[發(fā)明專利]基于擊穿時(shí)刻和擊穿電壓判斷老煉飽和的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210086212.0 | 申請(qǐng)日： | 2022-01-25 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN114384411A | 公開（公告）日： | 2022-04-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 李世民;江希茜;李鎮(zhèn)廷;楊威;杜昭啟;張潮海 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 南京航空航天大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01R31/327 | 分類號(hào)： | G01R31/327;G01R31/12;G01R29/12 |
| 代理公司： | 武漢維盾知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 42244 | 代理人： | 彭永念 |
| 地址： | 210001 江*** | 國(guó)省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 擊穿 時(shí)刻 電壓 判斷 飽和 方法 | ||
1.一種基于擊穿時(shí)刻和擊穿電壓判斷老煉飽和的方法，其特征是，它包括如下步驟：
S1，測(cè)量，在老煉過程中測(cè)量擊穿時(shí)刻電壓或電場(chǎng)強(qiáng)度波形；
S2，提取數(shù)值，從擊穿電壓或擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度波形中提取擊穿時(shí)刻和擊穿電壓或擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度數(shù)值；
S3，描圖，描繪擊穿時(shí)刻和擊穿電壓或擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度隨擊穿次數(shù)的變化圖；
S4，判斷是否老煉，當(dāng)擊穿時(shí)刻呈逐漸減小趨勢(shì)，擊穿電壓或擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度呈逐漸升高趨勢(shì)，表明老煉尚未飽和，應(yīng)當(dāng)繼續(xù)老煉；
S5，停止老煉，當(dāng)擊穿時(shí)刻在一定范圍內(nèi)波動(dòng)，擊穿電壓或擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度也在一定范圍內(nèi)波動(dòng)，表明擊穿達(dá)到飽和階段，老煉可以停止。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于擊穿時(shí)刻和擊穿電壓判斷老煉飽和的方法，其特征是：在S2中，擊穿時(shí)刻和擊穿電壓或擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度數(shù)據(jù)用擊穿電壓或擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度波形中即時(shí)獲取。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于擊穿時(shí)刻和擊穿電壓判斷老煉飽和的方法，其特征是：通過即時(shí)獲取的擊穿時(shí)刻和擊穿電壓或擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度數(shù)據(jù)，即時(shí)判斷老煉是否達(dá)到飽和階段。
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G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置；電故障的探測(cè)裝置；以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試，例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試；測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
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G01R31-24 .放電管的測(cè)試
