軟件的功能模塊對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例，并建立所述軟件的功能模塊與測(cè)試用例集中測(cè)試用例的第一映射關(guān)系。

根據(jù)本發(fā)明提供的一種基于映射關(guān)系的回歸測(cè)試方法，所述獲取功能模塊與函數(shù)的第二映射關(guān)系，包括：

執(zhí)行所述測(cè)試用例集中所有測(cè)試用例，統(tǒng)計(jì)所述軟件的各功能模塊所覆蓋到的函數(shù)；

根據(jù)所述軟件的各功能模塊所覆蓋到的函數(shù)，確定功能模塊與函數(shù)的第二映射關(guān)系。

根據(jù)本發(fā)明提供的一種基于映射關(guān)系的回歸測(cè)試方法，所述方法還包括：

基于所述修改的函數(shù)對(duì)應(yīng)的缺陷或功能的重要程度，更新功能權(quán)重矩陣中對(duì)應(yīng)功能模塊的權(quán)重系數(shù)，及更新各功能模塊對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例。

根據(jù)本發(fā)明提供的一種基于映射關(guān)系的回歸測(cè)試方法，所述基于修改的函數(shù)，以及所述函數(shù)與測(cè)試用例的映射關(guān)系，確定回歸測(cè)試用例集，包括：

在所述修改的函數(shù)用于在所述軟件中更新功能模塊的情況下，基于所述函數(shù)與測(cè)試用例的映射關(guān)系，選擇所述測(cè)試用例集中與所述修改的函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例，確定回歸測(cè)試用例集。