[發明專利]一種樣品前處理裝置

在審

• 申請號: 202210086878.6
• 申請日: 2022-01-25
• 公開（公告）號: CN114295463A
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 昝保真;范智強;于德偉
• 申請（專利權）人: 北京歷元儀器有限公司
• 主分類號: G01N1/40
• 分類號: G01N1/40
• 代理公司: 北京慕達星云知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11465
• 代理人: 姜海榮

1.一種樣品前處理裝置，其特征在于，包括處理殼體(1)和半透膜(2)：所述半透膜(2)設置在所述處理殼體(1)內部，所述半透膜(2)將所述處理殼體(1)內部分隔為樣品腔(11)和收集液腔(12)，所述處理殼體(1)上設有與所述樣品腔(11)均連通的處理樣品入口(101)和處理樣品出口(102)，所述處理殼體(1)上設有與所述收集液腔(12)均連通的收集液進口(103)和收集液出口(104)。

2.根據權利要求1所述的一種樣品前處理裝置，其特征在于，還包括：

第一鉑金陽電極板(3)，所述第一鉑金陽電極板(3)設置在所述樣品腔(11)內或所述收集液腔(12)；

第一鉑金陰電極板(4)，所述第一鉑金陰電極板(4)設置在所述收集液腔(12)或所述樣品腔(11)；

第一恒電流源(5)，所述第一恒電流源(5)設置在所述處理殼體(1)外部，且分別與所述第一鉑金陽電極板(3)和所述第一鉑金陰電極板(4)電連接。

3.根據權利要求1所述的一種樣品前處理裝置，其特征在于，所述收集腔(12)包括陰離子收集腔(121)和陽離子收集腔(122)，所述收集液進口(103)包括第一收集液進口(1031)和第二收集液進口(1032)，所述收集液出口(104)包括第一收集液出口(1041)和第二收集液出口(1042)；

所述半透膜(2)包括：間隔設置的第一半透膜(21)和第二半透膜(22)，所述第一半透膜(21)和所述第二半透膜(22)之間的空間形成所述樣品腔(11)，所述處理殼體(1)和所述第一半透膜(21)之間的空間形成陰離子收集腔(121)，第一收集液進口(1031)和所述第一收集液出口(1041)均與所述陰離子收集腔(121)連通，所述處理殼體(1)和所述第二半透膜(22)之間的空間形成陽離子收集腔(122)，所述第二收集液進口(1032)和所述第二收集液出口(1042)均與所述陽離子收集腔(122)連通；

所述陰離子收集腔(121)內部設有陰離子交換膜(6)和第二鉑金陽電極板(7)，所述陰離子交換膜(6)靠近所述第一半透膜(21)設置，所述陽離子收集腔(122)內部設有陽離子交換膜(8)和第二鉑金陰電極板(9)，所述陽離子交換膜(8)靠近所述第二半透膜(22)布置；

還包括第二恒電流源(10)，所述第二恒電流源(10)設置在所述處理殼體(1)外部，且分別與所述第二鉑金陽電極板(7)和所述第二鉑金陰電極板(9)電連接。